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藤田 大介 (FUJITA, Daisuke) 0000-0001-7025-0265

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論文 TSV

2023
  1. Hongxin Wang, Han Zhang, Ryo Tamura, Bo Da, Shimaa A. Abdellatef, Ikumu Watanabe, Nobuyuki Ishida, Daisuke Fujita, Nobutaka Hanagata, Tomoki Nakagawa, Jun Nakanishi. Mapping stress inside living cells by atomic force microscopy in response to environmental stimuli. Science and Technology of Advanced Materials. 24 [1] (2023) 2265434 10.1080/14686996.2023.2265434 Open Access
2022
  1. Keisuke Sagisaka, Jun Nara, Jill K. Wenderott, Ryo Kadowaki, Akane Maruta, Tadashi Abukawa, Daisuke Fujita. Strong suppression of graphene growth by sulfur superstructure on a nickel substrate. Physical Review Materials. 6 [3] (2022) 034007 10.1103/physrevmaterials.6.034007
  2. Han Zhang, Yu Jimbo, Akira Niwata, Akihiro Ikeda, Akira Yasuhara, Cretu Ovidiu, Koji Kimoto, Takeshi Kasaya, Hideki T. Miyazaki, Naohito Tsujii, Hongxin Wang, Yasushi Yamauchi, Daisuke Fujita, Shin-ichi Kitamura, Hironobu Manabe. High-endurance micro-engineered LaB6 nanowire electron source for high-resolution electron microscopy. Nature Nanotechnology. 17 [1] (2022) 21-26 10.1038/s41565-021-00999-w
2021
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年変化の解析. 表面と真空. 64 [9] (2021) 424-429 10.1380/vss.64.424 Open Access
  2. Masahiko Suzuki, Yasushi Yamauchi, Daisuke Fujita, Tsuneo Yasue, Takanori Koshikawa, Ernst Bauer. Graphene-substrate decoupling by S segregation. A LEEM/LEED study. Carbon. 185 (2021) 324-333 10.1016/j.carbon.2021.08.088
  3. Hongxin Wang, Han Zhang, Bo Da, Dabao Lu, Ryo Tamura, Kenta Goto, Ikumu Watanabe, Daisuke Fujita, Nobutaka Hanagata, Junko Kano, Tomoki Nakagawa, Masayuki Noguchi. Mechanomics Biomarker for Cancer Cells Unidentifiable through Morphology and Elastic Modulus. Nano Letters. 21 [3] (2021) 1538-1545 10.1021/acs.nanolett.1c00003
2020
  1. Pushpendra Singh, Subrata Ghosh, Pathik Sahoo, Kanad Ray, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. REDUCING THE DIMENSION OF A PATCH-CLAMP TO THE SMALLEST PHYSICAL LIMIT USING A COAXIAL ATOM PROBE. Progress In Electromagnetics Research B. 89 (2020) 29-44 10.2528/pierb20072405 Open Access
  2. Anup Singhania, Mrinal Dutta, Supriya Saha, Pathik Sahoo, Bharati Bora, Subrata Ghosh, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Speedy one-pot electrochemical synthesis of giant octahedrons from in situ generated pyrrolidinyl PAMAM dendrimer. Soft Matter. 16 [39] (2020) 9140-9146 10.1039/d0sm00819b
  3. Pushpendra Singh, Pathik Sahoo, Komal Saxena, Subrata Ghosh, Satyajit Sahu, Kanad Ray, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Quaternion, Octonion to Dodecanion Manifold: Stereographic Projections from Infinity Lead to a Self-operating Mathematical Universe. Advances in Intelligent Systems and Computing. (2020) 55-77 10.1007/978-981-15-5414-8_5
  4. Anup Singhania, Indrani Ghosh, Pathik Sahoo, Daisuke Fujita, Subrata Ghosh, Anirban Bandyopadhyay. Radio Waveguide–Double Ratchet Rotors Work in Unison on a Surface to Convert Heat into Power. Nano Letters. 20 [9] (2020) 6891-6898 10.1021/acs.nanolett.0c02898
  5. Pushpendra Singh, Komal Saxena, Anup Singhania, Pathik Sahoo, Subrata Ghosh, Rutuja Chhajed, Kanad Ray, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. A Self-Operating Time Crystal Model of the Human Brain: Can We Replace Entire Brain Hardware with a 3D Fractal Architecture of Clocks Alone?. Information. 11 [5] (2020) 238 10.3390/info11050238 Open Access
  6. Takeshi Noda, Nobuyuki Ishida, Takaaki Mano, Daisuke Fujita. Direct observation of charge accumulation in quantum well solar cells by cross-sectional Kelvin probe force microscopy. Applied Physics Letters. 116 [16] (2020) 163501 10.1063/1.5142438
  7. Komal Saxena, Pushpendra Singh, Pathik Sahoo, Satyajit Sahu, Subrata Ghosh, Kanad Ray, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Fractal, Scale Free Electromagnetic Resonance of a Single Brain Extracted Microtubule Nanowire, a Single Tubulin Protein and a Single Neuron. Fractal and Fractional. 4 [2] (2020) 11 10.3390/fractalfract4020011 Open Access
  8. Hongxin Wang, Han Zhang, Kenta Goto, Ikumu Watanabe, Hideaki Kitazawa, Masamichi Kawai, Hiroaki Mamiya, Daisuke Fujita. Stress mapping reveals extrinsic toughening of brittle carbon fiber in polymer matrix. Science and Technology of Advanced Materials. 21 [1] (2020) 267-277 10.1080/14686996.2020.1752114 Open Access
2019
  1. Hongxin Wang, Han Zhang, Daiming Tang, Kenta Goto, Ikumu Watanabe, Hideaki Kitazawa, Masamichi Kawai, Hiroaki Mamiya, Daisuke Fujita. Stress dependence of indentation modulus for carbon fiber in polymer composite. Science and Technology of Advanced Materials. 20 [1] (2019) 412-420 10.1080/14686996.2019.1600202 Open Access
  2. 石田 暢之, ツァイ モーラン, 野田 武司, 藤田 大介, 韓 礼元. オペランド電位計測による電荷分離位置の評価：ペロブスカイト太陽電池への応用. 表面と真空. 62 [1] (2019) 9-14 10.1380/vss.62.9 Open Access
  3. 藤田 大介. 微細構造解析プラットフォームが目指す研究開発基盤の構築. まてりあ. 58 [12] (2019) 714-716 10.2320/materia.58.714
  4. SINGH Pushpendra, SAHOO, Pathik, GHOSH Subrata, SAHU Satyajit, RAY Kanad, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban. The difference between eight imaginary worlds or octonions and twelve imaginary worlds dodecanions for a self-operating universe. Advances in Intelligent Systems and Computing. (2019) 32-40
  5. 藤田 大介. 表面科学における計測インフォマティクス. 表面と真空. 62 [3] (2019) 122-129 10.1380/vss.62.122 Open Access
  6. Hideki Masuda, Kyosuke Matsushita, Daigo Ito, Daisuke Fujita, Nobuyuki Ishida. Dynamically visualizing battery reactions by operando Kelvin probe force microscopy. Communications Chemistry. 2 [1] (2019) 10.1038/s42004-019-0245-x Open Access
  7. Hongxuan Guo, Jianhua Gao, Nobuyuki Ishida, Keisuke Sagisaka, Daisuke Fujita. Growth of quadrilateral graphene flakes with a sulfur atomic template on the surface of Ni (110). Carbon. 153 (2019) 116-119 10.1016/j.carbon.2019.06.102
  8. Tao Liang, Mohammad Rezwan Habib, Yuhan Kong, Yu Cai, Hongzheng Chen, Daisuke Fujita, Cheng-Te Lin, Yingchun Liu, Cui Yu, Huanxing Su, Zhihong Feng, Mingsheng Xu. Elucidation of heterogeneous graphene nucleation and growth through Cu surface engineering. Carbon. 147 (2019) 120-125 10.1016/j.carbon.2019.02.075
2018
  1. 増田 秀樹, 藤田 大介. 球状黒鉛鋳鉄中の介在物硬度測定. まてりあ. 57 [12] (2018) 599 10.2320/materia.57.599
  2. 藤田 大介. 超高真空・極高真空発生とガス放出機構. 表面と真空. 61 [9] (2018) 578-585 10.1380/vss.61.578 Open Access
  3. Subrata Ghosh, Anirban Roy, Anup Singhania, Somnath Chatterjee, Snehasikta Swarnakar, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. In-vivo & in-vitro toxicity test of molecularly engineered PCMS: A potential drug for wireless remote controlled treatment. Toxicology Reports. 5 (2018) 1044-1052 10.1016/j.toxrep.2018.10.011 Open Access
  4. 増田 秀樹, 石田 暢之, 藤田 大介, 小形 曜一郎, 伊藤 大悟. ToF-SIMS内その場充放電による全固体電池中のリチウム分布計測. まてりあ. 57 [12] (2018) 600 10.2320/materia.57.600
  5. 藤田大介. 二次元物質の創製と顕微計測. 顕微鏡. [2] (2018) 67-74
  6. Hideki Masuda, Nobuyuki Ishida, Yoichiro Ogata, Daigo Ito, Daisuke Fujita. In situ visualization of Li concentration in all-solid-state lithium ion batteries using time-of-flight secondary ion mass spectrometry. Journal of Power Sources. 400 (2018) 527-532 10.1016/j.jpowsour.2018.08.040 Open Access
  7. Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. In situ voltage-application system for active voltage contrast imaging in helium ion microscope. Journal of Vacuum Science & Technology B. 36 [4] (2018) 042903 10.1116/1.5031086
  8. Hongxin Wang, Han Zhang, Bo Da, Motoki Shiga, Hideaki Kitazawa, Daisuke Fujita. Informatics-Aided Raman Microscopy for Nanometric 3D Stress Characterization. The Journal of Physical Chemistry C. 122 [13] (2018) 7187-7193 10.1021/acs.jpcc.7b12415
  9. Molang Cai, Nobuyuki Ishida, Xing Li, Xudong Yang, Takeshi Noda, Yongzhen Wu, Fengxian Xie, Hiroyoshi Naito, Daisuke Fujita, Liyuan Han. Control of Electrical Potential Distribution for High-Performance Perovskite Solar Cells. Joule. 2 [2] (2018) 296-306 10.1016/j.joule.2017.11.015 Open Access
  10. Junsuke Yamanishi, Shigeru Iwase, Nobuyuki Ishida, Daisuke Fujita. Multivariate analysis for scanning tunneling spectroscopy data. Applied Surface Science. 428 (2018) 186-190 10.1016/j.apsusc.2017.09.124
2017
  1. Lokesh Agrawal, Rutuja Chhajed, Subrata Ghosh, Batu Ghosh, Kanad Ray, Satyajit Sahu, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Fractal Information Theory (FIT)-Derived Geometric Musical Language (GML) for Brain-Inspired Hypercomputing. Advances in Intelligent Systems and Computing　584. (2017) 343-372 10.1007/978-981-10-5699-4_33
  2. Tao Liang, Shuang Xie, Weifei Fu, Yu Cai, Chinnathambi Shanmugavel, Hideo Iwai, Daisuke Fujita, Nobutaka Hanagata, Hongzheng Chen, Mingsheng Xu. Synthesis and fast transfer of monolayer MoS2 on reusable fused silica. Nanoscale. 9 [21] (2017) 6984-6990 10.1039/c7nr01755c
  3. Shuang Xie, Mingsheng Xu, Shuyun Huang, Tao Liang, Shengping Wang, Hongfei Li, Hideo Iwai, Keiko Onishi, Nobutaka Hanagata, Daisuke Fujita, Xiangyang Ma, Deren Yang. Inhomogeneous composition distribution in monolayer transition metal dichalcogenide alloys. Materials Research Express. 4 [4] (2017) 045004 10.1088/2053-1591/aa6859
  4. Tao Liang, Guangyu He, Xu Wu, Jindong Ren, Hongxuan Guo, Yuhan Kong, Hideo Iwai, Daisuke Fujita, Hongjun Gao, Haiming Guo, Yingchun Liu, Mingsheng Xu. Permeation through graphene ripples. 2D Materials. 4 [2] (2017) 025010 10.1088/2053-1583/aa59ca
  5. Tao Liang, Shuang Xie, Zhuoting Huang, Weifei Fu, Yu Cai, Xi Yang, Hongzheng Chen, Xiangyang Ma, Hideo Iwai, Daisuke Fujita, Nobutaka Hanagata, Mingsheng Xu. Elucidation of Zero-Dimensional to Two-Dimensional Growth Transition in MoS2Chemical Vapor Deposition Synthesis. Advanced Materials Interfaces. 4 [4] (2017) 1600687 10.1002/admi.201600687
  6. Hideki Masuda, Nobuyuki Ishida, Yoichiro Ogata, Daigo Ito, Daisuke Fujita. Internal potential mapping of charged solid-state-lithium ion batteries using in situ Kelvin probe force microscopy. Nanoscale. 9 [2] (2017) 893-898 10.1039/c6nr07971g Open Access
2016
  1. Shengping Wang, Shuang Xie, Guowei Huang, Hongxuan Guo, Yujin Cho, Jun Chen, Daisuke Fujita, Mingsheng Xu. Grassy Silica Nanoribbons and Strong Blue Luminescence. Scientific Reports. 6 [1] (2016) 34231 10.1038/srep34231 Open Access
  2. AGRAWAL, Lokesh, GHOSH, Subrata, GHOSH, Batu, Kanad Ray, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban. Fractal Information Theory (FIT) derived Geometric Musical Language (GML) for brain inspired hyper computing. ADVANCES IN INTELLIGENT SYSTEMS AND COMPUTING. 2 (2016) 37-58
