HOME > 口頭発表 > 書誌詳細表面誘電緩和法(2):複素インピーダンスによる表面状態分析と複素誘電率による状態遷移分析(Surface dielectric relaxation (2): Surface state analyses by using complex impedance and surface states transition analyses with complex dielectric constant)石井 真史. レオロジー学会第38年会. 2011.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:52:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:05:06 +0900