- Address
- 305-0044 茨城県つくば市並木1-1 [アクセス]
研究内容
- Keywords
光電子分光、ナノ薄膜、断層解析、放射光、SPring-8
出版物原則として、2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- ブライク・アウレル・ミハイ, 二澤宏司, 吉川英樹, 福島整, 杤尾達紀, 大橋浩史, 重岡伸之, 伊藤嘉昭, 庄司孝, 江村修一. SPring-8でのW Lβ visible satelliteの観測実験について. X線分析の進歩. ()
- YOSHIKAWA, Hideki, FUKUSHIMA, Sei. An evaluation of the differential inelastic mean free path from REELS spectrum using monte carlo simulation : application to TiC. Surface Science. (1999)
- 早川優子, 古曳重美, ARAI, Masao, YOSHIKAWA, Hideki, FUKUSHIMA, Sei, 奥正興, 井地文也. Electronic structure and electrical properties of amorphous OsO2. Physical Review B. (1999)
会議録
- SUZUKI, Mineharu, HARADA, Yoshitomo, 上島 豊, MATSUNAMI, Shigeyuki, 後藤 敬典, YOSHIKAWA, Hideki. Application of Electronic Laboratory Notebook for Analysis Records in Materials Research. Journal of Surface Analysis. (2019) 188-189
- Mikiko Tanifuji, Asahiko Matsuda, Hideki Yoshikawa. Materials Data Platform - a FAIR System for Data-Driven Materials Science. Proceedings of the 2019 8th International Congress on Advanced Applied Informatics (IIAI-AAI). (2019) 10.1109/iiai-aai.2019.00206
- NAGATA, Takahiro, YAMASHITA, Yoshiyuki, YOSHIKAWA, Hideki, CHIKYOW, Toyohiro. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Study on High-k Dielectrics Based Resistive random access memory. ECS TRANSACTIONS. (2017) 39-47
口頭発表
- DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Heuristic data-driven spectral analysis for nanomaterial information embed in the background. Chinese Materials Conference 2022-2023. 2023
- DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. White electron beam technique in electron-beam based techniques. Surface Analysis Technology Conference 2023第四届表面分析技術研討会. 2023
- 町田惇, 永田 賢二, 村上諒, 篠塚 寛志, 庄野逸, 吉川 英樹, 岡田 真人. 層構造を対象としたXPSシミュレータによるベイズスペクトル推論. 日本物理学会2023年春季大会. 2023
その他の文献
- YOSHIKAWA, Hideki, HARA, Toru, 森田 秀和, 多持 隆一郎, 岩崎 富生, 谷本 明佳. Collaboration between Industry and Academia Laying Groundwork for Data-Driven Materials Development. Hitachi Review. (2019) 14-20
- YOSHIKAWA, Hideki. Results of Questionnaire Survey on Depth Profiling Performed in Surface Analysis Society of Japan. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2016) 98-110
- 吉川 英樹, 原 徹, 森田 秀和, 多持 隆一郎, 岩崎 富生, 谷本 明佳. データ駆動型の材料開発へ，産学の連携による基盤づくりを マテリアルズインフォマティクスの進展と先端計測技術への期待. Hitachi Review. (2018) 13-18
特許
- 特許第4900660号 Ｘ線集束素子及びＸ線照射装置 (2012)
- 特許第6432905号 リターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ (2018)
- 特許第5207271号 高温超伝導単結晶上での面内型ジョセフソン接合形成法 (2013)
- 特開2010232500号 固有ジョセフソントンネルデバイスの簡易作製法 (2010)
- 特開2009064880号 高温超伝導単結晶上での面内型ジョセフソン接合形成法 (2009)
- 特開2007165155号 帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 (2007)