SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > その他の文献 > 書誌詳細

Selective X-ray analysis of electron localizing sites using capacitance or electrostatic force
(静電容量・静電気力による局在電子サイトの選択X線分析)


NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2020-11-20 10:41:50 +0900更新時刻: 2024-04-01 19:27:51 +0900

    ▲ページトップへ移動