HOME > 口頭発表 > 書誌詳細誘電緩和測定による金/イットリア界面の低温化学反応の解析(Low Temperature Chemical Reaction at Gold/yttria Interface Characterized by Dielectric Relaxation Measurement)石井 真史, 中尾愛子, 櫻井 健次. 2008 International Materials Research Conference. 2008.NIMS著者石井 真史Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:45:36 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:13:54 +0900