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キーワード検索
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マテリアル基盤研究センター/先端解析分野: 39人の研究者が見つかりました。
五十音順に1人目から10人目を表示しています。
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Hydrogen permeation, Surface stress, Thin film, Sensing,
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物性II 応用物性・結晶工学 応用物理学一般
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ガラス, 中性子回折, 高エネルギーX線回折, 逆モンテカルロシミュレーション
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High resolution atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy for surface chemistry
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透過電子顕微鏡、温度計測、熱輸送評価、導電性評価、電磁場評価
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酸化物,電子状態,量子効果
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電子エネルギー損失分光,走査型透過電子顕微鏡法,フォノン,ギャップ内準位