SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > プロフィール > 石井 真史

石井 真史
Address
305-0044 茨城県つくば市並木1-1 [アクセス]
  • 論文・発表

[研究論文] |[書籍] |[会議録] |[口頭発表] |[特許]

研究論文 TSV

2018
  1. Fengniu Lu, Izabela Osica, Keita Hagiwara, Michito Yoshizawa, Masashi Ishii, Yoshiaki Chino, Kazuchika Ohta, Kinga Ludwichowska, Krzysztof Jan Kurzydłowski, Shinsuke Ishihara, Takashi Nakanishi. Supercooling of functional alkyl-π molecular liquids. Chemical Science. 9 [33] (2018) 6774-6778 10.1039/c8sc02723d
2017
  1. Fengniu Lu, Tomohisa Takaya, Koichi Iwata, Izuru Kawamura, Akinori Saeki, Masashi Ishii, Kazuhiko Nagura, Takashi Nakanishi. A Guide to Design Functional Molecular Liquids with Tailorable Properties using Pyrene-Fluorescence as a Probe. Scientific Reports. 7 [1] (2017) 10.1038/s41598-017-03584-1
  2. 石井 真史. MI^2I(情報統合型物質・材料開発イニシアティブ)チュートリアルセミナー第2回開催報告. The Japan Society for Industrial and Applied Mathematics Online Journal. Online Journ [G1703A] (2017) 99999-99999
  3. 石井 真史. MI^2I(情報統合型物質・材料開発イニシアティブ)チュートリアルセミナー第4回開催報告. The Japan Society for Industrial and Applied Mathematics Online Magazine. Online Journ [G1703C] (2017) 99999-99999
  4. Masashi Ishii, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Dimerization of emission centers in Eu-doped GaN red light-emitting diode: cooperative charge capturing using valence states coupling. Journal of Physics: Condensed Matter. 29 [2] (2017) 025702 10.1088/0953-8984/29/2/025702
2016
  1. 石井 真史. 「光らなかった」過程を測る. OYO BUTURI. 85 [3] (2016) 223-227
  2. Masashi Ishii, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Trapping of injection charges in emission centers of GaN:Eu red LED characterized with 1/fnoise involved in forward current. Japanese Journal of Applied Physics. 55 [1] (2016) 015801 10.7567/jjap.55.015801
2014
  1. Masashi Ishii. Time-resolved analysis of charge responses determining luminescence properties. Journal of Materials Research. 29 [20] (2014) 2366-2373 10.1557/jmr.2014.252
  2. Masashi Ishii, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Enhancement in light efficiency of a GaN:Eu red light-emitting diode by pulse-controlled injected charges. Applied Physics Letters. 105 [17] (2014) 171903 10.1063/1.4900840
  3. Masashi Ishii, Iain F. Crowe, Matthew P. Halsall, Andrew P. Knights, Russell M. Gwilliam, Bruce Hamilton. Luminescence quenching of conductive Si nanocrystals via “Linkage emission”: Hopping-like propagation of infrared-excited Auger electrons. Journal of Applied Physics. 116 [6] (2014) 063513 10.1063/1.4893029
  4. Masashi Ishii, Atsushi Koizumi, Yoshikazu Takeda, Yasufumi Fujiwara. Discrimination between energy transfer and back transfer processes for GaAs host and Er luminescent dopants using electric response analysis. Journal of Applied Physics. 115 [13] (2014) 133510 10.1063/1.4870808
  5. Masashi Ishii, Iain F. Crowe, Matthew P. Halsall, Andrew P. Knights, Russell M. Gwilliam, Bruce Hamilton. Electrical observation of non-radiative recombination in Er doped Si nano-crystals during thermal quenching of intra-4f luminescence. Japanese Journal of Applied Physics. 53 [3] (2014) 031302 10.7567/jjap.53.031302
2013
  1. Masashi Ishii, Brian Towlson, Susumu Harako, Xin-Wei Zhao, Shuji Komuro, Bruce Hamilton. Roles of Electrons and Holes in the Luminescence of Rare-Earth-Doped Semiconductors. Electronics and Communications in Japan. 96 [11] (2013) 1-7 10.1002/ecj.11537
