HOME > 口頭発表 > 書誌詳細人工知能を使った二次元X線回折パターンからの 結晶配向度予測とノイズに対するロバスト性(Prediction of crystal orientation fluctuation from 2-D x-ray diffraction pattern using AI and its robustness to noise)小澤 哲也, 石井 真史, 人工知能学会第2種研究会 計測インフォマティクス研究会. 2019.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2020-01-22 03:00:26 +0900 更新時刻 :2020-01-22 03:00:26 +0900