HOME > 口頭発表 > 書誌詳細X-ray absorption microspectroscopy with electrostatic force microscopy and its application to chemical states analyses of Si oxide nano structures(静電気力顕微鏡を使ったX線吸収顕微分光とその酸化Siナノ構造の化学状態分析への応用)ISHII, Masashi. XAFS13. 2006.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 11:53:59 +0900更新時刻: 2022-09-05 11:53:59 +0900