HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光アシストプローブ顕微鏡:静電容量・静電気力を使った化学マッピングと吸収分光(Synchrotron-radiation assisted scanning probe microscopy: Chemical mapping and absorption spectroscopy by using capacitance and electrostatic force)石井 真史. 物性研短期研究会「顕微分光とナノサイエンスの発展」. 2010. 招待講演NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:04:59 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:42:53 +0900