  3. Lokesh Agrawal, Satyajit Sahu, Subrata Ghosh, Takashi Shiga, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Inventing atomic resolution scanning dielectric microscopy to see a single protein complex operation live at resonance in a neuron without touching or adulterating the cell. Journal of Integrative Neuroscience. 15 [04] (2016) 435-462 10.1142/s0219635216500333
  4. Hongxuan Guo, Chengxiang Wang, Kun’ichi Miyazawa, Hongxin Wang, Hideki Masuda, Daisuke Fujita. Thermal decomposition of fullerene nanowhiskers protected by amorphous carbon mask. Scientific Reports. 6 [1] (2016) 38760 10.1038/srep38760 Open Access
  5. Hongxin Wang, Hideki Masuda, Hideaki Kitazawa, Keiko Onishi, Masamichi Kawai, Daisuke Fujita. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. Japanese Journal of Applied Physics. 55 [10] (2016) 106602 10.7567/jjap.55.106602
  6. C. Sakai, N. Ishida, H. Masuda, S. Nagano, M. Kitahara, Y. Ogata, D. Fujita. Active voltage contrast imaging of cross-sectional surface of multilayer ceramic capacitor using helium ion microscopy. Applied Physics Letters. 109 [5] (2016) 051603 10.1063/1.4960524
  7. Mrinal Dutta, Kanad Ray, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. A simultaneous one pot synthesis of two fractal structures via swapping two fractal reaction kinetic states. Physical Chemistry Chemical Physics. 18 [22] (2016) 14772-14775 10.1039/c6cp00447d
  8. Sonya Kosar, Yuriy Pihosh, Ivan Turkevych, Kazuma Mawatari, Jin Uemura, Yutaka Kazoe, Kikuo Makita, Takeyoshi Sugaya, Takuya Matsui, Daisuke Fujita, Masahiro Tosa, Yaroslav M. Struk, Michio Kondo, Takehiko Kitamori. Tandem photovoltaic–photoelectrochemical GaAs/InGaAsP–WO3/BiVO4device for solar hydrogen generation. Japanese Journal of Applied Physics. 55 [4S] (2016) 04ES01 10.7567/jjap.55.04es01
2015
  1. Oleksandr Stetsovych, Milica Todorović, Tomoko K. Shimizu, César Moreno, James William Ryan, Carmen Pérez León, Keisuke Sagisaka, Emilio Palomares, Vladimír Matolín, Daisuke Fujita, Ruben Perez, Oscar Custance. Atomic species identification at the (101) anatase surface by simultaneous scanning tunnelling and atomic force microscopy. Nature Communications. 6 [1] (2015) 7265 10.1038/ncomms8265 Open Access
  2. Tao Liang, Guangyu He, Guowei Huang, Yuhan Kong, Weifei Fu, Hongzheng Chen, Qi Wang, Hideo Iwai, Daisuke Fujita, Yingchun Liu, Mingsheng Xu. Graphene Nucleation Preferentially at Oxygen-Rich Cu Sites Rather Than on Pure Cu Surface. Advanced Materials. 27 [41] (2015) 6404-6410 10.1002/adma.201501473
  3. 石田 暢之, 福満 仁志, 藤田 大介. 走査型オージェ電子顕微鏡によるリチウムの化学状態イメージング. Journal of the Vacuum Society of Japan. 58 [10] (2015) 379-386 10.3131/jvsj2.58.379 Open Access
  4. 藤田 大介. Si酸化超薄膜の超高真空高温場における還元分解/再析出過程 ~NC-AFM/STM/AESによるin situ解析~. 表面科学. 36 [9] (2015) 459-464 10.1380/jsssj.36.459
  5. Nobuyuki Ishida, Masafumi Jo, Takaaki Mano, Yoshiki Sakuma, Takeshi Noda, Daisuke Fujita. Direct visualization of the N impurity state in dilute GaNAs using scanning tunneling microscopy. Nanoscale. 7 [40] (2015) 16773-16780 10.1039/c5nr04193g
  6. Subrata Ghosh, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. An organic jelly made fractal logic gate with an infinite truth table. Scientific Reports. 5 [1] (2015) 11265 10.1038/srep11265 Open Access
  7. Yuriy Pihosh, Ivan Turkevych, Kazuma Mawatari, Jin Uemura, Yutaka Kazoe, Sonya Kosar, Kikuo Makita, Takeyoshi Sugaya, Takuya Matsui, Daisuke Fujita, Masahiro Tosa, Michio Kondo, Takehiko Kitamori. Photocatalytic generation of hydrogen by core-shell WO3/BiVO4 nanorods with ultimate water splitting efficiency. Scientific Reports. 5 [1] (2015) 11141 10.1038/srep11141 Open Access
  8. Jun Li, Gufei Zhang, Wei Hu, Ya Huang, Min Ji, Han-Cong Sun, Xian-Jing Zhou, De-Yue An, Lu-Yao Hao, Qiang Zhu, Jie Yuan, Kui Jin, Hong-Xuan Guo, Daisuke Fujita, Takeshi Hatano, Kazunari Yamaura, Eiji Takayama-Muromachi, Hua-Bing Wang, Pei-Heng Wu, Johan Vanacken, Victor V. Moshchalkov. High upper critical fields of superconducting Ca10(Pt4As8)(Fe1.8Pt0.2As2)5 whiskers. Applied Physics Letters. 106 [26] (2015) 262601 10.1063/1.4923216
  9. Ryo Kadowaki, Misaki Kuriyama, Tadashi Abukawa, Keisuke Sagisaka, Daisuke Fujita. PEEM and Micro PES Study of Graphene Growth on Ni(110) Substrate. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 13 [0] (2015) 347-351 10.1380/ejssnt.2015.347 Open Access
  10. Satyajit Sahu, Subrata Ghosh, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Live visualizations of single isolated tubulin protein self-assembly via tunneling current: effect of electromagnetic pumping during spontaneous growth of microtubule. Scientific Reports. 4 [1] (2015) 7303 10.1038/srep07303 Open Access
  11. Subrata Ghosh, Somnath Chatterjee, Anirban Roy, Kanad Ray, Snehasikta Swarnakar, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Resonant Oscillation Language of a Futuristic Nano-Machine-Module: Eliminating Cancer Cells & Alzheimer Aβ Plaques. Current Topics in Medicinal Chemistry. 15 [6] (2015) 534-541 10.2174/1568026615666150225101155
2014
  1. Koji Matsumura, Takaya Fujita, Hiroshi Itoh, Daisuke Fujita. Characterization of carrier concentration in CIGS solar cells by scanning capacitance microscopy. Measurement Science and Technology. 25 [4] (2014) 044020 10.1088/0957-0233/25/4/044020
  2. Takaya Fujita, Koji Matsumura, Hiroshi Itoh, Daisuke Fujita. Analytical procedure for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy. Measurement Science and Technology. 25 [4] (2014) 044021 10.1088/0957-0233/25/4/044021
  3. Subrata Ghosh, Mrinal Dutta, Satyajit Sahu, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Nano Molecular-Platform: A Protocol to Write Energy Transmission Program Inside a Molecule for Bio-Inspired Supramolecular Engineering. Advanced Functional Materials. 24 [10] (2014) 1364-1371 10.1002/adfm.201302111
  4. Nobuyuki Ishida, Hitoshi Fukumitsu, Hiroshi Kimura, Daisuke Fujita. Direct mapping of Li distribution in electrochemically lithiated graphite anodes using scanning Auger electron microscopy. Journal of Power Sources. 248 (2014) 1118-1122 10.1016/j.jpowsour.2013.09.121
  5. Subrata Ghosh, Krishna Aswani, Satyajit Sahu, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Design and Construction of a Brain-Like Computer: A New Class of Frequency-Fractal Computing Using Wireless Communication in a Supramolecular Organic, Inorganic System. Information. 5 [1] (2014) 28-100 10.3390/info5010028 Open Access
  6. Hongxuan Guo, Jianhua Gao, Nobuyuki Ishida, Mingsheng Xu, Daisuke Fujita. Characterization of two-dimensional hexagonal boron nitride using scanning electron and scanning helium ion microscopy. Applied Physics Letters. 104 [3] (2014) 031607 10.1063/1.4862819
  7. Carmen Pérez León, Keisuke Sagisaka, Daisuke Fujita, Liyuan Han. Ethanol adsorption on rutile TiO2(110). RSC Advances. 4 [17] (2014) 8550 10.1039/c3ra47369d
2013
  1. Satyajit Sahu, Subrata Ghosh, Batu Ghosh, Krishna Aswani, Kazuto Hirata, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Atomic water channel controlling remarkable properties of a single brain microtubule: Correlating single protein to its supramolecular assembly. Biosensors and Bioelectronics. 47 (2013) 141-148 10.1016/j.bios.2013.02.050
  2. 藤田 大介. 応力・歪み場走査型プローブ顕微鏡の開発と応用. 顕微鏡. 48 [2] (2013) 118-123
  3. 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡データマネジメントの標準化. Journal of the Vacuum Society of Japan. 56 [7] (2013) 252-257 10.3131/jvsj2.56.252
  4. Michael Marz, Keisuke Sagisaka, Daisuke Fujita. Ni nanocrystals on HOPG(0001): A scanning tunnelling microscope study. Beilstein Journal of Nanotechnology. 4 (2013) 406-417 10.3762/bjnano.4.48 Open Access
  5. Mingsheng Xu, Jie Li, Nobutaka Hanagata, Huanxing Su, Hongzheng Chen, Daisuke Fujita. Challenge to assess the toxic contribution of metal cation released from nanomaterials for nanotoxicology – the case of ZnO nanoparticles. Nanoscale. 5 [11] (2013) 4763 10.1039/c3nr34251d
  6. Keisuke Sagisaka, Michael Marz, Daisuke Fujita, David Bowler. Adsorption of phosphorus molecules evaporated from an InP solid source on the Si(100) surface. Physical Review B. 87 [15] (2013) 155316 10.1103/physrevb.87.155316
  7. Satyajit Sahu, Subrata Ghosh, Kazuto Hirata, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Multi-level memory-switching properties of a single brain microtubule. Applied Physics Letters. 102 [12] (2013) 123701 10.1063/1.4793995
  8. Ikufumi KATAYAMA, Sho KOGA, Jun TAKEDA, Shunichi HISHITA, Daisuke FUJITA, Masahiro KITAJIMA. Electron–phonon coupling and defect scatterings in Ar+-ion implanted graphite. Journal of the Ceramic Society of Japan. 121 [1411] (2013) 291-294 10.2109/jcersj2.121.291 Open Access
  9. 藤田 大介. SPM標準化：ISO TC201 SC9での標準化活動について. 精密工学会誌. 79 [3] (2013) 213-217
  10. FUJITA, Daisuke. Standardization of Data Transfer Format for Scanning Probe Microscopy. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 19 [3] (2013) 188-194
  11. Nobuyuki Ishida, Daisuke Fujita. Chemical-state imaging of Li using scanning Auger electron microscopy. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 186 (2013) 39-43 10.1016/j.elspec.2013.03.001
2012
  1. Mingsheng Xu, Jie Li, Hideo Iwai, Qingsong Mei, Daisuke Fujita, Huanxing Su, Hongzheng Chen, Nobutaka Hanagata. Formation of Nano-Bio-Complex as Nanomaterials Dispersed in a Biological Solution for Understanding Nanobiological Interactions. Scientific Reports. 2 [1] (2012) 406 10.1038/srep00406 Open Access
  2. Nobuyuki Ishida, Daisuke Fujita. Adsorption of Co-Phthalocyanine on the Rutile TiO2(110) Surface: A Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy Study. The Journal of Physical Chemistry C. 116 [38] (2012) 20300-20305 10.1021/jp303152c
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2020
  1. 藤田 大介. 表面反応. 株式会社エヌ・ティー・エス, 2020
2018
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  2. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Scanning Helium Ion Microscope. Springer, 2018
  3. BANDYOPADHYAY, Anirban, FUJITA, Daisuke, SAXENA, Komal, VIJAYAKUMAR Karthik Kadaba, KUMAR Suryakant. Wireless communication through microtubule analogue device: noise driven machines in the biosystems. Springer Nature, 2018
2017
  1. Lokesh Agrawal, Rutuja Chhajed, Subrata Ghosh, Batu Ghosh, Kanad Ray, Satyajit Sahu, Daisuke Fujita, Anirban Bandyopadhyay. Fractal Information Theory (FIT)-Derived Geometric Musical Language (GML) for Brain-Inspired Hypercomputing. Advances in Intelligent Systems and Computing　584. Springer Singapore, 2017, 343-372. 10.1007/978-981-10-5699-4_33
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2007
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用 . 真空. (2007) 202-204