  2. Masashi Ishii, Iain F. Crowe, Matthew P. Halsall, Bruce Hamilton, Yongfeng Hu, Tsun-Kong Sham, Susumu Harako, Xin-Wei Zhao, Shuji Komuro. Atomic-scale distortion of optically activated Sm dopants identified with site-selective X-ray absorption spectroscopy. Journal of Applied Physics. 114 [13] (2013) 133505 10.1063/1.4824375
  3. Masashi Ishii, Brian Towlson, Susumu Harako, Xin-wei Zhao, Shuji Komuro, Bruce Hamilton. Charge Propagation Dynamics in Temperature Quenching of Sm-Doped TiO2: Impedance Spectroscopy of Release Processes of Trapped Charges Determining Luminescence Intensity. Japanese Journal of Applied Physics. 52 [2R] (2013) 025601 10.7567/jjap.52.025601
2012
  1. Masashi Ishii, Iain F. Crowe, Matthew P. Halsall, Andrew P. Knights, Russell M. Gwilliam, Bruce Hamilton. Investigation of the thermal charge “trapping-detrapping” in silicon nanocrystals: Correlation of the optical properties with complex impedance spectra. Applied Physics Letters. 101 [24] (2012) 242108 10.1063/1.4772475
  2. M. Ishii, S. Harako, X. Zhao, S. Komuro, B. Hamilton. Observation of charge transfer process for optical emission of rare-earth dopant using electric probing technique. Journal of Luminescence. 132 [12] (2012) 3129-3132 10.1016/j.jlumin.2011.12.041
  3. Masashi ISHII. Complex Impedance Spectroscopy in Over Thousand Degree Centigrade Region Using Flame ^|^mdash; A New Technique for Characterization of Physical and Chemical Properties in High Temperature Region ^|^mdash;. BUNSEKI KAGAKU. 61 [10] (2012) 827-832 10.2116/bunsekikagaku.61.827
  4. Masashi Ishii, Brian Towlson, Susumu Harako, Xin-Wei Zhao, Shuji Komuro, Bruce Hamilton. The Roles of Electrons and Holes in Luminescence of Rare-earth Doped Semiconductors. IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems. 132 [8] (2012) 1255-1260 10.1541/ieejeiss.132.1255
  5. Masashi ISHII. Development of Surface Dielectric Relaxation Measurement Technique and Its Application to Non-destructive Evaluation of Oil Degraded Commercial Rubber. BUNSEKI KAGAKU. 61 [5] (2012) 403-409 10.2116/bunsekikagaku.61.403
  6. Masashi Ishii, Brian Towlson, Nigel Poolton, Susumu Harako, Xinwei Zhao, Shuji Komuro, Bruce Hamilton. Effects of oxidization and deoxidization on charge-propagation dynamics in rare-earth-doped titanium dioxide with room-temperature luminescence. Journal of Applied Physics. 111 [5] (2012) 053514 10.1063/1.3691241
2011
  1. Masashi Ishii, Susumu Harako, Xinwei Zhao, Shuji Komuro, Bruce Hamilton. Charge propagation dynamics at trapping centers that induce the luminescence of rare-earth dopants in wide-gap materials. Applied Physics Letters. 99 [10] (2011) 101909 10.1063/1.3636393
  2. 石井 真史. 誘電緩和を用いた高分子表面の動力学分析. 電気学会論文誌 基礎・材料・共通部門誌. 131 [3] (2011) 185-191
2008
  1. Masashi Ishii, Bruce Hamilton, Nigel Poolton. Imaging of charge trapping in distorted carbon nanotubes by x-ray excited scanning probe microscopy. Journal of Applied Physics. 104 [10] (2008) 103535 10.1063/1.3029725
  2. Masashi Ishii, Tomoko Yoshida, Kenji Sakurai. X-ray excited 3.2 eV luminescence from amorphous silica: radiative electron relaxation through an unidentified centre and its thermal switching. Journal of Physics: Condensed Matter. 20 [25] (2008) 255249 10.1088/0953-8984/20/25/255249
