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研究内容
- Keywords
電子顕微鏡技術、ナノ構造科学 応用物性・結晶工学 無機材料・物性
共焦点電子顕微鏡の結像特性の研究、電子線勇気蒸着によるナノ構造の作製と物性評価
GaN試料からの収束電子線回折像とシミュレーション像。 シミュレーションとの比較により、GaN試料の極性や厚みを容易に決定することができる。
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- IROKAWA, Yoshihiro, MITSUISHI, Kazutaka, NABATAME, Toshihide, KIMOTO, Koji, KOIDE, Yasuo. Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 57 [11] (2018)
- Katsuhisa Murakami, Tomoya Igari, Kazutaka Mitsuishi, Masayoshi Nagao, Masahiro Sasaki, Yoichi Yamada. Highly Monochromatic Electron Emission from Graphene/Hexagonal Boron Nitride/Si Heterostructure. ACS Applied Materials & Interfaces. 12 [3] (2020) 4061-4067 10.1021/acsami.9b17468
- Narumi Ohta, Shin Kimura, Junichi Sakabe, Kazutaka Mitsuishi, Tsuyoshi Ohnishi, Kazunori Takada. Anode Properties of Si Nanoparticles in All-Solid-State Li Batteries. ACS Applied Energy Materials. 2 [10] (2019) 7005-7008 10.1021/acsaem.9b01517
書籍
- MITSUISHI, Kazutaka, ISHIZUKA, Kazuo. Multislice Method for STEM Image Simulation. Imperial College Press, 2014
- MITSUISHI, Kazutaka, TAKEGUCHI, Masaki. Scanning Confocal Electron Microscopy. Imperial College Press, 2014
- K. Takazawa, J. Inoue, K. Mitsuishi. Miniaturized Photonic Circuit Components Constructed from Organic Dye Nanofiber Waveguides. Organic Nanophotonics: Fundamentals and Applications, Springer. Springer Berlin Heidelberg, 2014, 119-139. 10.1007/978-3-662-45082-6_5
会議録
- MITSUISHI, Kazutaka, HASEGAWA, Akira, 保田英洋, FURUYA, Kazuo. Effect of Ar Irradiation to Xe Precipitate in Al. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. 2001, 74-77
- LIU, ZHIQUAN, 橋本初次郎, 坂田孝夫, 森博太郎, HASEGAWA, Akira, MITSUISHI, Kazutaka, FURUYA, Kazuo. Investigation on the lattice deformation during electron-stimulated oxidation of iron nitrides in high voltage electron microsco. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. 2004, 339-340
- 石川 信博, 長谷川 明, 三石 和貴, 古屋 一夫, 渡辺義見, 稲見隆. イオン注入によるウスタイトの構造変化. 2002年度 実用表面分析講演会. 2002, -
口頭発表
- 三石 和貴. STEM像の計算手法の基礎. 電顕技術開発若手研究部会 第２回ワークショップ. 2010
- ZHANG, Qi, TAKEGUCHI, Masaki, TANAKA, Miyoko, MITSUISHI, Kazutaka, HAN, MING, FURUYA, Kazuo. Characterization of electronic structure evolution in Mn, MnSi and MnSi1.73 on Si (111) surface by in situ electron energy loss . Strategies and Advances in Atomic Level Spectroscopy and Analysi. 2002
- FURUYA, Kazuo, IAKOUBOVSKII, Konstantin, MITSUISHI, Kazutaka, S. E. Donnelly, HASEGAWA, Akira. Interfaces of Xe Inclusions Ion-implanted in Al --- Ordering in a Fluid Xe and Matrix Oxidation at Surfaces. M&M2009. 2009
特許
- 特許第4665143号 低エネルギーイオン照射による導電体試料中の元素分析・評価方法とその装置 (2011)
- 特許第4735805号 低エネルギーイオン照射による導電体物質からの特性Ｘ線発生方法とその装置 (2011)
- 特許第4452811号 低エネルギーイオン照射による絶縁体中の元素分析・評価方法 (2010)
所属学会
日本金属学会 日本電子顕微鏡学会 日本物理学会
受賞履歴
- 日本顕微鏡学会「論文賞（顕微鏡基礎部門）（２０１０），日本顕微鏡学会 第７回奨励賞（２００６），アメリカ材料学会秋季大会最優秀ポスター賞(1997) ()
第二期開発予定
第二期開発予定