HOME > 口頭発表 > 書誌詳細X線鏡面反射強度曲線の時分割測定を目指した新しい測定法の開発(Development of a New X-ray Reflectometer for Time-Resolved X-Ray Reflectometory)松下 正, 丹羽尉博, 稲田康宏, 石井 真史, 櫻井 健次, 野村昌治. 物理学会第62回年次大会. 2007.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:15:24 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:58:41 +0900