HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(100)基板上のGeドットの静電気力プローブ顕微鏡観測(Observation of Ge dots on Si(100) substrate with electrostatic scanning probe microscopy)石井 真史, 櫻井 健次, Bruce Hamilton. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:46:20 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:28:38 +0900