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著者名ISHII, Masashi, N. Rigopoulos, N. R. J. Poolton, Bruce Hamilton.
タイトルX-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures
(静電気力顕微鏡を使ったX線吸収顕微分光とその酸化Siナノ構造の化学状態分析への応用)
発表誌名AIP Conference Proceedings
発表年2007
言語English

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