X線励起源を持つ走査型プローブ顕微鏡による局所歪みの解析：歪んだCNT上の電子捕獲の可視化
(Local distortion analyses of CNT by scanning probe microscopy with x-ray excitation source: Visualization of electron traps on distorted CNT)
2008 MRS Fall Meeting. 2008.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:30:52 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:13 +0900