材料研究における計測データのDX技術を実現するには，過去の他機関のデータを含めて，多くの機関の多様な計測装置で日々生成されるデータについて，図に示すように収集・変換・較正・検索・特徴量抽出・蓄積などの多段階層の複数の工程からなるワークフローを実現することが必要となる。しかもDX技術は，個人レベルに閉じた技術ではなく社会インフラの開かれた技術であるため，（１）属人性を排したワークフローの自動化や（２）ワークフローの多機関共用が要求される。NIMSでは，この要求に対して Research Data Express (RDE)というシステムをデータプラットフォーム DICE に構築し，国内の多数の研究機関で共用されている。そのRDEシステムでの特徴量抽出の例として，図にあるＸ線光電子(XPS)スペクトルから特徴量（ピークパラメータ）をベイズ情報量規準を用いて自動抽出する新機能が組み込まれて共用されている。