  2. GUO, XINLI, FUJITA, Daisuke, NIORI, NORIKO, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Scanning tunneling microscopy luminescencefrom nanoscale surface of GaAs(110). SURFACE SCIENCE. (2007) 5280-5283
2005
  1. YAKABE, Taro, 寺井慶和, 安塚周磨, 寺倉千恵子, TERASHIMA, Taichi, UJI, Shinya, FUJITA, Daisuke, KIDO, Giyuu. Influence for quantum corrections of electrical conductivities in percolative thin films. Proceedings of the 10th international symposium on Advanced Physical Fields. (2005) 303-307
  2. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. (2005) 19-26
  3. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems. (2005) 79-80
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Studies on Sprout-like Growth of Carbon Nanowires on Carbon-Doped Ni Surfaces. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (2004) 202-203

口頭発表 TSV

2023
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡の像コントラストの検討. NanospecFY2022mini. 2023
2022
  1. ONISHI, Keiko, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke, YAKABE, Taro, ITAKURA, Akiko. Molecular Structure of Sputtered Neutral Species with Cluster Ion. 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22. 2022
  2. SAGISAKA, Keisuke, NARA, Jun, Jill Wenderott, 門脇良, 丸田茜, 虻川匡司, FUJITA, Daisuke. Influence of sulfur atoms on the growth of graphene on a nickel surface. THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS IVC-22. 2022
2021
  1. 藤田 大介, 竹口 雅樹. 最先端微細構造解析共用基盤の構築によるマテリアルイノベーションの加速. 日本顕微鏡学会第77回学術講演会. 2021 招待講演
2020
  1. 藤田 大介. オペランド表面ナノプローブ計測技術の開発と電池応用. 2020ナノ科学シンポジウム. 2020 招待講演
  2. 藤田 大介. SPM によるオペランドナノ計測の紹介、およびニーズにどう応えるか. 科学技術未来戦略ワークショップ「次世代オペランド計測 ～機能計測による新しい科学技術へ～」. 2020 招待講演
  3. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020
  4. 藤田 大介. 動的表面オペランドナノ計測によるナノ構造創製と機能発現. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020 招待講演
  5. 藤田 大介. VAMAS RRT for Shape and Size Analysis of Nano-particles by Atomic Force Microscopy. Virtual Training Course, Metrology for Measurement of Nanoparticle Size by Electron Microscopy & Atomic Force Microscopy. 2020 招待講演
  6. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. シリコン表面インジウム原子層のモアレ構造. 新学術領域「ハイパーマテリアル」第4回Web領域会議. 2020
2019
  1. ISHIDA, Nobuyuki, 伊藤 大悟, MASUDA, Hideki, FUJITA, Daisuke. Dynamic visualization of battery reactions by operando Kelvin probe force microscopy. The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface”. 2019 招待講演
  2. MASUDA, Hideki, ISHIDA, Nobuyuki, 伊藤 大悟, FUJITA, Daisuke. Operando visualization of electrical potential distributions in all-solid-state lithium ion battery using Kelvin probe force microscopy. The 10th Asian Conference on Electrochemical Power Sources 2019. 2019 招待講演
  3. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 幾何学的位相解析による不整合変調構造の解析. 第2回日本表面真空学会若手部会研究会. 2019
  4. 鈴木 雅彦, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, 山内 泰, 藤田 大介. スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡によるCo/W(110)における磁化の傾き角の膜厚依存性の解析. 2019年日本表面真空学会学術講演会. 2019
  5. OH, Koukin, GOTO, Kenta, ZHANG, Han, TAMURA, Ryo, WATANABE, Ikumu, DA, Bo, HANAGATA, Nobutaka, FUJITA, Daisuke. High spatial and temporal resolution mapping of active stress on the surface of living material. 2019日本表面真空学会学術講演会. 2019
  6. SUZUKI, Masahiko, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, YAMAUCHI, Yasushi, FUJITA, Daisuke. Thickness dependence of magnetization tilt angle in Co layers on W(110) studied with high brightness and highly spin-polarized LEEM. 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19). 2019
  7. SUZUKI, Masahiko, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, YAMAUCHI, Yasushi, FUJITA, Daisuke. Oscillating spin reorientation transition in Co layers on W(110). 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19). 2019 招待講演
  8. 藤田 大介. 「オペランド」～電池材料開発の最前線に立つ新たな計測技術～. 第9回CSJ化学フェスタ. 2019 招待講演
  9. 藤田 大介. 表面科学における計測インフォマティクス. 計測分析プラットフォーム第193委員会第2回公開講演会　. 2019 招待講演
  10. NARA, Jun, SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. Theoretical study on surface structures of S/Ni(110). 21st International Vacuum Congress (IVC21). 2019
  11. FUJITA, Daisuke. Materials Innovation and Standardization through VAMAS International Collaboration Scheme. 7th International Conference on Self-healing Materials (ICSHM2019). 2019 招待講演
  12. 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡による電位分布の動的観察： 全固体リチウムイオン電池の評価. NIMS先端計測シンポジウム2019. 2019 招待講演
  13. OH, Koukin, ZHANG, Han, TAMURA, Ryo, FUJITA, Daisuke. Application of machine-learning AFM in cancer cell identification. NIMS先端計測シンポジウム2019. 2019
  14. FUJITA, Daisuke. International Standardization of Nanoscale Characterization using Scanning Probe Microscopy through VAMAS. First Indian Materials Conclave and 30th Annual General Meeting of MRSI. 2019 招待講演
  15. 藤田 大介. オペランド表界面ナノ計測技術の開発とエネルギーデバイスへの応用. 第14回表面技術会議　ASTEC2019 . 2019 招待講演
  16. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. シリコン表⾯インジウム超構造におけるサブオングストローム⾯内変位分布の可視化. ⽇本顕微鏡学会 超⾼空間分解能SPMの最前線. 2019 招待講演
  17. 藤田 大介. グリーンマテリアル・イノベーションを支えるオペランド表界面ナノ計測の開発と応用. 第19回 GREENシンポジウム. 2019
2018
  1. FUJITA, Daisuke. Operando Nanocharacterization. SPM Seminar and Workshop at NSTDA. 2018 招待講演
  2. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. STM観察とDFT計算によるインジウム原子層超伝導体の結晶構造決定. 第26回渦糸物理国内会議. 2018
  3. 鷺坂 恵介, 奈良 純, 藤田 大介. Ni(110)-c(22)S表面におけるグラフェンの成長. 2018年　日本表面真空学会学術講演会. 2018
  4. 藤田 大介. 定量的なガス放出速度の測定法の開発と応用. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  5. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. Si(111)-√7×√3-In 表面における静電遮蔽効果の STM 観測. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  6. ZHANG, Han, TANG, Jie, FUJITA, Daisuke, YAMAUCHI, Yasushi, QIN, Luchang. The United Conflict between Stability and Low Work Function: the Case of LaB6 Nanowire Cold Cathode. ２０１８年日本表面真空学会学術講演会. 2018 招待講演
  7. 藤田 大介. データ科学を活用した表面表層計測の高度化　~発展の歴史と将来展望~. 第47回薄膜・表面物理基礎講座. 2018 招待講演
  8. OH, Koukin, ZHANG, Han, GOTO, Kenta, WATANABE, Ikumu, KITAZAWA, Hideaki, 河井昌道, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke. Nanometric In-situ Stress Mapping Reveals Why Brittle Carbon Fiber Becomes Tough in CFRP Composite. 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議　(SIP-IMASM2018). 2018
  9. OH, Koukin, ZHANG, Han, KITAZAWA, Hideaki, GOTO, Kenta, TANG, Daiming, WATANABE, Ikumu, 河井昌道, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke. Modulus hardening of carbon fiber and its application in non-destructive stress sensing for CFRP. 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議　(SIP-IMASM2018). 2018
  10. OH, Koukin, ZHANG, Han, 河井昌道, WATANABE, Ikumu, GOTO, Kenta, KITAZAWA, Hideaki, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke. Stable Fracture Growth in a Brittle Carbon Fiber Revealed by Nanoscale Stress Mapping using a Scanning Probe. 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議　(SIP-IMASM2018). 2018
  11. 藤田 大介. オペランド表界面ナノ機能計測法の開発と応用. 第１回「実用エネルギー材料開発のためのオペランド解析研究会」. 2018 招待講演
  12. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope. ACSIN-14. 2018
  13. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. Si(111)-(√7×√3)-In の一軸性不整合構造の STM 観察. ACSIN-14 & ICSPM26. 2018
  14. 藤田 大介. オペランドナノプローブ電位計測技術の開発と電池応用. JASISコンファレンス走査型プローブ顕微鏡分科会セミナー. 2018 招待講演
  15. SAKAI, Chikako, SHIRAI, Yasuhiro, MIYANO, Kenjiro, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging of Perovskite Solar Cell using Helium Ion Microscope. 第18回GREENシンポジウム. 2018
  16. 石田 暢之, 藤田 大介. ケルビンプローブフォース顕微鏡によるペロブスカイト太陽電池の電荷分離位置評価. 平成30年度大阪大学国際合同会議 “次世代機能性材料・表面/界面物. 2018 招待講演
  17. 藤田 大介. 表面多機能ナノプローブ法と極限計測技術に関する研究. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018 招待講演
  18. 藤田大介. 次世代電池のオペランド・ナノプローブ電位計測. ナノプローブテクノロジー第１６７委員会　第８８回研究会. 2018 招待講演
  19. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. Si(111)-(√7×√3)-In 表面における一軸性格子不整合の実空間観測. 日本表面科学会プローブ顕微鏡研究部会（他2部会）合同シンポジウム. 2018
  20. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 傾斜シリコン基板上に成長したインジウム原子層の超伝導. 日本物理学会 第73回年次大会. 2018
  21. 鈴木 雅彦, 石田 暢之, 倉橋 光紀, 山内 泰, 藤田 大介, 安江常夫, 越川孝範. Ni(110)上のグラフェンのLEEM観察. 第65回 応用物理学会 春季学術講演会. 2018
  22. 菱田 俊一, 三石 和貴, 北澤 英明, 藤田 大介. Nanotech CUPALによる人材育成. 日本セラミックス協会2018年年会. 2018
  23. 北澤 英明, 渡邉 騎通, Jakub Szabelewsk, 間宮 広明, 藤田 大介. TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解観測. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  24. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. Operando Visualization of Li Distribution and Electrical Potential Distribution in All-Solid-State LIB. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  25. 酒井 智香子, 白井 康裕, 宮野 健次郎, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡によるペロブスカイト太陽電池の二次電子像観察. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  26. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介. Informatics-aided Confocal Raman Microscopy for 3D Stress Characterization . MI・計測　合同シンポジウム NIMS先端計測シンポジウム 2018. 2018
  27. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 傾斜シリコン基板上に成長したインジウム原子層の超伝導. MANA International Symposium 2018. 2018
  28. 藤田 大介. 研究開発におけるシニア研究者の内外における活躍について. Japan Researcher’s Network (JRN) 設立記念シンポジウム. 2018 招待講演
  29. 藤田 大介. Informatics for Materials and Analysis Technology - Current Status and Prospect. 21st SANKEN International Symposium. 2018 招待講演
2017
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017
  2. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 傾斜シリコン基板上インジウム原子層の超伝導. 第25回渦糸物理国内会議. 2017
  3. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. 断面KPFMを用いた全固体LIBのその場電位計測. 第4回電池材料解析ワークショップ. 2017 招待講演
  4. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. 全固体型LIBの断面におけるLi分布変化計測. 第58回電池討論会. 2017
  5. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical Potential Imaging of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  6. KITAZAWA, Hideaki, WATANABE, Norimichi, SZABELEWSKI, Jakub, Jakub Szabelewsk, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke. Observation of interface melting in the Si/ Al interface by TOF-SIMS. ISSS-8. 2017
  7. 鈴木 雅彦, 倉橋 光紀, 山内 泰, 石田 暢之, 藤田 大介, 安江常夫, 越川孝範. Observation of Graphene on Ni(110) with SPLEEM. ISSS-8. 2017
  8. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介. 3D Characterization of Stress Evolution in Opaque Materials Using sub-micrometer sized laser. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  9. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. Charging-induced Changes in Li Distribution at Cathode Composite Electrode of All-solid-state Li-ion Batteries Visualized by Cross-sectional Operando Analysis. ISSS-8. 2017
  10. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. 平行磁場中 Si(111)-(√7×√3)-In の超伝導. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  11. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介. Informatics-aided Confocal Raman Microscopy for 3D Stress Characterization. NIMS WEEK 2017. 2017
