- Address
- 305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 [アクセス]
研究内容
- Keywords
電子顕微鏡技術、ナノ構造科学 応用物性・結晶工学 無機材料・物性
電子顕微鏡による材料開発、位相計測法、その場観察法の研究、共焦点電子顕微鏡の結像特性の研究、電子線勇気蒸着によるナノ構造の作製と物性評価
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- 三石 和貴, 中澤 克昭, 溝口 照康, 佐川 隆亮, 山崎 裕一. ピクセル型STEM検出器によるタイコグラフィーの初歩. 顕微鏡. (2021) 31-37 10.11410/kenbikyo.56.1_31
- IROKAWA, Yoshihiro, MITSUISHI, Kazutaka, NABATAME, Toshihide, KIMOTO, Koji, KOIDE, Yasuo. Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 57 [11] (2018)
- Nobuhiro Ishikawa, Tadashi Mitsui, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi. In-situ observation of the interaction silicon and hematite. Journal of Surface Analysis. 26 [2] (2019) 144-145 10.1384/jsa.26.144
書籍
- MITSUISHI, Kazutaka, ISHIZUKA, Kazuo. Multislice Method for STEM Image Simulation. Imperial College Press, 2014
- MITSUISHI, Kazutaka, TAKEGUCHI, Masaki. Scanning Confocal Electron Microscopy. Imperial College Press, 2014
- 木本 浩司, 三石 和貴, 三留 正則, 原 徹, 長井 拓郎. 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡. 講談社, 2020, 400.
会議録
- Nobuhiro Ishikawa, Tadashi Mitsui, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi. In-situ observation of the interaction silicon and hematite. Journal of Surface Analysis. 2019, 144-145
- MITSUISHI, Kazutaka, BEKAREVICH, Raman, TAKEGUCHI, Masaki, OHNISHI, Tsuyoshi, UESUGI, Fumihiko. Novel electron microscopy method for accurate measurements of the lattice constant changes in layered structures. Journal of Surface Analysis. 2019, 190-191
- Raman Bekarevich, Kazutaka Mitsuishi, Tsuyoshi Ohnishi, Takaaki Mano, Fumihiko Uesugi, Masaki Takeguchi. Accurate determination of strains at layered materials by selected area electron diffraction mapping. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2019, SIIA03-1-SIIA03-6
口頭発表
- 石井 健斗, 三好 正悟, 大出 真知子, 三石 和貴, 大野 隆央, 高田 和典, 打越 哲郎. Characterization of NASICON-type Solid Electrolyte Li1.3Al0.3Ti1.7(PO4)3 coated with Cobalt nitrate hexahydrate as a Sintering aid and its Electrical properties. MATERIALS RESEARCH MEETING 2021/https://mrm2021.jmru.org/. 2021
- 髙栁 真, 土屋 敬志, 三石 和貴, 井村 将隆, 上田 茂典, 小出 康夫, 樋口透, 寺部 一弥. The Electric Double Layer Effect and its Strong Suppression in Li+ Solid Electrolyte-based Transistors. MEMRISYS 2021 (4th International Conference on Memristive Materials, Devices & Systems). 2021
- 竹口 雅樹, リ シャオガン, 三石 和貴. Atomic resolution liquid cell scanning transmission electron microscopy. 34th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2021). 2021
その他の文献
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向. 調査分析室レポート. (2016) 73-89
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー. 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3 [ISBN] 978-4-9900563-7-7. 1 (2016) 42-51
- Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo. Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. Microscopy and Microanalysis. 20 [S3] (2014) 376-377 10.1017/s1431927614003602
特許
- 特許第5268043号 極微小ダイオード及びその製造方法 (2013)
- 特許第4572366号 ガスデポジション法のための原料ガス供給方法及び供給装置 (2010)
- 特許第4644853号 低エネルギーイオン照射による絶縁体からの軽元素特性X線発生方法 (2010)
- 特開2008226918号 極微小ダイオード (2008)
- 特開2005111645号 ナノ樹木状構造物とその作製方法 (2005)
- 特開2005247669号 電子ビームを利用した鉄酸化物の製造方法 (2005)
所属学会
日本電子顕微鏡学会 日本物理学会 日本応用物理学会
受賞履歴
- 日本顕微鏡学会「論文賞（顕微鏡基礎部門）（２０１０），日本顕微鏡学会 第７回奨励賞（２００６），アメリカ材料学会秋季大会最優秀ポスター賞(1997) ()