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- 305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 [アクセス]
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研究内容
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電子顕微鏡技術、ナノ構造科学 応用物性・結晶工学 無機材料・物性
共焦点電子顕微鏡の結像特性の研究、電子線勇気蒸着によるナノ構造の作製と物性評価
GaN試料からの収束電子線回折像とシミュレーション像。 シミュレーションとの比較により、GaN試料の極性や厚みを容易に決定することができる。
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
研究論文
- 色川芳宏, 三石和貴, 生田目俊秀, 木本浩司, 小出康夫. Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 57 [11] (2018)
- Raman Bekarevich, Kazutaka Mitsuishi, Tsuyoshi Ohnishi, Takaaki Mano, Fumihiko Uesugi, Masaki Takeguchi. Accurate determination of strains at layered materials by selected area electron diffraction mapping. Japanese Journal of Applied Physics. 58 [SI] (2019) SIIA03 10.7567/1347-4065/ab19ac
- Sonya Kosar, Yuriy Pihosh, Raman Bekarevich, Kazutaka Mitsuishi, Kazuma Mawatari, Yutaka Kazoe, Takehiko Kitamori, Masahiro Tosa, Alexey B. Tarasov, Eugene A. Goodilin, Yaroslav M. Struk, Michio Kondo, Ivan Turkevych. Highly efficient photocatalytic conversion of solar energy to hydrogen by WO3/BiVO4 core–shell heterojunction nanorods. Applied Nanoscience. 9 [5] (2019) 1017-1024 10.1007/s13204-018-0759-z
書籍
- K. Takazawa, J. Inoue, K. Mitsuishi. Miniaturized Photonic Circuit Components Constructed from Organic Dye Nanofiber Waveguides. Organic Nanophotonics: Fundamentals and Applications, Springer. 2014 , 119-13910.1007/978-3-662-45082-6_5
- 三石和貴, 竹口雅樹. Scanning Confocal Electron Microscopy. . 2014
- 三石和貴, 石塚和夫. Multislice Method for STEM Image Simulation. . 2014
会議録
- MITSUISHI, Kazutaka, HASEGAWA, Akira, 保田英洋, FURUYA, Kazuo. Effect of Ar Irradiation to Xe Precipitate in Al. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. 2001, 74-77
- LIU, ZHIQUAN, 橋本初次郎, 坂田孝夫, 森博太郎, HASEGAWA, Akira, MITSUISHI, Kazutaka, FURUYA, Kazuo. Investigation on the lattice deformation during electron-stimulated oxidation of iron nitrides in high voltage electron microsco. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. 2004, 339-340
- 石川 信博, 長谷川 明, 三石 和貴, 古屋 一夫, 渡辺義見, 稲見隆. イオン注入によるウスタイトの構造変化. 2002年度 実用表面分析講演会. 2002, -
口頭発表
- 三石 和貴. STEM像の計算手法の基礎. 電顕技術開発若手研究部会 第２回ワークショップ. 2010
- ZHANG, Qi, TAKEGUCHI, Masaki, TANAKA, Miyoko, MITSUISHI, Kazutaka, HAN, MING, FURUYA, Kazuo. Characterization of electronic structure evolution in Mn, MnSi and MnSi1.73 on Si (111) surface by in situ electron energy loss . Strategies and Advances in Atomic Level Spectroscopy and Analysi. 2002
- FURUYA, Kazuo, IAKOUBOVSKII, Konstantin, MITSUISHI, Kazutaka, S. E. Donnelly, HASEGAWA, Akira. Interfaces of Xe Inclusions Ion-implanted in Al --- Ordering in a Fluid Xe and Matrix Oxidation at Surfaces. M&M2009. 2009
特許
- 特許第4665143号 低エネルギーイオン照射による導電体試料中の元素分析・評価方法とその装置 (2011)
- 特許第4735805号 低エネルギーイオン照射による導電体物質からの特性Ｘ線発生方法とその装置 (2011)
- 特許第4452811号 低エネルギーイオン照射による絶縁体中の元素分析・評価方法 (2010)
所属学会
日本金属学会 日本電子顕微鏡学会 日本物理学会
受賞履歴
- 日本顕微鏡学会「論文賞（顕微鏡基礎部門）（２０１０），日本顕微鏡学会 第７回奨励賞（２００６），アメリカ材料学会秋季大会最優秀ポスター賞(1997) ()
第二期開発予定
第二期開発予定