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金属/酸化膜界面への化学的なデーター書き込み:低次元界面反応のI-V測定による評価
(Chemical Data Writing into Metal/oxide Interface: Characterization of Low Dimensional Interface Reactions by I-V Measurements)

2007 MRS Fall Meeting. 2007.

NIMS著者


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    作成時刻: 2022-09-05 12:00:36 +0900更新時刻: 2022-09-05 12:00:36 +0900

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