  12. WATANABE, Norimichi, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke, KITAZAWA, Hideaki. Interface melting in the Si/Al interface observed by TOF-SIMS. SIP-IMASM 2017. 2017
  13. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介. 情報理論を利用したコンフォーカル・ラマン顕微鏡によるSiの3次元応力分布評価. 第3回内閣府SIP革新的構造材料先端計測拠点TIA-Fraunhofer合同国際シ. 2017
  14. 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆. Si(111)-(√7×√3)-In の STM/STS と DFT. 日本物理学会 2017年秋季大会. 2017
  15. 藤田 大介. Operando Nanoscale Characterization of Solid-State-Lithium Ion Batteries. IUMRS-ICAM 2017. 2017 招待講演
  16. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測. 平成２９年度第一回かけはし研究会. 2017 招待講演
  17. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察. 2017年真空・表面科学合同講演会. 2017
  18. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical potential distribution of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. 15th GREEN Symposium. 2017
  19. BANDYOPADHYAY, Anirban, AGRAWAL, Lokesh, FUJITA, Daisuke. A classification of neuron proteins based on their vibrations. Japanese Neuroscience Society. 2017
  20. AGRAWAL, Lokesh, Takashi Shiga, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban. A classification of neuron proteins based on their vibrations. Japanese Neuroscience Society. 2017
  21. 藤田 大介. Characterization and Synthesis of Graphene and Related Low Dimensional Nanomaterials. Workshop on Measurement Challenges for 2D Materials. 2017 招待講演
  22. 藤田 高弥, 井藤浩志, 藤田 大介. Calibration of carrier concentration of Electric SPM (SSRM and SCM). International Symposium on SPM Standardization 2017. 2017 招待講演
  23. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope. Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017
  24. 藤田 大介. SPM計測の定量化と標準化. 日本学術振興会第141委員会平成29年度研修セミナー"SPMの基礎と. 2017 招待講演
  25. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会　第2回関東支部講演大会. 2017
  26. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介. 3D Analysis of Stress Dynamics in Si(100) by Confocal Raman Microscopy. 日本表面科学会第2回関東支部講演大会. 2017
  27. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介. 電圧印加値を変化させた積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017
  28. 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介. 3D confocal Raman mapping of stress induced by indentation on Si(100). 共用・計測　合同シンポジウム2017. 2017
  29. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介. 電圧印加機構のヘリウムイオン顕微鏡への導入と電圧印加積層型セラミックコンデンサの二次電子像観測. 共用・計測　合同シンポジウム 2017. 2017
  30. 藤田 大介. 表面分析とマテリアルズ・インフォマティクス. 表面科学セミナー2017『マテリアルズ・インフォマティクスの最前線』. 2017 招待講演
  31. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形 曜一郎, 伊藤 大悟, 藤田 大介. その場ケルビンプローブフォース顕微鏡によるリチウム電池正極内部の電位分布観察. The 2nd international symposium on “Recent Trends in Analysis T. 2017 招待講演
2016
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による構造色発現の解析. 第4回メゾスコピック研究会. 2016 招待講演
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, MASUDA, Hideki, NAGANO, Shoko, KITAHARA, Masayo, OGATA Yoichiro, FUJITA, Daisuke. Active Voltage Contrast Imaging of Multilayer Ceramic Capacitor using Helium Ion Microscopy. NIMS WEEK 2016. 2016
  3. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced In Situ Multi-scale Characterization of Mechanical Properties of Carbon-fiber-reinforced Plastic. NIMS WEEK 2016. 2016
  4. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. Operando analysis of all-solid-state Lithium ion batteries using nanoscale electrical potential measurement and Li mapping. NIMS WEEK 2016. 2016
  5. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. その場KPFM計測による全固体LIB内部電位分布の計測. 表面科学会第4回関東支部セミナー. 2016
  6. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. 日本表面科学会関東支部第4回関東支部セミナー表面・薄膜分析シリー. 2016
  7. 酒井 智香子, 石田 暢之, 増田 秀樹, 永野 聖子, 北原 昌代, 小形　曜一郎, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラストの影響を反映した二次電子像の研究. 日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー. 2016
  8. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. 第2回 内閣府SIP革新的構造材料 先端計測拠点国際会議. 2016
  9. 増田 秀樹, 藤田 大介. 多機能走査型プローブ顕微鏡による鋳鉄中の球状炭素の解析. 日本鋳造工学会第168回全国講演大会. 2016 招待講演
  10. 王 洪欣, 藤田 大介. A 2D and 3D Raman Mapping of Residual Stresses Induced by Indentation. 2016年秋期講演（第159回）大会プログラム. 2016
  11. 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. 断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化. IVC20 第20回 国際真空学術会議・展示会. 2016
  12. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大吾, 藤田 大介. Operando measurement of All-Solid-State type Lithium-ion Batteries in an inert atmosphere. 20th IVC. 2016
  13. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. KPFMを用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測. 第4回酸化物研究の新機軸に向けた学際討論会. 2016 招待講演
  14. 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡による先端材料解析. 第6回　NIMS講演会. 2016 招待講演
  15. 増田 秀樹, 藤田 大介. SPMインデンテーションを用いたナノメートルサイズの硬度評価試験. 日本表面科学会関東支部第１回講演大会. 2016
  16. 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. 断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化. ISPlasma2016/IC-PLANTS2016. 2016
  17. 北澤 英明, 新海　尋, 渡邉 騎通, 田巻　明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久. TOF-SIMSと放射線計測による粘土鉱物へのCs吸着挙動に関する研究. 共用・計測　合同シンポジウム2016. 2016
  18. 増田 秀樹, 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡を用いた球状黒鉛鋳鉄のマルチスケール断面観察. 共用・計測合同シンポジウム2016. 2016
  19. FUJITA, Daisuke. Operando Nanoscale Characterization of GREEN Materials. 16th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2016 招待講演
  20. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 全固体型リチウムイオン電池のその場KPFM計測. 機能性材料・デバイス解析ナノプローブテクノロジー研究会. 2016
  21. 藤田 大介. ハードウエアプラットフォームの構築に向けて. 講演会「我が国の計測分析プラットフォームを. どのように構築すべき. 2016 招待講演
2015
  1. 藤田 大介, 石田 暢之, 増田 秀樹, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. Cを固溶させたPt(111)基板に表面析出した単層グラフェンのマルチスケール解析. 2015年真空・表面科学合同講演会　第35回表面科学学術講演会　講演要. 2015
  2. 大西 桂子, 酒井 智香子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加熱中その場観察. 2015年真空・表面科学合同講演会. 2015
  3. 鷺坂 恵介, 藤田 大介, デビッドボウラー. Si(100)表面に埋め込まれた リン-シリコンヘテロダイマーの研究. 2015年真空・表面科学合同講演会. 2015
  4. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. その場断面計測を用いた全固体型LIBの解析. 第35回表面科学会学術講演会. 2015
  5. 王 洪欣, 北澤 英明, 河井　昌道, 藤田 大介. Advanced Multi-functional Characterization of High Strength CFRP Materials. 第35回表面科学学術講演会. 2015
  6. 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡によるエネルギー変換・貯蔵デバイスのオペランド計測. 2015年真空・表面科学合同講演会. 2015 招待講演
  7. 増田 秀樹, 藤田 大介. リアルナノ・インデンテーション試験による球状黒鉛鋳鉄の強度評価. ナノ構造・物性−ナノ機能・応用部会合同シンポジウム. 2015
  8. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 全固体型LIBの不活性雰囲気動作その場KPFM断面計測. 第56回電池討論会. 2015
  9. 藤田 大介, 三石 和貴, 橋本 綾子, 石田 暢之, 増田 卓也, 野口 秀典. 環境エネルギー材料のGREEN表界面計測技術. NIMSフォーラム. 2015 招待講演
  10. 王 洪欣, 藤田 大介, 北澤 英明, 河合　昌道. Advanced In Situ Multi-functional Characterization of High Strength CFRP Materials. 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議 (SIP-IMASM2015). 2015
  11. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, WANG, Hongxin, MASUDA, Hideki. Nanoscale Characterization of Structural Composite Materials. 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議　SIP-IMASM 2015. 2015
  12. 鷺坂 恵介, 藤田 大介, David Bowler. STMとDFTによるSi(100)表面のリン-シリコンヘテロダイマーの研究. 日本物理学会2015年秋季大会. 2015
  13. 増田 秀樹, 藤田 大介. マルチスケール断面計測による黒鉛球状化機構の解明. 日本金属学会2015年秋期(第157回)講演大会. 2015
  14. 王 洪欣, 藤田 大介, 北澤 英明, 河合　昌道. Advanced Characterization Technology for High Strength CFRP Materials. 2015年 秋期(第157回)講演大会. 2015
  15. 石田 暢之, 藤田 大介. KPFM測定における探針平均化効果の評価. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015
  16. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 不活性雰囲気動作した全固体型LIBのその場KPFM計測. 第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015
  17. 藤田 大介, 石田 暢之. 次世代太陽電池の可視光照射下における動的SPMナノ計測. 第76回応用物理学会秋季学術講演会　The 76th JSPS Autumn Meeting 2. 2015 招待講演
  18. 清水正太郎, 成重卓真, 大野真也, 田中正俊, 鷺坂 恵介, 艸分 倫子, 藤田 大介. 走査トンネル分光を用いた鉄シリサイド超薄膜電子状態の測定. 第76回応用物理学会秋期学術講演会. 2015
  19. 藤田 大介. JSCA全体説明. JSCA表面化学分析国際標準化セミナ 表面分析・マイクロビームアナリ. 2015 招待講演
  20. 藤田 大介. Novel Synthesis and Nanocharacterization of Graphene and Related 2D Nanomaterials Formed by Surface Segregation. 2015 Int. 2015 招待講演
  21. 北澤 英明, 新海尋, 渡邉 騎通, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久. 粘土鉱物へのCs吸着に関するTOF-SIMSとアートラジオグラフィーによる研究. NIMS Conference 2015. 2015
  22. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. KPFM measurement of all-solid-state LIB with in situ operation in Ar atmosphere. NIMS conference 2015. 2015
  23. 藤田 大介. ナノプローブ顕微鏡による ナノ計測とナノ加工 . 実用顕微評価技術セミナー2015. 2015
  24. 藤田 大介. 材料分野におけるオープンサイエンスについて. オープンサイエンスの取組に関する検討委員会（第2回）. 2015 招待講演
  25. 増田 秀樹, グオ ホングゥアン, 藤田 大介. 多機能SPMによる球状黒鉛鋳鉄の断面観察. 顕微鏡学会第71回学術講演会. 2015
  26. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形　曜一郎, 藤田 大介. 全固体型LIBの不活性雰囲気中電池動作その場マッピング. 顕微鏡学会第71回学術講演会. 2015
  27. FUJITA, Daisuke. Reproducible Restoration Methodology for AFM Topography Images using Probe Shape Function. The 5th International Symposium on SPM Standardization SPM2015 . 2015 招待講演
  28. 清水正太郎, 成重卓真, 艸分 倫子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 大野真也, 田中正俊. p(2×2)表面再構成構造をもつ鉄シリサイド電子状態の走査トンネル分光による再検討. 日本物理学会第70回年次大会. 2015
  29. 藤田 大介. 微細構造解析プラットフォームの紹介. 日本顕微鏡学会SPM分科会オープン研究会/微細構造解析プラットフォー. 2015 招待講演
  30. 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介. 共用・計測合同シンポジウム2015. 2015
  31. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 不活性雰囲気中動作その場マッピングによる全固体型LIBの解析. 共用・計測　合同シンポジウム2015. 2015
  32. 藤田 大介. 材料イノベーションを加速するオープンサイエンスの動向. 内閣府CSTI 国際的動向を踏まえたオープンサイエンスに関する検討会. 2015 招待講演
  33. FUJITA, Daisuke. Controlled Graphene Growth Mediated by Surface Segregation. 15th International Symposium on Biomimetic Materials Processing . 2015 招待講演
2014
  1. 藤田 大介. ナノ素材計測に向けた共通プラットフォームの構築と展開. 日本学術会議（化学委員会・分析化学委員会）企画講演会「ナノ素材と. 2014 招待講演
  2. 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化. 22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2014
  3. MASUDA, Hideki, ISHIDA, Nobuyuki, FUJITA, Daisuke. Surface Potential Mapping of Sputtered All-Solid-State Lithium-Ion Batteries using Kelvin Probe Force Microscopy. ICSPM22. 2014
  4. 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 鷺坂 恵介. Synthesis of Graphene via Surface Segregation and Reaction . Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings & Interfaces . 2014
  5. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 全固体リチウムイオン二次電池評価のためのその場TOF-SIMS測定システムの開発. 第55回電池討論会. 2014
  6. 石田 暢之, 藤田 大介. 光照射場SPMによる次世代太陽電池のナノ-マクロ発電機能解析. 日本顕微鏡学会第58回シンポジウム. 2014 招待講演
  7. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介. 全固体型LIBの不活性雰囲気中動作のその場マッピング法の開発. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  8. 藤田 大介. Si酸化超薄膜の超高真空高温場における還元分解／再析出過程~UHV-AFM/STM/AESによるin situ解析~. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  9. 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化. The 7th International Symposium on Surface Science. 2014
