HOME > 口頭発表 > 書誌詳細有機金属分解法によって作製したY2O3薄膜のX線反射率測定(X-ray reflectivity measurements of Y2O3 thin film with metalorganic decomposition method)石井 真史, 櫻井 健次. 第24回希土類討論会. 2007.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:00:50 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:55:21 +0900