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大西 桂子
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論文 TSV

2017
  1. Shuang Xie, Mingsheng Xu, Shuyun Huang, Tao Liang, Shengping Wang, Hongfei Li, Hideo Iwai, Keiko Onishi, Nobutaka Hanagata, Daisuke Fujita, Xiangyang Ma, Deren Yang. Inhomogeneous composition distribution in monolayer transition metal dichalcogenide alloys. Materials Research Express. 4 [4] (2017) 045004 10.1088/2053-1591/aa6859
2014
  1. Astari Dwiranti, Tohru Hamano, Hideaki Takata, Shoko Nagano, Hongxuan Guo, Keiko Onishi, Toshiyuki Wako, Susumu Uchiyama, Kiichi Fukui. The Effect of Magnesium Ions on Chromosome Structure as Observed by Helium Ion Microscopy. Microscopy and Microanalysis. 20 [01] (2014) 184-188 10.1017/s1431927613013792
2007
  1. X L Guo, D Fujita, N Niori, S Keisuke, K Onishi. Nanoscale electroluminescence from n-type GaAs(110) in tunnel junctions. Nanotechnology. 18 [19] (2007) 195201 10.1088/0957-4484/18/19/195201

会議録 TSV

2009
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, XU, Mingsheng. Standardization of nanomaterials characterization by scanning probe microscopy for societal acceptance. JOURNAL OF PHYSICS:CONFERENCE SERIES. 2009, 012002-1-012002-6
2005
  1. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems. 2005, 79-80
  2. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. 2005, 19-26