  10. 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 鷺坂 恵介. Key Role of Surface Segregation for Controlled Graphene Growth. The 7th International Symposium on Surface Science . 2014
  11. MASUDA, Hideki, ISHIDA, Nobuyuki, Yoichiro Ogata, FUJITA, Daisuke. Development of In-Situ TOF-SIMS Measurement System for Characterization of All-Solid-State Li-ion Battery. ISSS-7 (The 7th International Symposium on Surface Science). 2014
  12. ジルウェンダロット, 鷺坂 恵介, 松下恭介, 藤田 大介. STMによるNi(110)-2x2S表面に成長したグラフェンの研究. The 7th international symposium on surface science. 2014
  13. FUJITA, Daisuke, GUO, Hongxuan. Surface Segregation, Surface Reaction and Surface Precipitation for Single-to-Few Layer Graphene and hexagonal BN Growth. The 1st Int. Conf. on Two-Dimensional Layered Materials . 2014 招待講演
  14. 北澤 英明, 新海尋, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久. TOF-SIMS等を用いた粘土鉱物へのCs吸着挙動II. 第58回粘土科学討論会. 2014
  15. 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化. 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014
  16. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形　曜一郎, 藤田 大介. 充放電したLIBのその場TOF-SIMS元素マッピング法の開発. 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014
  17. 藤田 大介. 最先端ナノプローブ計測によるマテリアル解析. 微細構造解析プラットフォーム 2014年度第1回ワークショップ . 2014
  18. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 岩崎 多摩樹. Nanoscale Metrology and Characterization of Nano-objects by Scanning Probe Microscopy. IUMRS-ICA 2014. 2014
  19. 藤田 大介. Characterization of Nanomaterials toward Nano-risk Assesment. 3rd Workshop on the Risk Management of Engineered Nanomaterils. 2014 招待講演
  20. 石田 暢之, 野田 武司, 間野 高明, 佐久間 芳樹, 韓 礼元, 藤田 大介. 断面KPFMによる多重量子井戸太陽電池中のポテンシャル分布計測. Non-contact atomic force microscopy 2014. 2014
  21. 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 岩崎 多摩樹. Quantitative Topography Measurement by Atomic Force Microscopy using Probe Shape Function. The 4th International Symposium on SPM Standardization (SPM2014). 2014 招待講演
  22. 藤田 大介, グオ ホングゥアン. High Resolution Characterization of Low-dimensional Nanomaterials by Scanning Helium Ion Microscopy. International Conference on Electron Microscopy (EMSI-2014). 2014 招待講演
  23. 藤田 大介. Nanoscale Characterization and Fabrication of Nanomaterials by Scanning Helium Ion Microscopy. Int Symp.Highly-Cont. Nano- Micro-Scale Func. Surf. Struc. 2014 . 2014 招待講演
  24. 藤田 大介. 電子・イオン・フォトン・フォースをプローブとする最先端ナノマテリアル計測. 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会. 2014 招待講演
  25. 北澤 英明, 新海尋, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 山田 裕久. TOF-SIMSを用いた粘土鉱物への安定Cs吸着状態の可視化. 2014年 第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014
  26. 藤田 大介. ナノプローブ表面計測技術の開発と共用化によるイノベーション. 共用・計測合同シンポジウム2014. 2014 招待講演
  27. 藤田 大介. Advanced Nanoprobe Technologies for Materials Research Towards active nanocharacterization technologies. NSC-NIMS Workshop - New Opportunities of Advanced Metrology - . 2014 招待講演
  28. 北澤 英明, 新海尋, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 山田 裕久. TOF-SIMSを用いた粘土鉱物への安定Cs吸着状態の可視化. 日本原子力研究開発機構 委託研究報告会. 2014 招待講演
  29. 藤田 大介. 最先端計測技術の開発と共用によるシナジー効果とイノベーションの加速. ナノテクノロジー・材料分野俯瞰ワークショップ 計測技術領域. 2014 招待講演
  30. 藤田 大介, グオ ホングゥアン. Characterization of 2D Nanomaterials by Scanning Helium Ion Microscopy. 14th International Symposium onBiomimetic Materials Processing. 2014 招待講演
  31. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. 複合極限場走査型プローブ顕微鏡の開発. SATテクノロジー・ショーケース2014. 2014 招待講演
2013
  1. 藤田 大介. NIMS微細構造解析PFの提供する最先端マテリアル計測. ナノテクノロジープラットフォーム つくば地区説明＆見学会. 2013 招待講演
  2. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. AFM探針形状のその場評価法と画像補正法の開発. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  3. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. Development of SPM Data Treatment Open Software Based on ISO Standard Data Transfer Format. ACSIN-12 & ICSPM21. 2013
  4. 藤田 大介, 徐明生. Characterization of Nanomaterials for the Assessment of NanoEHS . 6th International Symposium on NanOEH. 2013
  5. 藤田 大介. Graphene and h-BN Formed by Surface Segregation and Precipitation. India-Japan Symposium on Emerging Materials for Health, Environm. 2013 招待講演
  6. 藤田 大介. クロージング〜最先端ビーム応用計測を提供する共用基盤拠点の展望. 第74回応用物理学会秋季学術講演会. 2013 招待講演
  7. 北澤 英明, 虫明 磨毅, 新海尋, 櫻井 健次, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久. TOF-SIMS等を用いた粘土鉱物へのCs吸着挙動. 第57回粘土科学討論会. 2013 招待講演
  8. 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. EPITAXIAL GROWTH OF SINGLE- AND FEW-LAYER GRAPHENE ON METAL SUBSTRATES BY SURFACE SEGREGATION . The 15th Asian Chemical Congress. 2013
  9. 藤田 大介. Fabrication and Characterization of Graphene and Related Nanomaterials. 2nd International Conference Materials, Energy and Environment. 2013 招待講演
  10. KITAZAWA, Hideaki, MUSHIAKE, Maki, IWAI, Hideo, KONO, Kenichiro, TAKEDA, Yoshihiko, FUJITA, Daisuke, YAMADA, Hirohisa. Cesium Distribution and Detection limit in Clay Mineral by TOF-SIMS. 2013 NIMS Conference. 2013
  11. 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Single- and Few-layer Graphene Growth on Pt(111) Substrate . Flatlands beyond Graphene. 2013
  12. 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Growth of Single-Layer Graphene on Single Crystal Pt(111) Substrate. graphene 2013. 2013
  13. 成重卓真, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 大野真也, 田中正俊. Si(001)表面上に成長した鉄シリサイドのSTM/STS測定. 第60回応用物理学会春季学術講演会. 2013
  14. 藤田 大介. 微細構造解析プラットフォームの概要と先端ナノ計測設備群の紹介. 第93春季年会(2013). 2013 招待講演
  15. 藤田 大介. 4 機関共用施設の概要と支援事例 (物質・材料研究機構) . つくば先端機器共用施設連携ワークショップ 2013. 2013 招待講演
  16. 藤田 大介. NIMSの目指す先端計測技術の開発と共用による イノベーションの推進. 共用・計測 合同シンポジウム2013. 2013 招待講演
  17. 北澤 英明, 櫻井 健次, 河野 健一郎, 武田 良彦, 虫明 磨毅, 岩井 秀夫, 藤田 大介, 山田 裕久. TOF-SIMSによるCs-バーミキュライトの検討. 第三回JAEA-NIMS「Cs脱離機構解明と脱離法の開発」会合. 2013 招待講演
  18. 藤田 大介, 石田 暢之. Decontamination and Superhydophilicity on TiO2 Surfaces. 13th International Symposium on Biomimetic Materials Processing . 2013 招待講演
  19. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 16T高磁場極低温STMの開発と材料研究への応用. 顕微鏡学会　SPM分科会　オープン研究会. 2013 招待講演
  20. 藤田 大介. NIMSにおける先端計測技術の開発. 第3回 三機関連携「量子複雑現象」研究会. 2013 招待講演
  21. 藤田 大介. Creation and Characterization of Low-dimensional Nanostructures and Nanofunctionalities by Advanced Nano-probe Technologies. Department Colloquium. 2013 招待講演
  22. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析. 第22回インテリジェント材料／システム シンポジウム. 2013
2012
  1. 藤田 大介. NIMS先端微細構造解析プラットフォームの紹介. NIMS・AIST微細構造解析プラットフォーム　合同地域セミナー. 2012 招待講演
  2. 藤田 大介. NIMS先端微細構造解析プラットフォームの紹介. NIMS微細構造解析プラットフォーム第一回地域セミナー. 2012 招待講演
  3. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介. NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー. 2012 招待講演
  4. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. ISO標準データ転送フォーマットに基づくSPMデータ処理プログラムの開発. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  5. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析. 第53回真空に関する連合講演会. 2012
  6. 北澤 英明, 虫明 磨毅, 岩井 秀夫, 山田 裕久, 藤田 大介. 微量分析技術によるCsの粘土層への吸着挙動. 第10回環境研究シンポジウム. 2012 招待講演
  7. 藤田 大介. マテリアルイノベーションのためのNIMS先端微細構造解析プラットフォーム. 第1回微細構造解析プラットフォームワークショップ. 2012 招待講演
  8. 藤田 大介. 最先端極限計測装置群によるナノテク・材料研究開発の高度支援. 文部科学省ナノテクノロジープラットフォームシンポジウム. 2012 招待講演
  9. 藤田 大介. 最先端計測共用基盤の構築とマテリアルイノベーションの加速. 文部科学省ナノテクノロジープラットフォームシンポジウム. 2012 招待講演
  10. 鷺坂 恵介, 藤田 大介, デビッドボウラー. Si(100)表面のリンのSTM研究. The 10th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces. 2012
  11. 藤田 大介, Mingsheng XU. Characterization of Functional Nanomaterials for Nanorisk Assessment and Social Acceptance. IUMRS-ICEM 2012（国際MRS連合 電子材料国際会議）. 2012 招待講演
  12. 藤田 大介. TC201: 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. 表面化学分析国際標準化セミナー「表面分析における国際標準化の現状. 2012 招待講演
  13. 北澤 英明, 櫻井 健次, 武田 良彦, 加藤 誠一, 虫明 磨毅, 藤田 大介. SIMS等を用いた吸着挙動の検討. 廃棄物減容のためのCs動態研究に関するJAEA-NIMS共同研究ミーティン. 2012 招待講演
  14. 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡法の国際標準化とロードマップ. ナノプローブテクノロジー第167委員会第67回研究会. 2012 招待講演
  15. 藤田 大介, 石田 暢之, グオ ホングゥアン. Nanoscale Interface and Surface Characterization for GREEN Research . 第4回ナノ材料科学環境拠点シンポジウム. 2012
  16. 高 建華, 鷺坂 恵介, 石田 暢之, 藤田 大介. Epitaxial Growth of Single- and Few-layer Graphene on Pt(111) and Pd(111) Surfaces by Surface Segregation. Graphene 2012 International Conference. 2012
  17. マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. STMによるHOPG表面におけるニッケルクラスターの成長様式と電子状態の研究. 日本物理学会第67回年次大会. 2012
  18. 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, デッビドボウラー. Si(100)表面におけるリン分子の吸着構造. 日本物理学会第67回年次大会. 2012
  19. ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元. STMを用いたTiO2表面における光増感色素の吸着研究. 日本物理学会第67回年次大会. 2012
  20. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, XU, Mingsheng. Standardization of Data Treatment and Management of Scanning Probe Microscopy. 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012 招待講演
  21. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko. GUIDELINE FOR RESTORATION PROCEDURE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGES DILATED BY FINITE PROBE SIZE. The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012
  22. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko. GUIDELINE FOR OPTIMIZATION OF SCANNING CONDITIONS FOR ATOMIC FROCE MICROSCOPY TOPOGRAPHY IMAGING. The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012
  23. 藤田 大介, 石田 暢之, グオ ホングゥアン. Introduction of Nano Interface Chracterization for Environmental and Energy Materials Research. 第3回ナノ材料科学環境拠点シンポジウム. 2012
  24. 藤田 大介. 先端材料計測技術の開発と応用プロジェクトの目指すもの. NIMS先端計測シンポジウム2012. 2012 招待講演
  25. 藤田 大介. ナノマテリアル創製のためのアクティブナノ計測. 「原子分解能顕微鏡の歴史と最先端」公開研究会. 2012 招待講演
  26. 藤田 大介. Nanoscale Characterization of Graphene and Hexagonal BN Nanosheets Synthesized by Surface Segregation and Precipitation. 11th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2012 招待講演
2011
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. ナノ線幅計測のためのAFM像探針形状効果補正. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  2. 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 高 建華. Fabrication and Characterization of Graphene and hexagonal BN Layers by Surface Precipitationd h-BN. International Symposium on Surface Science, ISSS-6. 2011
  3. 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, デビッドボウラー. STMとDFTを用いたSi(100)表面に吸着したリン分子の研究. The 6th International Symposium on Surface Science. 2011
  4. マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. HOPG表面におけるニッケル粒子の成長と電子状態. 6th. International Symposium on Surface Science. 2011
  5. ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元. STM/STSによるアナターゼTiO2(101)表面状態の研究. 6th International Symposium on Surface Science. 2011
  6. 高 建華, 石田 暢之, 藤田 大介. Epitaxial Growth of Graphene and Boron Nitride Layers on Metal Surfaces by Surface Segregation . International Symposium on Surface Science (ISSS-6). 2011
  7. 藤田 大介. 先端材料の開発に必要な基盤計測技術. 第3回AIST-NIMS計測分析シンポジウム. 2011 招待講演