  3. Tadashi Matsushita, Yasuhiro Niwa, Yasuhiro Inada, Masaharu Nomura, Masashi Ishii, Kenji Sakurai, Etsuo Arakawa. High-speed x-ray reflectometory in multiwavelength-dispersive mode. Applied Physics Letters. 92 [2] (2008) 024103 10.1063/1.2833690
2007
  1. 石井 真史. 静電容量・静電気力による局在電子サイトの選択X線分析. 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌). 127 [9] (2007) 1334-1339
  2. M. Ishii, B. Hamilton, N. R. J. Poolton, N. Rigopoulos, S. De Gendt, K. Sakurai. Nanometer scale x-ray absorption spectroscopy and chemical states mapping of ultra thin oxides on silicon using electrostatic force microscopy. Applied Physics Letters. 90 [6] (2007) 063101 10.1063/1.2437073
2006
  1. Akira Saito, Junpei Maruyama, Ken Manabe, Katsuyuki Kitamoto, Koji Takahashi, Kazuhiro Takami, Makina Yabashi, Yoshihito Tanaka, Daigo Miwa, Masashi Ishii, Yasumasa Takagi, Megumi Akai-Kasaya, Shik Shin, Tetsuya Ishikawa, Yuji Kuwahara, Masakazu Aono. Development of a scanning tunneling microscope forin situexperiments with a synchrotron radiation hard-X-ray microbeam. Journal of Synchrotron Radiation. 13 [2] (2006) 216-220 10.1107/s0909049506001622
  2. Akira Saito, Junpei Maruyama, Ken Manabe, Katsuyuki Kitamoto, Koji Takahashi, Kazuhiro Takami, Shinji Hirotsune, Yasumasa Takagi, Yoshihito Tanaka, Daigo Miwa, Makina Yabashi, Masahi Ishii, Megumi Akai-Kasaya, Shik Shin, Tetsuya Ishikawa, Yuji Kuwahara, Masakazu Aono. Scanning Tunneling Microscopy Combined with Hard X-ray Microbeam of High Brilliance from Synchrotron Radiation Source. Japanese Journal of Applied Physics. 45 [3B] (2006) 1913-1916 10.1143/jjap.45.1913

書籍 TSV

会議録 TSV

2018
  1. DIEB MOUSTAFA Thaer, OKA Hiroyuki, ISHII Masashi. Linking polymer names abbreviation to their definition in related scientific documents. Third International Workshop on SCIentific DOCument Analysis (SCIDOCA2018) , 9999-1-9999-6
  2. 岡 博之, 進藤 裕之, 後藤 啓介, 松本 裕治, 吉澤 篤志, 桑島 功, 石井 真史. Automatic extraction of polymer data from tables in xml. Third International Workshop on SCIentific DOCument Analysis (SCIDOCA2018) , paper_4_1-paper_4_8
2012
  1. M. Ishii, S. Harako, X. Zhao, S. Komuro, B. Hamilton. Observation of charge transfer process for optical emission of rare-earth dopant using electric probing technique. JOURNAL OF LUMINESCENCE 2012, 3129-3132
2009
  1. Matsushita, Etsuo Arakawa, Yasuhiro Niwa, Yasuhiro Inada, Tadashi Hatano, Tetsuo Harada, Yasuo Higashi, Keiichi Hirano, SAKURAI, Kenji, ISHII, Masashi, NOMURA Masaharu. A simultaneous multiwavelength dispersive X-ray reflectometer for time-resolved reflectometry. The European Physical Journal - Special Topics 2009, 113-120
  2. ISHII, Masashi, IKEDA, Naoki, TSUYA, Daiju, SAKURAI, Kenji. Y2O3 Thin Film Deposited by Two-step Process and Its Resistance to Halogen Plasma. Proceedings of 2008 E-MRS 2009, 205-212
2007
  1. 石井 真史, Aiko Nakao, 櫻井 健次. 埋もれた界面の化学反応を利用した電子デバイスへのX線反射率測定の応用. JOURNAL OF PHYSICS: CONFERENCE SEIES 2007, 012014-1-012014-5
  2. S. Bernardini, ISHII, Masashi, E. Whittaker, B. Hamilton, J.W. Freeland, N.R.J. Pooltond, S. De Gendt. Nanoscale imaging and X-ray spectroscopy of electrically active defects in ultra thin dielectrics on silicon. MICROELECTRONIC ENGINEERING 2007, 2286-2289
  3. SAKURAI, Kenji, MIZUSAWA, Tazuko, ISHII, Masashi, kobayashi syu-nichi, Yasuhiko Imai. Instrumentation for X-ray reflectivity in micro area: present status and future outlook. Journal of Physics : Conference Series 2007, 012001-1-012001-7
