Imaging of charge trapping in distorted carbon nanotubes by x-ray excited scanning probe microscopy
(Ｘ線励起走査型プローブ顕微鏡による歪んだカーボンナノチューブの電荷捕獲のイメージング)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 15:37:05 +0900更新時刻: 2024-03-29 18:40:56 +0900