  8. 藤田 大介. Measurements and analysis of nano materials. APMP2011 SYMPOSIUM. 2011 招待講演
  9. 藤田 大介. Measurements and analysis of nano materials . APMP2011 SYMPOSIUM. 2011 招待講演
  10. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Si(111)-7x7表面のアダトム操作と走査トンネル分光. 平成23年度オープン研究会　走査型プローブ顕微鏡における最先端技術. 2011 招待講演
  11. 藤田 大介. Novel Synthesis and Nanocharacterization ofGraphene and h-BN. Canada Japan Nanotechnology Workshop. 2011 招待講演
  12. 藤田 大介. グラフェン超薄膜の顕微ラマンイメージング解析. Inside Raman, Tokyo seminar 2011. 2011 招待講演
  13. 高 建華, 石田 暢之, 藤田 大介. Characterization of graphene and boron nitride layers on metal surfaces by surface segregation . The 15th International Conference on Thin Films (ICTF-15) . 2011
  14. 藤田 大介, 野口 秀典, 三石 和貴, 橋本 綾子, 石田 暢之. グリーンイノベーションのためのナノスケール表界面計測. NCCG-41第41回結晶成長国内会議. 2011 招待講演
  15. 高 建華, 藤田 大介. Synthesis and Characterization of Graphene on Metal Substrates. BIT's 1st Annual World Congress of Nano-S&T. 2011 招待講演
  16. 藤田 大介. 先端的共通技術部門の紹介. 第11回NIMSフォーラム. 2011 招待講演
  17. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. STM計測およびDFT計算を用いたSi(100)表面のリン分子吸着構造の解析. NIMS -AIST 計測・計算シミュレーション合同ワークショップ. 2011 招待講演
  18. 藤田 大介. NIMS先端材料計測プロジェクトの概要. NIMS-AIST（NRI）計測・計算シミュレーション合同WS. 2011 招待講演
  19. 高 建華, 鷺坂 恵介, 石田 暢之, 藤田 大介. Epitaxial Growth of Single-layer Graphene on Pt(111) and Pd(111) by Surface Segregation . International Conference on Nanoscience & Technology, China 2011. 2011
  20. 藤田 大介. 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. 表面化学分析国際標準化セミナー. 2011 招待講演
  21. 石田 暢之, 藤田 大介. ルチル型TiO2(110)表面に吸着したフタロシアニンのSTM 観察. 2011年秋季 第72回 応用物理学会学術講演会. 2011
  22. 藤田 大介. グラフェン超薄膜の顕微ラマン解析. 平成23年秋季第72回応用物理学会学術講演会. 2011 招待講演
  23. 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡による多元的なナノスケール計測. パーク・システムズ・ジャパン　第1回ユーザーズミーティング. 2011 招待講演
  24. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工. 日本顕微鏡学会学術講演会（第67回）. 2011
  25. 三石 和貴, 大西 剛, 高田 和典, 橋本 綾子, 藤田 大介, 竹口 雅樹, 大野 隆央, 奈良 純. (111)配向したLa0.55 Li0.33TiO3膜中の板状欠陥の高分解能STEM観察. 日本顕微鏡学会67回学術講演会. 2011
  26. 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, David Bowler. Si(100)表面に吸着したリン分子のSTM観察. 日本物理学会 第66回年次大会. 2011
  27. ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元. STMによるTiO2表面に吸着した色素分子の研究. 日本物理学会第66回年次大会. 2011
  28. マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. HOPG表面におけるニッケルクラスターの成長. 日本物理学会 第66回年次大会. 2011
  29. 石田 暢之, 藤田 大介. 紫外光照射プロセスを用いないTiO2表面の超親水化. 2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011
  30. 藤田 大介, 高 建華, 徐 明生. グラフェンのラマン分光イメージング. 第58回応用物理学関係連合講演会. 2011 招待講演
  31. シンディ バイシャリ　ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介, イスラム アシュラフル, 韓 礼元. Quantum dot sensitized solar cells. MANA International Symposium 2011. 2011
  32. FUJITA, Daisuke, GAO, Jian-Hua, XU, Mingsheng, GUO, Hongxuan. Novel Synthesis and Nanoscale Characterization of Single-layer Graphene. MANA International Symposium 2011. 2011 招待講演
  33. XU, Mingsheng, SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke, WATANABE, Eiichiro, HANAGATA, Nobutaka. Production of extended single-layer graphene. MANA International Symposium 2011. 2011
  34. 藤田 大介. NIMSにおける先端ナノ計測技術の紹介. 平成22年度 名古屋工業大学 大型設備基盤センター 講演会・見学会. 2011 招待講演
  35. 藤田 大介, 徐 明生, 高 建華, 石田 暢之, 鷺坂 恵介. Surface Segregation Synthesis and Nanoscale Characterization of Graphenes. Eleventh International Symposium on Biomimetic Materials Process. 2011 招待講演
  36. 石田 暢之, 藤田 大介. 超親水TiO2表面のためのUVフリープロセス. 11thInternational Symposium on Biomimethic Materials Processing. 2011
  37. 藤田 大介. Surface and Interface Characterization for Environment and Energy Materials. F-workshop on Materials Science for Energy Technologies. 2011 招待講演
  38. 藤田 大介, 高 建華, 徐 明生. グラフェンの新規創製法とナノスケール解析法. 第20回インテリジェント材料／システム シンポジウム. 2011
2010
  1. 藤田 大介, 岩崎 多摩樹, 徐 明生, 大西 桂子. International Standardization of Nanoscale Measurement and Characterization. 第20回日本MRS学術シンポジウム. 2010 招待講演
  2. 石田 暢之, 藤田 大介, 末岡　和久, R. M. Feenstra. n型GaAs(110)表面準位が走査型トンネル分光特性へ与える影響. 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2010
  3. 藤田 大介. SPMによる半導体表面分析の最近の展開. ナノプローブテクノロジー第167委員会第154委員会合同研究会. 2010 招待講演
  4. FUJITA, Daisuke. Development of scanning probe microscopy for in situ analysis with externally applied stress-strain field in UHV. 日本顕微鏡学会第54回シンポジウム. 2010 招待講演
  5. FUJITA, Daisuke. Nanoscale metrology and characterization of nanomaterials by SPM. SPM2010 The 2nd International Symposium on SPM Standardization. 2010
  6. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. Scanning Auger Electron Spectroscopy of Graphene layers. 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. 2010
  7. 古賀翔, 片山郁文, 武田淳, 首藤健一, 島田透, 菱田 俊一, 藤田 大介, 北島正弘. グラファイトにおけるコヒーレントDモードフォノンの表面プラズモン増強. 2010年秋季第71回応用物理学会学術講演会. 2010
  8. 片山郁文, 古賀翔, 首藤健一, 武田淳, 島田透, 久保敦, 菱田 俊一, 藤田 大介, 北島正弘. グラファイト表面におけるD モード・コヒーレントフォノンの振幅増強. 日本物理学会2010年秋季大会. 2010
  9. 藤田 大介. グラフェン超薄膜の創製と計測評価技術. VACUUM2010 -　真空展. 2010
  10. 藤田 大介. TC201: 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. JSCA表面化学分析国際標準化セミナー 表面分析・微小領域分析におけ. 2010 招待講演
  11. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ISHIDA, Nobuyuki, GAO, Jian-Hua, XU, Mingsheng. Novel synthesis and characterization of graphene layers. 4th AEARU Advanced Materials Science Workshop. 2010
  12. FUJITA, Daisuke, KUMAKURA, Tsuyako, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke. High temperature in situ AFM/STM observation of decomposition and cleaning process of ultrathin SiO2 films on Si(111) surfaces i. 18th International Vacuum Congress. 2010
  13. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. Electron-beam irradiation effect on graphene layers. 18th International Vacuum Congress (IVC-18). 2010
  14. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, XU, Mingsheng, GAO, Jian-Hua. Novel synthesis and nanoscale characterization of graphene-based nanocarbon. 18th International Vacuum Congress. 2010 招待講演
  15. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Si(100)表面に吸着したリン原子の研究. 18th International Vacuum Congress . 2010
  16. ペレ レオン カルメン, Christoph Suergers, Hilbert von Loehneysen, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Cu(111)表面と空気の反応：酸化銅の形成. 18th International Vacuum Congress（IVC18）. 2010
  17. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. Scanning Auger electron spectroscopy: A rational method for characterization of graphene layers. Recent Advances in Graphene and Related Materials. 2010
  18. グオ ホングゥアン, 藤田 大介. Developments of stress/strain fields scanning probe microscopy. NC-AFM2010. 2010
  19. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko. Probe artifacts and image reconstruction. 13th International Conference on Non-Contract Atomic Force Micro. 2010
  20. FUJITA, Daisuke. Probe artifacts and image reconstruction. NC-AFM2010 Satelllite Workshop / 59th Regular Workshop . 2010 招待講演
  21. シンディ バイシャリ　ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介. MESOPOROUS ZNO RODS BY SOLUTION METHOD FOR PHOTOCATALYSIS. IPS-18. 2010
  22. 藤田 大介. 汚れと清浄化のナノスケール計測. 表面技術協会ナノテク部会　第37回研究会. 2010 招待講演
  23. Ikufumi Katayama, Sho Koga, Toru Shimada, Keiko Kato, 菱田 俊一, 藤田 大介, Jun Takeda, Masahiro Kitajima. Dynamics of coherent phonons in disordered graphite. 17th International Conference on Ultrafast Phenomena . 2010
  24. 藤田 大介. Introductory Talk. NIMS Conference 2010, OS-6 Nano-interface Characterization. 2010 招待講演
  25. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. Scanning Auger Electron Spectroscopy: a New and Universal Technique for Identifying Graphene. Internation Conference on Modern Materials & Technilogies. 2010
  26. I. Katayama, S. Koga, J. Takeda, T. Shimada, 菱田 俊一, 藤田 大介, M.Kitajima. Surface plasmon enhancement of coherent phonons in an ionimplanted. Nanophotonics 2010. 2010
  27. 藤田 大介, 鷺坂 恵介. Advanced Nanocharacterization on Semiconductor Surfaces by Scanning Probe Microscopy. NIMS-NUS/IMRE joint workshop. 2010 招待講演
  28. サフ サトヤジッタ, バンディオパダヤイ アニルバン, 藤田 大介. Microtubule as Universal Fourth Circuit Element. Toward a Science of Consciousness, 2010. 2010 招待講演
  29. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. The Effect of Physicochemical Properties of Nano-oxides on Cytotoxicity. First World Conference On Nanomedicine And Drug Delivery. 2010 招待講演
  30. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. The Effect of Physiochemical Properties of Nano-Oxides on Cytotoxicity. MANA International Symposium 2010. 2010
  31. 藤田 大介. 材料の表面・界面とナノ計測. ４大学拡張ナノ空間検討会. 2010 招待講演
  32. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 徐 明生. Novel Synthesis and Nanoscale Characterization of Graphene. NIMS-WIN Workshop on Nanomaterials. 2010 招待講演
  33. 藤田 大介. Surface and Interface Analysis for Environment and Energy Materials. 1st Symposium of the Innovative Center of Nanomaterials Science. 2010 招待講演
  34. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 徐 明生. Novel Synthesis and Quantitative Characterization of Graphene. Tenth International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2010 招待講演
2009
  1. 藤田 大介. Nanofunctionality characterization on semiconductor surfaces by scanning probe microscopy. Joint Workshop between Osaka University and MANA/NIMS. 2009 招待講演
  2. BANDYOPADHYAY, Anirban, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke. Remarkable potential of pattern based computing on an organic molecular layer using the concept of cellular automata. ISPACS 2009. 2009 招待講演
  3. 徐 明生, 藤田 大介, 花方 信孝. Characterization of Nanomaterials for Risk Assessment. 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー. 2009
  4. 藤田 大介. ナノプローブ計測技術の半導体・グラフェン材料への応用. 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー. 2009 招待講演
  5. 藤田 大介. シリコン酸化超薄膜の高温還元分解過程のUHV-AFM/STM/AESその計測. 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー. 2009
  6. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, GAO, Jian-Hua, WATANABE, Eiichiro, HANAGATA, Nobutaka. Large-scale, uniform and transferrable graphene films synthesized by chemical vapor deposition. 2009 International Microprocesses and Nanotechnology Conference. 2009
  7. BANDYOPADHYAY, Anirban, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke. Computational feasibility of conventional cellular automata problems on an organic molecular layer. IWNC 2009. 2009 招待講演
  8. 藤田 大介. 一軸性応力歪み場を印加可能な超高真空走査型プローブ顕微鏡. VACUUM2009 -　真空展. 2009
  9. 藤田 大介. 半導体表面ナノスケール解析. 産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門第18回公開セミナー. 2009 招待講演
  10. 徐 明生, 藤田 大介, 高 鴻, 梶原 祥子, リ コウラン, 箕輪 貴司, 花方 信孝. Comparative Evaluation of Cytotoxicity of Nano-Oxides. 秋季第70回応用物理学会学術講演会. 2009
  11. 藤田 大介. 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. ＪＳＣＡ表面化学分析国際標準化セミナー. 2009 招待講演
  12. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, GAO, Hong, KAJIWARA, Shoko, LI, Xianglan, MINOWA, Takashi, HANAGATA, Nobutaka. Comparative Evaluation of Nano-Oxides Impact on Cellular Response. ChinaNANO 2009. 2009
