HOME > 口頭発表 > 書誌詳細二段階プロセスによるY2O3薄膜の堆積とそのハロゲンプラズマ耐性(Y2O3 Thin Film Deposited by Two-step Process and Its Resistance to Halogen Plasma)石井 真史, 池田 直樹, 津谷 大樹, 櫻井 健次. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009.NIMS著者石井 真史池田 直樹津谷 大樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:00 +0900更新時刻: 2018-06-05 12:27:59 +0900