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Si(100)基板上のGeドットの静電気力プローブ顕微鏡観測
(Observation of Ge dots on Si(100) substrate with electrostatic scanning probe microscopy)

石井 真史, 櫻井 健次, Bruce Hamilton.
2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-01-08 04:46:20 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:28:38 +0900

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