  4. ISHII, Masashi, N. Rigopoulos, N. R. J. Poolton, Bruce Hamilton. X-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures. AIP Conference Proceedings 2007, 761-763
  5. ISHII, Masashi, SAKURAI, Kenji, N. R. J. Poolton, Bruce Hamilton. Photo excited scanning probe microscopy for buried nano structure analyses. TRANSACTIONS OF THE MATERIALS RESEARCH SOCIETY OF JAPAN 2007, 243-246
  6. Tadashi Matsushita, Yasuhiro Inada, Yasuhiro Niwa, ISHII, Masashi, SAKURAI, Kenji, Masaharu Nomura. Curved crystal X-ray optics for a new type of high speed, multiwavelength dispersive X-ray reflectometer. JOURNAL OF PHYSICS: CONFERENCE SERIES 2007, 012021-1-012021-5
  7. SAKURAI, Kenji, MIZUSAWA, Tazuko, ISHII, Masashi. Recent Novel X-ray Reflectivity Techniques:Moving Towards Quicker Measurement to Observe Changes at Surface and Buried Interfaces. TRANSACTIONS OF THE MATERIALS RESEARCH SOCIETY OF JAPAN 2007, 181-186
2006
  1. ISHII, Masashi, N. Rigopoulos, N. Poolton, Bruce Hamilton. X-ray absorption microspectroscopy using Kelvin force microscopy with an x-ray source. PHYSICA B-CONDENSED MATTER 2006, 950-954

口頭発表 TSV

2018
  1. 石井 真史, 小澤 哲也, 紺谷 貴之. 非負最小絶対値法による多成分試料のX線回折のロバスト解析. 2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会. 2018
  2. 鈴木 晃, 石井 真史. Constructing a “Unit dictionary" from scientific articles. Third International Workshop on SCIentific DOCument Analysis (JSAI International Symposia on AI). 2018
  3. 石井 真史, 小澤 哲也, 紺谷貴之. データベースを利用した知識糾合による客観・高速X線回折解析. 第54回X線分析討論会. 2018
  4. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. 畳み込みニューラルネットワークを用いた電子回折パターンの分類. 第79回 応用物理学会秋季学術講演会. 2018
  5. 石井 真史, 小澤 哲也, 紺谷 貴之. データベースを活用した多成分試料のX線回折の高速客観分析. 2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会. 2018
  6. 石井 真史. データベースを活用したX線分析:リポジトリデータによる計測インフォマティクス. 放射光利用におけるマテリアルズ・インフォマティクスの展開. 2018
  7. 桑島 功, 細谷 順子, 石井 真史, 徐 一斌. NIMS物質・材料データベース(MatNavi)とその他の材料情報. 2018年度公益社団法人日本金属学会関東支部講習会. 2018
  8. 石井 真史, 小澤哲也, 紺谷貴之. データベースを活用した多成分試料のX線回折の高速客観分析. 第10回放射光学会若手研究会. 2018
  9. ISHII, Masashi. Model-free determination of interatomic distance by using a new mathematical XAFS oscillation analysis. The 17th International Conference on X-ray Absorption Fine Struc. 2018
  10. 石井 真史. マテリアルズ・インフォマティクスのためのデータ駆動型リポジトリ構築に向けて. Japan Open Science Summit 2018. 2018
  11. 石井 真史. 物質・材料研究におけるテキストデータマイニング:効率的文献データ利活用. JAPAN OPEN SCIENCE SUMMIT 2018. 2018
  12. 桑島 功, 細谷 順子, 徐 一斌, 石井 真史. 高分子データベース(PoLyInfo)とNMRデータ. 第12回分析技術セミナー 「先進材料とNMR分析」. 2018
  13. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Diffraction patternへの機械学習の適用. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018
  14. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Diffraction patternへの機械学習の適用. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018
  15. 石井 真史. XAFS解析における数理学的位相補正:モデルフリー原子間距離決定法. 2018年 第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018
  16. 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Approaches to analyze data acquired by recent (S)TEM. 共用・計測合同シンポジウム2018. 2018
  17. 石井 真史. X線吸収分光とX線回折における数理的解析:「計測インフォマティクス」の取り組み. 第3回QST播磨・機械学習研究会. 2018
  18. 石井 真史. XAFS解析における数理学的位相補正:化学無頓着による化合物原子間距離の決定. 第31回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2018
  19. 石井 真史. XAFS解析における数理学的位相補正:物理モデルを用いない原子間距離の決定. 第31回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2018
2016
