放射光アシストプローブ顕微鏡:静電容量・静電気力を使った化学マッピングと吸収分光
(Synchrotron-radiation assisted scanning probe microscopy: Chemical mapping and absorption spectroscopy by using capacitance and electrostatic force)
物性研短期研究会「顕微分光とナノサイエンスの発展」. 2010年02月22日-2010年02月23日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:04:59 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:42:53 +0900