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著者名SAKURAI, Kenji, MIZUSAWA, Tazuko, ISHII, Masashi.
タイトルRecent Novel X-ray Reflectivity Techniques:Moving Towards Quicker Measurement to Observe Changes at Surface and Buried Interfaces
(新しいX線反射率法:埋もれた界面の変化を見ることのできるもっと迅速な測定を目指して)
発表誌名TRANSACTIONS OF THE MATERIALS RESEARCH SOCIETY OF JAPAN
発表年2007
言語English

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