GaN:Eu赤色LEDのノイズ分析：発光中心の電荷捕獲特性を知る新しいアプローチ
(Noise analyses of GaN:Eu red LED:A new application to measure charge capturing properties of emission centers)
第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:50:23 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:12:26 +0900