静電気力プローブ顕微鏡による電荷移動の動的観測：SiGeドット閉込め正孔の光誘起移動
(Dynamical observation of charge transition process by using EFM: Photo-induced transition of confined holes in SiGe dots)
2009年秋季 第70回 応用物理学会 学術講演会. 2009.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:06:28 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:35:41 +0900