HOME > その他の文献 > 書誌詳細Selective X-ray analysis of electron localizing sites using capacitance or electrostatic force(静電容量・静電気力による局在電子サイトの選択X線分析)Masashi Ishii. Electronics and Communications in Japan 92 [3] 38-45. 2009.https://doi.org/10.1002/ecj.10016 NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-11-20 10:41:50 +0900更新時刻: 2024-04-01 19:27:51 +0900