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- 305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 [アクセス]
研究内容
- Keywords
電子顕微鏡技術、ナノ構造科学 応用物性・結晶工学 無機材料・物性
電子顕微鏡による材料開発、位相計測法、その場観察法の研究、共焦点電子顕微鏡の結像特性の研究、電子線勇気蒸着によるナノ構造の作製と物性評価
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- Kazutaka Mitsuishi, Katsuaki Nakazawa, Ryusuke Sagawa, Masahiko Shimizu, Hajime Matsumoto, Hisashi Shima, Takahiko Takewaki. Direct observation of Cu in high-silica chabazite zeolite by electron ptychography using Wigner distribution deconvolution. Scientific Reports. 13 [1] (2023) 316 10.1038/s41598-023-27452-3
- Naoto KATADA, Tomoyuki OZAKI, Yuuki AMANO, Hijiri OIKAWA, Yoshinori ARACHI, Kazutaka MITSUISHI. Preparation of LiCoO2 by Molten Salts on Li0.29La0.57TiO3 Solid Electrolyte and Electrochemical Performances of the All-solid-state Li Secondary Battery. Electrochemistry. 90 [3] (2022) 21-00134 10.5796/electrochemistry.21-00134
- Hijiri OIKAWA, Yuta YOSHIDA, Yoshinori ARACHI, Kazutaka MITSUISHI. Preparation of Li4Mn5O12 on Porous Li0.29La0.57TiO3 via Liquid Sintering for Oxide-based All-solid-state Li-ion Secondary Battery. Electrochemistry. 90 [8] (2022) 22-00064 10.5796/electrochemistry.22-00064
書籍
- MITSUISHI, Kazutaka, ISHIZUKA, Kazuo. Multislice Method for STEM Image Simulation. Imperial College Press, 2014
- MITSUISHI, Kazutaka, TAKEGUCHI, Masaki. Scanning Confocal Electron Microscopy. Imperial College Press, 2014
- 木本 浩司, 三石 和貴, 三留 正則, 原 徹, 長井 拓郎. 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡. 講談社, 2020, 400.
会議録
- MITSUISHI, Kazutaka, BEKAREVICH, Raman, TAKEGUCHI, Masaki, OHNISHI, Tsuyoshi, UESUGI, Fumihiko. Novel electron microscopy method for accurate measurements of the lattice constant changes in layered structures. Journal of Surface Analysis. (2019) 190-191
- Nobuhiro Ishikawa, Tadashi Mitsui, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi. In-situ observation of the interaction silicon and hematite. Journal of Surface Analysis. (2019) 144-145 10.1384/jsa.26.144
- Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo. Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. Proceedings Microscopy & Microanalysis 2014. (2014) 376-377 10.1017/s1431927614003602
口頭発表
- 三石 和貴. 4DSTEMによる電池材料の観察. 第9回 電池材料解析ワークショップ. 2022
- 三石 和貴, 中澤 克昭, 佐川隆亮. 電子線タイコグラフィーによる環境関連材料の観察. 第37回分析電子顕微鏡討論会. 2022
- TAKEGUCHI, Masaki, LI, Xiaoguang, MITSUISHI, Kazutaka. Transmission electron microscopy study of the dynamics of nanostructures in a carbon coated liquid cell. The 4th East-Asia Microscopy Conference. 2022
その他の文献
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー. 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3 [ISBN] 978-4-9900563-7-7. 1 (2016) 42-51
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向. 調査分析室レポート. (2016) 73-89
- Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo. Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. Microscopy and Microanalysis. 20 [S3] (2014) 376-377 10.1017/s1431927614003602
特許
- 特許第4735805号 低エネルギーイオン照射による導電体物質からの特性Ｘ線発生方法とその装置 (2011)
- 特許第4452811号 低エネルギーイオン照射による絶縁体中の元素分析・評価方法 (2010)
- 特許第7162833号 半導体装置の製造方法 (2022)
- 特開2008226918号 極微小ダイオード (2008)
- 特開2005111645号 ナノ樹木状構造物とその作製方法 (2005)
- 特開2005247669号 電子ビームを利用した鉄酸化物の製造方法 (2005)
所属学会
日本電子顕微鏡学会 日本物理学会 日本応用物理学会
受賞履歴
- 日本顕微鏡学会「論文賞（顕微鏡基礎部門）（２０１０），日本顕微鏡学会 第７回奨励賞（２００６），アメリカ材料学会秋季大会最優秀ポスター賞(1997) ()