  1. ISHII, Masashi, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Dimerized emission centers in Eu-doped GaN red light-emitting diode: cooperative charge capturing and multiple satellite emission of Eu emission centers. 2016 MRS Fall Meeting & Exhibit . 2016
  2. 石井 真史, 小泉淳, 藤原康文. GaN:Eu赤色LEDの発光中心の二量化:高調波成分分析を使ったEu-Eu結合評価. 第77回応用物理学会秋季学術講演会. 2016
  3. 板倉 明子, 矢ヶ部 太郎, 石井 真史, 村瀬 義治, 土佐 正弘, 許 亜, 宮内 直弥, 吉田 肇, 間瀬 一彦, 久保 敦, 中野 武雄, 福谷克之. 材料およびその処理表面の吸着・脱離・透過測定装置開発に関する調査研究. 第7回TIAシンポジウム. 2016
  4. ISHII, Masashi, Ryo Yoshimatsu, HIROSAKI, Naoto, Koutoku Ohmi. Fluorescence lifetime fluctuation: A new approach to photoexcitation/relaxation mechanisms. International Conference on Rare Earths. 2016
  5. ISHII, Masashi, Ryo Yoshimatsu, HIROSAKI, Naoto, Koutoku Ohmi. Delayed Eu2+ excitaiton in (Sr, Ba)Al2Si3O4N4:Eu2+: Excitation energy transfer from host material to emission centers discovered with fluorescence lifetime fluctuation . International Conference on Rare Earths . 2016
  6. 石井 真史. 「ゆらぎ」で知る発光の機構. 第363回蛍光体同学会講演会. 2016
  7. 石井 真史, 小泉淳, 藤原康文. GaN:Eu赤色LED発光中心の三次元マッピングによる解析. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016
  8. 石井 真史, 吉松良, 廣崎 尚登, 大観光徳. 蛍光寿命ゆらぎ:蛍光体発光機構解明の新しいアプローチ. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016
2015
  1. ISHII, Masashi. Optoelectronic communications with GaN:Eu red LED: Messages from atomic scale emission centers. Luminescent Materials 2015. 2015
  2. ISHII, Masashi, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Gap between energetically and optically favorable emission centers in GaN:Eu red LED: Necessity of local distortion control. ISGN-6. 2015
  3. ISHII, Masashi, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Boost in intensity of GaN:Eu red LED by motion control of injection charges and its application to diagnosis of Eu emission centers. ISGN-6. 2015
  4. 石井 真史, 小泉淳, 藤原康文. GaN:Eu赤色LEDのノイズ分析:発光中心の電荷捕獲特性を知る新しいアプローチ. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015
  5. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. ステップ光を使ったP添加Siナノ結晶の発光効率の倍増:発光と電導の時間的分離. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015
  6. 石井 真史, 小泉淳, 藤原康文. GaN:Eu赤色LEDの強発光中心の選択解析:サイト選択型PDES法による注入電荷捕獲特性の評価. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015
  7. ISHII, Masashi, Atsushi Koizumi, Yasufumi Fujiwara. Brightening GaN:Eu red LED by back-and-force motion of injection charges and its applied to site-selective analyses of emission centers. ICOM2015. 2015
  8. 石井 真史, 渕 真悟, 竹田美和. 「光らなかった」過程から観た希土類添加ガラス:欠陥‐希土類相互作用によるエネルギー損失の直接観測. 第32回希土類討論会. 2015
  9. Iain F Crowe, ISHII, Masashi, Matthew P Halsall, R M Gwilliam, A P Knights, Bruce Hamilton. Electrical activation of confined phosphorus donors in size controlled silicon nanocrystals. E-MRS. 2015
  10. 石井 真史, 小泉淳, 藤原康文. GaN:Eu赤色LEDの発光効率改善法:パルス駆動による注入電荷共振. 第62回応用物理学会春季学術講演会. 2015
  11. 石井 真史, 渕 真悟, 竹田美和. 「光らなかった」過程から観た希土類添加ガラス:欠陥電荷の局在/非局在と消光の関係. 第62回応用物理学会春季学術講演会. 2015
2014
  1. ISHII, Masashi. Charge transfer dynamics of “Bright” and “Dark” Si-nc’s. Workshop on Advancement of Group IV Nanostructures Nanophotonics. 2014
  2. 石井 真史, 渕 真悟, 竹田 美和. 希土類添加ガラスのマイクロ波応答:「光らなかった」過程の動的分析. 2014年 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014
  3. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. Si-nc:Pにおける赤外励起オージェ電子放出と熱励起放出の相補性. 2014年 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014
