HOME > 会議録 > 書誌詳細金属/酸化膜界面への化学的なデーター書き込み:低次元界面反応のI-V測定による評価(Chemical Data Writing into Metal/oxide Interface: Characterization of Low Dimensional Interface Reactions by I-V Measurements)ISHII, Masashi, Aiko Nakao, SAKURAI, Kenji. Mater. Res. Soc. Symp. proc. 9999-9999. 2008.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-27 01:23:55 +0900更新時刻: 2017-03-17 03:24:24 +0900