  13. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, GAO, Hong, KAJIWARA, Shoko, MINOWA, Takashi, LI, Xianglan, HANAGATA, Nobutaka. Comparative Evaluation of Nano-Oxides Impact on Cellular Response. ChinaNANO2009 -International Conference on Nanosci. and Technol.. 2009
  14. シンディ バイシャリ　ラムチャンドラ, 藤田 大介, 野田 武司. Intercrossing nickel oxide nanoflakes from soft solution chemistry for Electrochromic application . 60 Annual meeting of the International society of electrochemist. 2009
  15. シンディ バイシャリ　ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介. SHAPE AND SIZE SELECTIVE SYNTHESIS OF ZNO ON SUBSTRATES VIA MICROWAVE ASSISTED CHEMICAL METHOD AND APPLICATIONS IN PHOTOCATALYSIS. ICCE-17. 2009
  16. バンディオパダヤイ アニルバン, 三木 一司, 藤田 大介. Pattern based computing and our brain: Can we build an artificial system exhibiting similar computing?. NIMS Week 2009. 2009 招待講演
  17. 若原 孝次, 根本 善弘, 宮澤 薫一, 徐 明生, 藤田 大介. 内包フラーレンナノウイスカーとナノシートの合成. NIMS Week 2009. 2009 招待講演
  18. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, HANAGATA, Nobutaka. Characterization of nanomaterials for nanorisk assessment. NIMS week 2009. 2009 招待講演
  19. 徐 明生, 藤田 大介, 梶原 祥子, リ コウラン, 箕輪 貴司, 花方 信孝. Nanoparticle effect on NIH3T3 cell viability. 2009年（平成21年）春季第56回応用物理学関係連合講演会. 2009
  20. GAO, Jian-Hua, FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng. Thickness determination of graphene films on polycrystalline metal surfaces. The 56th Spring Meeting of the Japan Society of Applied Physics. 2009
  21. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン電子同時照射によるSi酸化膜/Si(001)基板のナノ切削加工. 第３回バイオ・ナノテクフォーラムシンポジウム. 2009
  22. GAO, Jian-Hua, FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng. Auger electron spectroscopy and surface potential of few layer graphene films grown on polycrystalline metal surfaces. MANA International Symposium 2009. 2009
  23. XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke, KAJIWARA, Shoko, LI, Xianglan, MINOWA, Takashi, HANAGATA, Nobutaka. ZnO Nanostructures-Mediated Cell viability. MANA International Symposium 2009. 2009
  24. 藤田 大介. Creation and Characterization of Low-dimensional Functional Nanostructures vy Scanning Probe Technologies. NIMS-New Zealand Workshop on Nanomaterials. 2009 招待講演
  25. 藤田 大介, 徐 明生, 大西 桂子, 高建華, 鷺坂 恵介. Formation of Graphene Layers and Related Nano-Carbons on C-doped Metal Surfaces by Bulk-to-Surface Precipitation. 9th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2009 招待講演
2008
  1. 郭 新立, 大西 桂子, 藤田 大介. STM-induced photon emission from nanoscale surfaces of GaAs and Ag film using a metal/ITO dual layer coated fiber probe. 8th International Conference on Nano-Molecular Electronics. 2008
  2. 藤田 大介, 徐 明生. Nanoscale Characterization of Novel Fullerene Nanomaterials by Scanning Probe Microscopy for the Social Acceptance. IUMRS-ICA 2008 The IUMRS International Conference in Asia 2008. 2008 招待講演
  3. WAKAHARA, Takatsugu, MARAPPAN, Sathish, MIYAZAWA, Kunichi, SASAKI, Toshio, NEMOTO, Yoshihiro, XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke. Metal / Carbon Hybrid Nanoarchitectures . IUMRS-ICA 2008. 2008
  4. 大西 桂子, 藤田 大介. Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images using Given-shape Nano-structure. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  5. 郭 新立, Shimada, 大西 桂子, Kitajima, 藤田 大介. Self-assembled Au nanoparticle structures on highly ordered pyrolytic graphite wafer. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology. 2008
  6. FUJITA, Daisuke. Graphene and Related Nano-Carbons Formed by Surface Precipitation. 中国真空学会2008年学術年会. 2008 招待講演
  7. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン照射下における電子ビーム走査による微細加工. VACUUM2008 第30回真空展. 2008
  8. 藤田 大介. 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. 表面化学分析国際標準化セミナー「表面分析・微小領域分析における国. 2008 招待講演
  9. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, XU, Mingsheng. Development of AFM Image Restoration Algorithm and its Applications to Nanomaterials. 第69回応用物理学会学術講演会 シンポジウム. 2008 招待講演
  10. 大西 桂子, 藤田 大介. 直方体ナノ構造を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正. 第69回応用物理学会学術講演会. 2008
  11. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 走査トンネル分光によるSi(100)表面Si-Pヘテロダイマーの研究. NSS5-SPSTM2. 2008
  12. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke. Low-dimensional Functional Nanomaterials Research by Nano Probe Technology. WMSCI 2008. 2008 招待講演
  13. FUJITA, Daisuke. Low-dimensional Functional Nanomaterials Research by Nano Probe Technology. WUT-NIMS-EMPA Workshop on Nanomaterials for Energy and Environme. 2008 招待講演
  14. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke. Low-dimensional Surface Nanostructures studied by Scanning Tunneling Microscopy. Nanospain2008 Conference. 2008 招待講演
  15. 藤田 大介. Nanoscale Manipulation and Characterization on Semiconductor Surfaces. NIMS - Charles University Workshop. 2008 招待講演
  16. 大西 桂子, 藤田 大介. 球状ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正. 第55回応用物理学関連連合講演会. 2008
  17. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 電界放射共鳴を用いたSi(111)表面のSTM観察. 日本物理学会第63回年次大会. 2008
  18. 藤田 大介, 鷺坂 恵介. Fabrication and Characterization of Low-dimensional Surface Nanostructures by Scanning Tunneling Microscopy. MANA International Symposium 2008 . 2008 招待講演
  19. 藤田 大介. NIMSにおけるナノ計測技術の紹介. 「連携ラボ」第3回公開シンポジウム. 2008 招待講演
  20. 藤田 大介. 制御場ＳＴＭ法による半導体表面の構造解析. 日本顕微鏡学会　走査型プローブ顕微鏡分科会　平成19年度研究会. 2008 招待講演
  21. FUJITA, Daisuke. Standardization Activities of Scanning Probe Microscopy in ISO/TC201. 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会第49回研究会. 2008 招待講演
  22. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, MIYAZAWA, Kunichi. Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy. 8th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2008 招待講演
2007
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. Novel Image Restoration Method for SPM Topography Data Containing Tip-induced Distortions using Standard Nanospheres. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2007
  2. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko. Standardization of Three-dimensional Topography Imaging . 4th International Symposium on Practical Surface Analysis . 2007
  3. 郭 新立, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07. 2007
  4. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. Dopant-related photon emission induced by scanning tunneling microscope from the surface of GaAs(110). 9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, . 2007
  5. 大西 桂子, 藤田 大介. ＡＦＭ探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測. 第27回表面科学講演大会. 2007
  6. 藤田 大介. 金ナノクラスターの創製と単電子効果の計測. 第27回表面科学講演大会. 2007 招待講演
  7. 藤田 大介. プローブ顕微鏡によるナノマテリアル研究の現状と将来. 大阪工業大学ハイテクリサーチ第2回シンポジウム. 2007 招待講演
  8. 郭 新立, 藤田 大介. Development And Applications of UHV-LT-STM for Tunnel-Electron Induced Single Photon Detection. 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  9. 岸 輝雄, 藤田 大介. Japanese Strategy of Nano Technology and Nims Activity. NanoTech Insight 2007. 2007 招待講演
  10. 藤田 大介. 低ガス放出性カーボンナノスプラウト被膜. VACUUM2007－真空展. 2007
  11. 藤田 大介, 徐 明生, 北原 昌代. 走査型プローブ顕微鏡によるフラーレンナノマテリアルの評価. 第68回応用物理学会学術講演会シンポジウム. 2007 招待講演
  12. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線援用スパッタリングによる微細加工の試み. 第68回応用物理学会学術講演会. 2007
  13. 藤田 大介. フラーレン系低次元ナノマテリアル研究の最前線　　- まとめ -. 第68回応用物理学会学術講演会シンポジウム. 2007 招待講演
  14. 藤田 大介. 走査プローブ顕微鏡法（SPM）の国際標準化. JSCA 表面化学分析国際標準化セミナー. 2007 招待講演
  15. 藤田 大介. ナノ粒子・ナノ構造体の高精度ナノプローブ計測評価. 粉体工学会・粒子径計測グループ会2007年度第一回グループ会. 2007 招待講演
  16. 于 迎輝, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Surface standing waves on Cu-9%Al(111). IVC17/ICSS13 and ICN+T 2007 Congress in Stockholm 2-6 July, 2007. 2007
  17. 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress. 2007
  18. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, KUMAKURA, Tsuyako. Novel Nano-carbons Synthesized by Surface Precipitation in Ultrahigh Vacuum. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  19. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 北原 昌代. Practical Image Restoration Method for Scanning Probe Microscopy. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  20. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. Photon emission induced from nanoscale surfaces of semiconductors by a scanning tunneling microscope using a conductive optical fiber probe. International Conference on Nanoscience & Technology, China 2007. 2007
  21. リヒテローヴァ イワーナ, 藤田 大介, 大西 桂子, Jiri Pavlu, Jana Safrankova, Zdenek Nemecek. Modification of spherical dust grain structure: Laboratory simulation. AGU Spring 2007 Joint Assembly. 2007
  22. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 走査トンネル分光によるシリコン表面の電子状態計測. 日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007
  23. 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 低次元カーボンナノ構造被膜の創製・評価と応用. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  24. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線照射による微細加工技術の開発. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  25. KISHI, Teruo, FUJITA, Daisuke. Policy on Nanotechnology in Japan and NIMS Activity . NanoTech Insight 2007. 2007 招待講演
  26. 藤田 大介. SPMの標準化とナノプローブ計測の動向. 学振マイクロビームアナリシス141委員会第127回研究会. 2007 招待講演
  27. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 低温STMによるSi(00)表面の電子状態計測と構造制御. 第1回NIMSナノ計測センターシンポジウム. 2007 招待講演
  28. 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子. Characterization and Application of Novel Nano-carbons Synthesized by. 7th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2007 招待講演
2006
  1. 郭 新立, 藤田 大介. Observation of carbon nanowire-like structures formed on HOPG substrate. 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2006
  2. 大西 桂子, 藤田 大介. プローブ先端形状とＡＦＭ像からのノイズの影響を考慮した実表面形状の推測. 第26回表面科学講演大会. 2006
  3. 藤田 大介. 物質・材料研究機構におけるナノ計測研究の現状と企業への期待. 第5回つくばナノテクノロジー研究交流会. 2006 招待講演
  4. 板倉 明子, 北島 正弘, 藤田 大介, 五十嵐 慎一, 戸田雅也, Rudiger Berger. 高分子膜の体積膨張に伴うストレス変化を利用した湿度センサー. 平成18年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  5. 藤田 大介, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 応力場環境走査型プローブ顕微鏡の開発と応用. 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  6. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面構造の観察. 平成18年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  7. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製とSPM応用. 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  8. 藤田 大介. ナノ機能探索と創成のための走査プローブ顕微鏡技術の開発と応用. 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  9. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Si(100)表面の電子定在波. 平成18年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  10. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke. Low Temperatrue STM/STS Studies on Ground State, Phase Manipulation and One-Dimensional Quantum Confinement on Si(100) Surfaces. The 2006 Meeting of the Chinese Vacuum Society (CVS) . 2006 招待講演