  4. ISHII, Masashi. Selective atomic-scale-evaluation of luminescent rare-earth dopants: Site-selective x-ray absorption fine structure using x-ray excited optical luminescence (XEOL-XAFS). 19th International Conference on Ternary and Multinary Compounds. 2014
  5. 石井 真史, 小泉 淳, 竹田美和, 藤原康文. 半導体に添加したErへのエネルギー伝搬・逆伝搬の実観測. 第31回希土類討論会. 2014
  6. ISHII, Masashi, Atsushi Koizumi, Yoshikazu Takeda, Yasufumi Fujiwara. Energy transfer and back transfer between GaAs host and luminescent Er dopants discriminated with electric response measurement. 5th International Workshop on Photoluminescence in Rare-Earths. 2014
  7. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. P添加Siナノ結晶の赤外励起オージェ電子放出と発光特性への影響. 第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014
  8. 石井 真史, 小泉 淳, 竹田美和, 藤原康文. Er,O共添加GaAsのエネルギー伝搬/逆伝搬の個別観測. 第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014
2013
  1. ISHII, Masashi. Atomic-scale distortion of optically active Sm dopants determined by site-selective X-ray absorption spectroscopy. International Workshop on Luminescent Materials 2013. 2013
  2. ISHII, Masashi. Inclusive and exclusive analyses of non-radiative sites/processes in rare-earth doped semiconductors: Unignorable quenching factors behind luminescence. NSF Workshop on US-Japan Frontiers in Novel Photonic-Magnetic De. 2013
  3. ISHII, Masashi. Time-resolved analysis of charge responses determining luminescence properties. 2013 JSAP-MRS Joint Symposia. 2013
  4. 石井 真史, Yongfen Hu, Tsun-Kong Sham, 原子 進, 趙 新為, 小室 修二, Bruce Hamilton. サイト選択X線吸収分光を使った 光るSm添加物の局所歪の特定. 第30回希土類討論会. 2013
  5. 石井 真史. 希土類添加半導体の発光機構解明へ少し変わったアプローチ X線で見えるもの 電気測定で分かること. Mesoscopic Materials Research Laboratory Seminar. 2013
  6. 石井 真史, Bruce Hamilton. 陽極酸化アルミナにおける自己電荷再配分とそれによる発光促進. 2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会. 2013
  7. 石井 真史, Y. Hu, T-K. Sham, 原子 進, 趙 新為, 小室修二, B. Hamilton. サイト選択X線吸収分光を使った 光るSm添加物の局所構造歪の特定. 2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会. 2013
2012
  1. ISHII, Masashi. Nano-probing of the surface excited by keV photon: What should we detect for high spatial resolution?. TNT2012. 2012
  2. ISHII, Masashi, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. Charge propagation dynamics for energy transfer in Er doped nc-Si observed with electric measurements. ICOM 2012. 2012
  3. ISHII, Masashi. Surface Dielectric Relaxation (SDR) toward electromechanical analyses of polymer brushes. Max-Planck Institute seminar. 2012
  4. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. nc-Si:Erの電荷伝搬解析によるエネルギー伝達過程の検討. 第29回希土類討論会. 2012
  5. 石井 真史, Brian Towlson, 原子 進, 趙 新為, 小室修二, Bruce Hamilton. TiO2:Smの温度消光過程の電荷伝搬解析による検討. 第29回希土類討論会. 2012
  6. 石井 真史. 電荷移動ダイナミクスでみる希土類添加半導体の発光・消光過程 ‐電気測定で発光のメカニズムを探る−. 酸化物EL素子研究会・平成24年度第一回研究会. 2012
  7. ISHII, Masashi, Susumu Harako, Xin Wei Zhao, Shuuji Komuro, Bruce Hamilton. Thermal quenching mechanism of Sm doped TiO2 revealed from charge propagation analyses with electric measurement techniques. Photoluminescence in Rare-earth: Photonic Materials and Devices. 2012
  8. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. 光励起誘電緩和法(7):電荷伝搬分析を使ったnc-Si発光におけるEr添加効果の検討. 2012年春季 第59回 応用物理学関係連合講演会. 2012
  9. 石井 真史, Brian Towlson, 原子 進, 趙 新為, 小室修二, Bruce Hamilton. 光励起誘電緩和法(5):TiO2:Smの温度消光における電荷の散逸過程. 2012年春季 第59回 応用物理学関係連合講演会. 2012
  10. 石井 真史, Iain Crowe, Matthew Halsall, Andrew Knights, Russell Gwilliam, Bruce Hamilton. 光励起誘電緩和法(6):電荷伝搬分析を使ったnc-Si:Erの発光機構の検討. 2012年春季 第59回 応用物理学関係連合講演会. 2012
