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X-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures
(静電気力顕微鏡を使ったX線吸収顕微分光とその酸化Siナノ構造の化学状態分析への応用)

ISHII, Masashi, N. Rigopoulos, N. R. J. Poolton, Bruce Hamilton.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-27 01:13:48 +0900 更新時刻 :2017-03-17 03:13:10 +0900

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