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- 305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 [アクセス]
研究内容
- Keywords
応力場 走査型プローブ顕微鏡 超高真空
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- Tao Liang, Shuang Xie, Zhuoting Huang, Weifei Fu, Yu Cai, Xi Yang, Hongzheng Chen, Xiangyang Ma, Hideo Iwai, Daisuke Fujita, Nobutaka Hanagata, Mingsheng Xu. Elucidation of Zero-Dimensional to Two-Dimensional Growth Transition in MoS2Chemical Vapor Deposition Synthesis. Advanced Materials Interfaces. 4 [4] (2017) 1600687 10.1002/admi.201600687
書籍
- AGRAWAL, Lokesh, GHOSH, Subrata, GHOSH, Batu, KANAD RAY, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban. Replacing Turing tape with a Fractal tape: a new information theory, a new mechanics and decision making without computing. Consciousness: Integrating Eastern and Western Perspectives. , 2016, 87-159.
- 藤田 大介. ナノワイヤーの製造法. ナノファイバーテクノロジーを用いた高度産業発掘戦略. , 2004, 133-143.
会議録
- SINGH, Pushpendra, SAHOO, Pathik, SAXENA, Komal, GHOSH Subrata, SAHU Satyajit, RAY Kanad, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban. A Space-Time-Topology-Prime, stTS Metric for a Self-operating Mathematical Universe Uses Dodecanion Geometric Algebra of 2-20 D Complex Vectors. Proceedings of International Conference on Data Science and Applications. (2020) 1-31
- 藤田大介. SPMによる半導体表面分析の最近の展開. ナノプローブテクノロジー第167委員会第154委員会合同研究会資料. (2010) 18-24
- FUJITA Takaya, KAREN, Akiya, ITO Hiroshi, FUJITA, Daisuke. Standardization and quantification of the carrier concentration in semiconductor devices using electric SPM. Journal of Surface Analysis. (2012) 76-80
口頭発表
- 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介. 3D Analysis of Stress Dynamics in Si(100) by Confocal Raman Microscopy. 日本表面科学会第2回関東支部講演大会. 2017
- 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会 第2回関東支部講演大会. 2017
- 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介. 3D confocal Raman mapping of stress induced by indentation on Si(100). 共用・計測 合同シンポジウム2017. 2017
その他の文献
- 藤田 大介. データサイエンスを活用した固体材料・表面研究の最前線. 応用物理学会薄膜・表面物理分科会 News Letter. (2019) 1
- 藤田大介. アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開. 発表予稿集. (2004)
- 藤田大介. ナノの世界でものを見る・操る・創る. 科学技術振興調整費成果発表会予稿集. (2005) 25-28
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