2011
  1. ISHII, Masashi. Charge propagation dynamics in rare-earth doped semiconductors:. Invite Seminar University of Latvia. 2011
  2. 石井 真史. 表面誘電緩和法による天然ゴムの油劣化評価 . 日本ゴム協会2011年年次大会. 2011
  3. 石井 真史. 表面誘電緩和法(2):複素インピーダンスによる表面状態分析と複素誘電率による状態遷移分析. レオロジー学会第38年会. 2011
  4. 石井 真史. 希土類添加半導体の電荷伝搬ダイナミクスの光励起誘電緩和法による分析:励起から発光まで. Global COE Seminar. 2011
  5. 石井 真史, 原子 進, 趙 新為, 小室修二, Bruce Hamilton. 希土類添加半導体の電荷伝搬・発光過程の光励起誘電緩和法による分析. 第28回希土類討論会. 2011
  6. 石井 真史, 原子 進, 趙 新為, 小室 修二, ブルース ハミルトン. 光励起誘電緩和法(4):TiO2:Sm2O3中の電荷捕獲によるPL発光増強. 2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011
  7. 石井 真史, 原子 進, 趙 新為, 小室 修二, ブルース ハミルトン. 光励起誘電緩和法(3):TiO2:Sm2O3の熱活性化に対応する電荷捕獲準位の存在. 2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011
  8. 石井 真史. 表面誘電緩和法 原理・応用例とこれから. 材料フォーラムソフトマテリアル分科会「ソフトマテリアルの表面・界. 2011
2010
  1. ISHII, Masashi. Dynamic analysis of polyimide surface with surface dielectric relaxation method. International conference on polymer analysis and characterizatio. 2010
  2. ISHII, Masashi. Novel nanoscience in the Soft-X-ray region with SR-SPM technique-Strategy for micro-spectroscopy of active nano-structures. Versatile Soft X-ray Beamline Workshop. 2010
  3. 石井 真史. 表面誘電緩和法によるゴム表面・準表面成分の分離抽出. 第22回エラストマー討論会. 2010
  4. 石井 真史. 表面誘電緩和法:高分子表面の動力学のための誘電緩和測定法の開発. 第58回レオロジー討論会. 2010
  5. 石井 真史, 原子 進, 趙 新為, 小室 修二. 光励起誘電緩和法(2):紫外光を使ったステップ応答特性と電荷移動過程との相関. 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. 2010
  6. 石井 真史. 誘電緩和を用いた高分子表面の動力学分析. 平成22年電気学会基礎・材料・共通部門大会. 2010
  7. 石井 真史. 表面誘電緩和法(1)− 表面高分子鎖の新しい評価法の開発. 日本ゴム協会 2010年年次大会. 2010
  8. 石井 真史. 表面誘電緩和法(2)−ジエン系ゴムへの適用. 日本ゴム協会 2010年年次大会. 2010
  9. 石井 真史, ブルース ハミルトン, サンジット デシ. 時分割EFMによるSiGeドットからの光誘起正孔移動過程の分析:界面捕獲を考慮したシミュレーション解析. 第57回応用物理学関係連合講演会. 2010
  10. 石井 真史, 原子 進, 趙 新為, 小室修二. 光励起誘電緩和法:手法開発とSm2O3添加TiO2への応用. 第57回応用物理学関係連合講演会. 2010
  11. 石井 真史. 放射光アシストプローブ顕微鏡:静電容量・静電気力を使った化学マッピングと吸収分光. 物性研短期研究会「顕微分光とナノサイエンスの発展」. 2010
  12. 石井 真史. 固体最表面の誘電特性の測定. 光・量子デバイス研究会 先端量子ビームとナノ応用. 2010
2009
  1. ISHII, Masashi. Photon pumped electric force microscopy of Ge quantum dots. Forthcoming PSI Workshop: Photon Probes for Nanoscience. 2009
  2. 石井 真史, B. Towlson, E. Whittaker, S. S. Dhesi, B. Hamilton. 極微構造の元素イメージングのための二光子照射による内殻励起光イオン化制御. 第45回X線分析討論会. 2009
  3. 石井 真史, Sarnjeet S. Dhesi, Bruce Hamilton. 静電気力プローブ顕微鏡による電荷移動の動的観測:SiGeドット閉込め正孔の光誘起移動. 2009年秋季 第70回 応用物理学会 学術講演会. 2009
  4. ISHII, Masashi, Brian Towlson, Eric Whittaker, Sarnjeet Dhesi, Bruce Hamilton. Study of double-photon interaction for a single atom x-ray absorption spectroscopy. XAFS 14 Conference. 2009
  5. 石井 真史, 池田 直樹, 津谷 大樹, 櫻井 健次. 二段階プロセスで成膜したイットリア薄膜の結晶性とフッ素系ハロゲンプラズマ耐性. 第26回希土類討論会. 2009
  6. 石井 真史, 池田 直樹, 津谷 大樹, 櫻井 健次. 二段階プロセスによるY2O3薄膜の堆積とそのハロゲンプラズマ耐性. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009
  7. 石井 真史, 櫻井 健次, Bruce Hamilton. Si(100)基板上のGeドットの静電気力プローブ顕微鏡観測. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009
2008
  1. ISHII, Masashi, Eric Whittaker, Brian Towlson, SAKURAI, Kenji, Bruce Hamilton. Local distortion analyses of CNT by scanning probe microscopy with x-ray excitation source: Visualization of electron traps on distorted CNT. 2008 MRS Fall Meeting. 2008
  2. 中尾愛子, 石井 真史, 孫 珍永, 町田雅武, 渡辺義夫. SPring-8硬X線光電子分光によるメモリーデバイスの埋もれた界面化学反応の解明. 第69回応用物理学会学術講演会. 2008
  3. ISHII, Masashi, Nakao Aiko, SAKURAI, Kenji. Low Temperature Chemical Reaction at Gold/yttria Interface Characterized by Dielectric Relaxation Measurement. 2008 International Materials Research Conference. 2008
