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Significance of Frequency Analysis in X-Ray Reflectivity: Towards analysis which does not depend too much on models
(X線・中性子反射率法: 最近の進歩と将来展望)

SAKURAI, Kenji, MIZUSAWA, Tazuko, ISHII, Masashi.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-27 01:24:58 +0900 更新時刻 :2017-09-06 21:27:39 +0900

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