口頭発表 TSV

2017
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical Potential Imaging of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  3. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察. 2017年真空・表面科学合同講演会. 2017
  4. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical potential distribution of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. 15th GREEN Symposium. 2017
  5. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope. Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017
  6. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会 第2回関東支部講演大会. 2017
2009
  1. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン電子同時照射によるSi酸化膜/Si(001)基板のナノ切削加工. 第3回バイオ・ナノテクフォーラムシンポジウム. 2009
  2. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, Jianhua Gao, SAGISAKA, Keisuke. Formation of Graphene Layers and Related Nano-Carbons on C-doped Metal Surfaces by Bulk-to-Surface Precipitation. 9th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2009
2008
  1. GUO, XINLI, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. STM-induced photon emission from nanoscale surfaces of GaAs and Ag film using a metal/ITO dual layer coated fiber probe. 8th International Conference on Nano-Molecular Electronics. 2008
  2. GUO, XINLI, T. Shimada, ONISHI, Keiko, M. Kitajima, FUJITA, Daisuke. Self-assembled Au nanoparticle structures on highly ordered pyrolytic graphite wafer. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology. 2008
  3. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images using Given-shape Nano-structure. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  4. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン照射下における電子ビーム走査による微細加工. VACUUM2008 第30回真空展. 2008
  5. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, XU, Mingsheng. Development of AFM Image Restoration Algorithm and its Applications to Nanomaterials. 第69回応用物理学会学術講演会 シンポジウム. 2008
  6. 大西 桂子, 藤田 大介. 直方体ナノ構造を利用したAFM像の探針先端形状効果補正. 第69回応用物理学会学術講演会. 2008
  7. 大西 桂子, 藤田 大介. 球状ナノ粒子を利用したAFM像の探針先端形状効果補正. 第55回応用物理学関連連合講演会. 2008
  8. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, MIYAZAWA, Kunichi. Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy. 8th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2008
2007
  1. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Novel Image Restoration Method for SPM Topography Data Containing Tip-induced Distortions using Standard Nanospheres. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2007
  2. GUO, XINLI, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07. 2007
  3. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko. Standardization of Three-dimensional Topography Imaging . 4th International Symposium on Practical Surface Analysis . 2007
  4. GUO, XINLI, FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Dopant-related photon emission induced by scanning tunneling microscope from the surface of GaAs(110). 9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, . 2007
  5. 大西 桂子, 藤田 大介. AFM探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測. 第27回表面科学講演大会. 2007
  6. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線援用スパッタリングによる微細加工の試み. 第68回応用物理学会学術講演会. 2007
  7. FUJITA, Daisuke, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke. Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress. 2007
  8. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, KUMAKURA, Tsuyako. Novel Nano-carbons Synthesized by Surface Precipitation in Ultrahigh Vacuum. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  9. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 北原 昌代. Practical Image Restoration Method for Scanning Probe Microscopy. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  10. GUO, XINLI, FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Photon emission induced from nanoscale surfaces of semiconductors by a scanning tunneling microscope using a conductive optical fiber probe. International Conference on Nanoscience & Technology, China 2007. 2007
  11. RICHTEROVA, Ivana, FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, Jiri Pavlu, Jana Safrankova, Zdenek Nemecek. Modification of spherical dust grain structure: Laboratory simulation. AGU Spring 2007 Joint Assembly. 2007
  12. 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 低次元カーボンナノ構造被膜の創製・評価と応用. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  13. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線照射による微細加工技術の開発. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  14. FUJITA, Daisuke, KUMAKURA, Tsuyako, ONISHI, Keiko. Characterization and Application of Novel Nano-carbons Synthesized by. 7th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2007
2005
  1. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 走査型オージェ顕微鏡およびファクターアナリシスによるSiO2/Si超薄膜の電子線誘起還元過程の解析. 第25回表面科学講演大会. 2005
  2. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価. 第46回真空に関する連合講演会. 2005
  3. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析. 2005年度 実用表面分析講演会. 2005
  4. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Nano-characterization of Beam-irradiation Effects on SiO2/Si Interfaces using Factor Analysis and Auger Electron Microscopy.. 第6回インテリジェント材料・システム国際会議. 2005
  5. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005
  6. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見. 日本物理学会2005年春季大会. 2005
  7. 大西 桂子, 藤田 大介. ファクターアナリシスによる酸化物/半導体表面の電子線照射効果の評価. 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2005
  8. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 固溶炭素の表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製. 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2005
  9. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 応力歪場印加可能な原子分解能走査トンネル顕微鏡の開発. 第52回応用物理学関係連合講演会      . 2005
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke. STM Observation of Stress-induced Nano-Domain Redistribution on Si(100) Surfaces. 第15回日本MRS学術シンポジウム      . 2004
  2. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, KUMAKURA, Tsuyako, SAGISAKA, Keisuke. STM Tips for Making Metallic Nanodots and Nanowires. 1st International Symposium on the Functionality of Organized Na. 2004
  3. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価. 第24回表面科学講演大会. 2004
  4. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 超高真空応力歪場環境原子分解能2探針走査プローブ顕微鏡の開発. 第24回表面科学講演大会. 2004
  5. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, NIORI, NORIKO. Tunneling-Electron Induced Luminescence Mapping on a p-type GaAs(110) Surface by UHV-LT-STM with a Conductive Optical Fiber Prob. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  6. 藤田 大介, 大西 桂子, 新居 周子. p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測. 日本物理学会第59回年次大会. 2004
  7. 藤田 大介, 大西 桂子, 肖 占文, 徐 明祥, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. 極限環境におけるナノ構造の創製と評価. 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム(JAPAN NANO 2004). 2004
  8. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Development of a Web Database System for Active-Nano Characterization and Technology. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields. 2004

その他の文献 TSV

2004
  1. Zhanwen Xiao, Mingxiang Xu, Taizo Ohgi, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. Removal of Si(1 1 1) wafer surface etch pits generated in ammonia-peroxide clean step. Applied Surface Science. 221 [1-4] (2004) 160-166 10.1016/s0169-4332(03)00876-6

特許 TSV

登録特許
  1. 特許第5626948号 グラフェン被覆部材の製造方法 (2014)
  2. 特許第4431733号 超高真空走査型プローブ顕微鏡 (2010)
  3. 特許第3686948号 自己再生型カーボンナノチューブ・グラファイト混合膜の形成方法 (2005)
  4. 特許第3530941号 低ガス放出及び低2次電子放出材料 (2004)
  5. 特許第3520332号 走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 (2004)
  6. 特許第2958442号 半導体量子箱の形成方法 (1999)
公開特許出願
  1. No: WO2010/041696 グラフェン被覆部材とその製造方法 (2010)
外国特許
  1. No. DE112009002392T5 Mit Graphen beschichtetes Element und Verfahren zum Herstellen desselben (2012)
  2. No. US20110265918A1 GRAPHENE-COATED MEMBER AND PROCESS FOR PRODUCING SAME (2011)
  3. No. WO2010041696A1 GRAPHENE-COATED MEMBER AND PROCESS FOR PRODUCING SAME (2010)

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