HOME > 口頭発表 > 書誌詳細金属/酸化膜界面への化学的なデーター書き込み:低次元界面反応のI-V測定による評価(Chemical Data Writing into Metal/oxide Interface: Characterization of Low Dimensional Interface Reactions by I-V Measurements)ISHII, Masashi. 2007 MRS Fall Meeting. 2007年11月26日-2007年11月30日.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 12:00:36 +0900 更新時刻: 2022-09-05 12:00:36 +0900