研究内容
- Keywords
表面分析 表面電子分光 非弾性平均自由行程 分析化学
出版物原則として、2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- SHINOTSUKA, Hiroshi, TANUMA, Shigeo, Cedric J. Powell, Cedric J. Powell. Calculations of electron inelastic mean free paths. XIII. Data for 14 organic compounds and water over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 54 [5] (2022) 534-560
- 田沼 繁夫. 電子分光法における表面感度と検出深さ. 表面と真空. 65 [3] (2022) 102-108 10.1380/vss.65.102
- Hiroshi Shinotsuka, Shigeo Tanuma, Cedric J. Powell, Dave R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. XII. Data for 42 inorganic compounds over the 50 eV to 200 keV range with the full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 51 [4] (2019) 427-457 10.1002/sia.6598
書籍
- CJ powell. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Springer International Publishing, 2015, 111-140. 10.1007/978-3-319-24043-5_5
- 田沼 繁夫. 表面化学分析分析法の国際標準化(ISO/TC201). マイクロビームアナリシス・ハンドブック. , 2014, 608-619.
- TANUMA, Shigeo. Electron Attenuation Lengths. Surface Analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. , 2003, 259-294.
会議録
- S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kalpha. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. (2010) 012010-1-012010-6 10.1088/1757-899x/7/1/012010
- JIN, Hua, YOSHIKAWA, Hideki, IWAI, Hideo, TANUMA, Shigeo. Analysis of angular and energy dependences of reflection energy loss spectra on several semiconductors. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. (2009) 199-202
- YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 254-258
口頭発表
- DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Heuristic data-driven spectral analysis for nanomaterial information embed in the background. Chinese Materials Conference 2022-2023. 2023
- A. Jablonski, 田沼 繁夫, C. J. Powell. 電子の非弾性平均自由行程の一般式:JTP 式の開発. 第60回表面分析研究会. 2023
- DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. White electron beam technique in electron-beam based techniques. Surface Analysis Technology Conference 2023第四届表面分析技術研討会. 2023
その他の文献
- 田沼 繁夫. 表面分析の実際の現場では. 表面科学. 37 [4] (2016) 149-149 10.1380/jsssj.37.149
- H. Shinotsuka, S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. X. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 47 [12] (2015) 1132-1132 10.1002/sia.5861
- 田沼 繁夫. 第III章 資料編. マイクロビームアナリシス・ハンドブック. (2014) 656-657
特許
- 特許第6677943号 顕微分光データ測定装置および方法 (2020)
- 特許第5711552号 エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置 (2015)
- 特開2012160261号 エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置 (2012)
- 特開2017181192号 顕微分光データ測定装置および方法 (2017)
所属学会
日本表面科学会 日本分析化学会 表面分析研究会 日本真空協会
受賞履歴
- 日本表面科学会学会賞（2008）日本金属学会技術開発賞（2007） 日本表面科学会技術賞（2007） ()