時分割EFMによるSiGeドットからの光誘起正孔移動過程の分析：界面捕獲を考慮したシミュレーション解析
(Analyses of photo-induced hole transition process from SiGe dot by using time-resolved EFM)
第57回応用物理学関係連合講演会. 2010.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:26:01 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:46:00 +0900