  4. 石井 真史, 中尾愛子, 櫻井 健次. Au/Y2O3界面の低温化学反応の誘電緩和による解析. 第25回希土類討論会. 2008
  5. 石井 真史, 中尾愛子, 櫻井 健次. 金属/Y203界面における低温化学反応:誘電緩和による評価. 2008年春季 第55回応用物理学関係連合講演会. 2008
  6. 石井 真史, 小向康夫, 森 嘉久, 財部健一, 櫻井 健次. 高圧下のα-FeSi2の電子状態および構造解析 (III):Si-Si結合の負の非線形圧縮. 2008年春季 第55回応用物理学関係連合講演会. 2008
  7. 松下 正, 荒川悦雄, 丹羽尉博, 稲田康宏, 石井 真史, 櫻井 健次, 野村昌治, 平野馨一. 鏡面X線反射強度曲線の時分割測定の開発. 日本物理学会第63回年次大会. 2008
  8. ISHII, Masashi, Nakao Aiko, SAKURAI, Kenji. Thermal and electric data writing into metal/Y2O3 interface: Variation of structure and electric properties by low dimensional reaction. MANA International Symposium 2008 & ICYS Workshop 2008. 2008
  9. 石井 真史. 界面ナノ化学反応の非破壊分析 構造変化・電子状態・化学状態の統合解析. 第三回ナノ機能組織化とその評価技術調査専門委員会および研究会. 2008
  10. 石井 真史, 櫻井 健次. X線反射率と電気測定による層構造の統合解析. 製鋼計測科学研究会第42回会議. 2008
2007
  1. ISHII, Masashi, Aiko Nakao, SAKURAI, Kenji. Observation of soft reaction at metal/oxide interface with X-ray reflectivity. ACSIN-9. 2007
  2. 石井 真史, 櫻井 健次. (4)等方圧縮下で伸びる化学結合はあるか?―高圧下のα鉄シリサイドのX線分析と理論予測. 製鋼計測化学研究会第41回会議. 2007
  3. 松下 正, 丹羽尉博, 稲田康宏, 石井 真史, 櫻井 健次, 野村昌治. X線鏡面反射強度曲線の時分割測定を目指した新しい測定法の開発. 物理学会第62回年次大会. 2007
  4. 石井 真史, 小向康夫, 森 嘉久, 財部健一. 高圧下の-FeSi2の電子状態および構造解析 (II):圧力下でのSi-Si結合の伸長. 第68回応用物理学会学術講演会. 2007
  5. 石井 真史, 中尾愛子, 櫻井 健次. 金属/ Y2O3界面化学反応過程の構造および化学分析. 第68回応用物理学会学術講演会. 2007
  6. 石井 真史. 埋もれた界面の化学反応を利用した電子デバイスへのX線反射率測定の応用. 埋もれた界面のX線・中性子線に関するワークショップ2007. 2007
  7. S. Bernardini, ISHII, Masashi, E. Whittaker, B. Hamilton, J.W. Freeland, S. De Gendt. Nanoscale Imaging and X-Ray Spectroscopy of Bound Charge in Ultra Thin Dielectrics on Silicon. Insulating Films on Semiconductors 2007. 2007
  8. 石井 真史, 櫻井 健次. 有機金属分解法によって作製したY2O3薄膜のX線反射率測定. 第24回希土類討論会. 2007
  9. 松下正, 稲田康宏, 丹羽尉博, 石井 真史, 櫻井 健次, 野村昌治. 湾曲結晶ポリクロメーターを用いた新しいタイプの波長分散X線反射率計. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  10. 石井 真史, 吉田朋子, 櫻井 健次. Si酸化物欠陥のX線励起可視発光分析. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  11. 石井 真史, 小向康夫, 森嘉久, 財部健一, 櫻井 健次. 高圧下のa-FeSi2の電子状態および構造解析. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  12. 櫻井 健次, 石井 真史. 走査プローブを使った名の空間分解能のX線吸収分光:誘電薄膜・ナノチューブの加工歪の微視分析. 日本学術振興会製鋼第19委員会製鋼計測化学研究会第39回会議. 2007
  13. 松下正, 稲田康宏, 丹羽尉博, 石井 真史, 櫻井 健次, 野村昌治, 飯田厚夫. 湾曲結晶ポリクロメーターを用いた新しい型の波長分散X線反射率測定法. 第20回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2007
2006
  1. 石井 真史. 放射光導入型プローブ顕微鏡によるナノX線分光. 「光・量子場が関わるナノサイエンステクノロジー」研究会. 2006
  2. 石井 真史, ブルース ハミルトン, N. R. J. プールトン. X線照射プローブ顕微鏡を使ったナノ空間分解化学状態分析. 日本分析化学会第55年会. 2006
  3. 石井 真史, N. R. J. プールトン, ブルース ハミルトン. ナノメートル顕微XAFS法X-EFMによる局所電場観測. 第9回XAFS討論会. 2006
  4. 石井 真史, ブルース ハミルトン, N. R. J. プールトン. 放射光励起プローブ顕微鏡で測定したX線吸収スペクトルに見られる疑似化学シフト. 第67回応用物理学会学術講演会. 2006
  5. 石井 真史. プローブ顕微鏡によるX線分析 - 生体機能性の応用に向けたナノスペクトロスコピーの試み -. 理研シンポジウム「第一回マルチビームテクノロジー 生命科学を目指. 2006
  6. ISHII, Masashi, N. Rigopoulos, N. R. J. Poolton, Bruce Hamilton. Photon introduction to electrostatic force microscope for nano-spectroscopy. NC-AFM 2006. 2006
  7. 石井 真史, ブルース ハミルトン. パルスレーザー光を使ったケルビンフォースの顕微時分割測定:Si酸化膜の電子捕獲過程の観測. 2006年春季 第53回応用物理学関係連合講演会. 2006
  8. 石井 真史, N. リゴポウロス, N. R. J. プールトン, ブルース ハミルトン. ケルビンフォース顕微鏡による高空間分解X線分光と化学状態マッピング. 第19回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2006

特許 TSV

登録特許
    公開特許
    1. 特開2014005979号 高温インピーダンス測定装置 (2014)
    2. 特開2011112467号 誘電特性の温度依存性測定方法と測定装置 (2011)
    3. 特開2011080820号 試料表面の誘電特性測定方法と測定装置 (2011)
    外国特許

      ▲ページトップへ移動