埋もれた界面の化学反応を利用した電子デバイスへのＸ線反射率測定の応用
(Application of x-ray reflectivity measurement to electronic devices using chemical reaction at "buried" interface)
埋もれた界面のＸ線・中性子線に関するワークショップ2007. 2007. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:23:04 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:35 +0900