Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope
(ヘリウムイオン顕微鏡による印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子画像化)
Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-05-23 22:59:05 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:08:59 +0900