  11. FUJITA, Daisuke, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke. Observation of Stress-induced Domain Redistribution on Si(100) Surfaces using Stress-Field Scanning Tunneling Microscopy. The tenth ISSP International Symposium on Nanoscience at Surface. 2006
  12. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. N-GaAs(110) ナノ表面のSTM誘起発光. The tenth ISSP International Symposium　on Nanoscience at Surfac. 2006
  13. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Si(100)表面のダイマー列に閉じこめられた電子波. The tenth ISSP International Symposiumon Nanoscience at Surfaces. 2006
  14. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. STMによるSi(100)表面の電子定在波の観察. European Conference on Surface Science24. 2006
  15. 藤田 大介, 鷺坂 恵介. Ground State, Phase Manipulation and One-Dimensional State on Si(100) Reconstructed Surfaces at Low Temperatures. The 16th International Microscopy Congress . 2006
  16. 郭 新立, 菫震超, 藤田 大介. 金属基板上単―出光分子のSTM表征. The 16th International Microscopy Congress. 2006
  17. 板倉 明子, 五十嵐 慎一, 戸田 雅也, Renate Foech, Rudiger Berger, K. Miyake, 櫻井 健次, 北島 正弘, 藤田 大介. Young's modulus of plasma-polymerized allylamine films. ECCOSS 24. 2006
  18. 藤田 大介. TWA29 ナノスケールにおけるマテリアル特性評価　これからの取り組み. JAIMAコンフェレンス（2006分析展付設コンフェレンス）　VAMAS国際標. 2006 招待講演
  19. 藤田 大介. 走査プローブ顕微鏡によるナノ計測の最近の展開　ｰ固溶炭素の表面析出によるカーボンナノ構造の創製と応用ｰ. 電気学会　E準部門「ユビキタス社会のためのナノマテリアル・プロセ. 2006 招待講演
  20. 藤田 大介. SPM in Global Standards . 9th Int. Conf. on Non-Contact Atomic Force Microscopy . 2006 招待講演
  21. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Development of Image Restration Techniques in Scanning Probe Microscopy. 2nd Int. Symp. Standard Materials & Metrology for Nanotechnology. 2006
  22. 五十嵐 慎一, 板倉 明子, 戸田 雅也, 北島 正弘, 藤田 大介, Liqiang Chu, Anye N. Chifen, Renate Fo¨rch, Ru¨diger Berger. プラズマ重合膜の体積膨張. International workshop on nanomechanical sensors. 2006
  23. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. 走査型トンネル顕微鏡によるナノ構造創製と量子効果. 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2006 招待講演
  24. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法による酸化物超薄膜の電子線誘起還元の評価. 第１５回インテリジェント材料／システムシンポジウム. 2006
  25. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 走査型トンネル顕微鏡により観察されたSi(100)表面の量子干渉パターン. The Sixth France-Japan Workshop on Nanomaterials . 2006
  26. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 点接触法によりSi(100)表面に作製されたタングステンドットと一次元量子井戸. International Advanced Materials Forum for Young Scientists. 2006
  27. 藤田 大介, 鷺坂 恵介. One-Dimensional Quantum Wells on Semiconductor Surfaces. Sixth International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2006 招待講演
  28. 藤田 大介. 極限場走査型トンネル顕微鏡によるアクティブナノ状態計測. 日本顕微鏡学会アクティブナノ顕微鏡研究部会第4回公開研究会. 2006 招待講演
2005
  1. 藤田 大介. 固溶炭素の表面析出によるカーボンナノワイヤとナノベルトの創製と応用. 電気学会　ユビキタス社会のためのナノマテリアル・プロセス技術調査. 2005
  2. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. A study of quantum phenomenon on Si(100) and Ge(100) using scanning tunneling microscopy. 2nd International Center for Young Scientists Symposium. 2005
  3. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 走査型オージェ顕微鏡およびファクターアナリシスによるSiO2/Si超薄膜の電子線誘起還元過程の解析. 第２５回表面科学講演大会. 2005
  4. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価. 第４６回真空に関する連合講演会. 2005
  5. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析. 2005年度 実用表面分析講演会. 2005
  6. SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. One-dimensional electronic structure of the empty dangling bond state of the Si(100) surface characterized by scanning tunneling. International Workshop on Surface Physics 2005. 2005 招待講演
  7. SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. Influence of carrier injection on the Si(100) surface structure studied by low temperature scanning tunneling microscopy. European Conference on Surface Science 23. 2005
  8. FUJITA, Daisuke. Novel Carbon Nanostructure Formation by Surface Precipitation. International Symposium on EcoTopia Science 2005. 2005
  9. SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. STM Observation of Standing Waves on the Si(100) and Ge(100) Surfaces. 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/S. 2005
  10. FUJITA, Daisuke. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. The 6th International Conference on Intelligent Materials and Sy. 2005 招待講演
  11. 大西 桂子, 藤田 大介. Nano-characterization of Beam-irradiation Effects on SiO2/Si Interfaces using Factor Analysis and Auger Electron Microscopy.. 第6回インテリジェント材料・システム国際会議. 2005
  12. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005 招待講演
  13. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 低温STMによるSi(100)表面の電子定在波の観察と1次元量子井戸構造の創製. 第52回応用物理学関係連合講演会. 2005
  14. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Si(100)再構成表面の電子状態とSTMイメージング. 日本物理学会第60回年次大会. 2005
  15. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見. 日本物理学会2005年春季大会. 2005
  16. 藤田 大介. ナノの世界でものを見る・操る・創る. 科学技術振興調整費　成果発表会. 2005 招待講演
  17. FUJITA, Daisuke. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. 10th International Symposium on Advanced Physical Fields. 2005 招待講演
  18. 大西 桂子, 藤田 大介. ファクターアナリシスによる酸化物／半導体表面の電子線照射効果の評価. 第14回インテリジェント材料／システムシンポジウム. 2005
  19. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 固溶炭素の表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製. 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2005
  20. 藤田 大介. SPROUT-LIKE GROWTH OF CONDUCTIVE CARBON NANOSTRUCTURES ON CARBON-DOPED METAL SURFACES. Fifth International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2005 招待講演
  21. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 応力歪場印加可能な原子分解能走査トンネル顕微鏡の開発. 第52回応用物理学関係連合講演会　　　　　　. 2005
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke. STM Observation of Stress-induced Nano-Domain Redistribution on Si(100) Surfaces. 第15回日本MRS学術シンポジウム　　　　　　. 2004
  2. 藤田 大介. 機能性STMによるナノ構造の創製と制御. 日本表面科学会中部支部研究会. 2004 招待講演
  3. 藤田 大介. 走査トンネル顕微鏡アクティブナノ計測の最近の展開 -極限物理場環境と応力場環境-. 日本顕微鏡学会 アクティブナノ顕微鏡研究部会第3回研究会. 2004 招待講演
  4. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 金属的なナノドットやナノワイヤの創製のためのSTM探針. 1st International Symposium on the Functionality of Organized Na. 2004
  5. 迫坪 行広, 大木 泰造, 大塚洋一, 藤田 大介. Offset charge dispersion in nanocluster-based single-electron tunneling devices. Joint Meeting of FIMS/ITS-NS/CTC/PLASMA-2004. 2004
  6. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. One Dimensional Behavior of the Si(100) Dangling Bond State. NIMS/ISSP/ICYS Young Scientists' Nanotechnology Miniworkshop. 2004
  7. 藤田 大介. 極限物理場環境における高分解能STM計測技術. 日本顕微鏡学会SPM分科会H16年度研究会. 2004 招待講演
  8. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価. 第24回表面科学講演大会. 2004
  9. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 超高真空応力歪場環境原子分解能2探針走査プローブ顕微鏡の開発. 第24回表面科学講演大会. 2004
  10. 藤田 大介. NIMSにおける新規ナノカーボン開発の現状と展望. 第2回ナノテクノロジー研究交流会. 2004 招待講演
  11. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, NIORI, NORIKO. Tunneling-Electron Induced Luminescence Mapping on a p-type GaAs(110) Surface by UHV-LT-STM with a Conductive Optical Fiber Prob. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  12. 藤田 大介. Closing Remarks. 第65回応用物理学会学術講演会 ノベルナノカーボンシンポジウム. 2004 招待講演
  13. 藤田 大介. カーボンナノスプラウトの創製及び構造と物性. 第65回応用物理学会学術講演会. 2004 招待講演
  14. 中村 篤智, 藤田 大介. Dissociation of boundary dislocations at low-angle grain boundaries. Eleventh International Conference on Intergranular and Interphas. 2004
  15. 藤田 大介. アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開. 日本学術振興会第151委員会「未踏ナノデバイステクノロジー」. 2004 招待講演
  16. FUJITA, Daisuke. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Studies on Sprout-like Growth of Carbon Nanowires on Carbon-Doped Ni Surfaces. 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM). 2004
  17. 迫坪 行広, 大木 泰造, 藤田 大介, 大塚洋一. SAM上における金ナノクラスターの密度・粒径制御とトンネル分光測定. 日本物理学会第59回年次大会. 2004
  18. 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 小口 信行. 走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面の構造操作. 日本物理学会第59回年次大会. 2004
  19. 藤田 大介, 大西 桂子, 新居 周子. p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測. 日本物理学会第59回年次大会. 2004
  20. 藤田 大介, 大西 桂子, 肖 占文, 徐 明祥, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. 極限環境におけるナノ構造の創製と評価. 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム（JAPAN NANO 2004）. 2004
  21. 藤田 大介. 表面・ナノ構造からのSTMトンネル誘起発光. 第3回メゾテクノロジーフォーラム. 2004 招待講演
  22. 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 小口 信行. 低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面超構造の操作. 第13回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2004
  23. 迫坪 行広, 大木 泰造, 藤田 大介, 大塚洋一. Growth and Characterization of Isolated Nanoclusters on Mixed Self-Assembled monolayers. 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF-9). 2004
  24. 大西 桂子, 藤田 大介. Development of a Web Database System for Active-Nano Characterization and Technology. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields. 2004
  25. 鷺坂 恵介, 北原 昌代, 藤田 大介, 木戸 義勇, 小口 信行. Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy on a p-type Si(100) Surface. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF. 2004
  26. 肖 占文, 徐 明祥, 大木 泰造, 石川 信博, 藤田 大介. 白金電極の上にシングルのDNA分子の組立;. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF. 2004
  27. FUJITA, Daisuke. Advanced STM Technology with Advanced Physical Fields. 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF-9). 2004 招待講演
  28. 藤田 大介. アクティブナノ計測技術. 日本学術振興会第133委員会第180回研究会. 2004 招待講演
  29. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke. ACTIVE NANO-CHARACTERIZATION OF LOW-DIMENSIONAL NANOSTRUCTURES USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Fourth International Symposium on Biomimetic Materials Processin. 2004 招待講演

その他の文献 TSV

2019
  1. 藤田 大介. データサイエンスを活用した固体材料・表面研究の最前線. 応用物理学会薄膜・表面物理分科会 News Letter. (2019) 1
2018
  1. 藤田大介. [R-629] データが駆動する先端計測インフォマティクス～表面科学に関連した最近の動向～：[R-630] 放射光源リングの低エミッタンス化はどこまで可能か. 表面と真空. 61 [4] (2018) 250 10.1380/vss.61.250 Open Access
  2. 藤田 大介. 第8回表面科学に関する国際シンポジウムISSS-8開催報告. 表面と真空. 61 [3] (2018) 184-185 10.1380/vss.61.184 Open Access
2017
  1. 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介. その場断面 KPFM 法を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測. セラミックス. 52 [2] (2017) 96-99
2016
  1. 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向. 調査分析室レポート. (2016) 73-89
  2. 鷺坂 恵介, 藤田 大介. 走査型トンネル顕微鏡による物質・材料の表面計測. 金属. 86 [12] (2016) 1073-1079
  3. 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー. 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3　[ISBN] 978-4-9900563-7-7. 1 (2016) 42-51
2015
  1. 宮澤 薫一, 小林 隆弘, 谷口 彰良, 藤田 大介, 安達修一, 市原　学. ナノテクノロジー・材料研究に関わるリスク評価・リスク管理・リスクコミュニケーションと 社会受容. CRDS「2015年　研究開発の俯瞰報告書（ナノテクノロジー・材料分野）」 . (2015) 449-475
  2. 藤田 大介. ナノテクノロジープラットフォームを活用した研究・技術開発の新展開 NIMS微細構造解析プラットフォーム　〜最先端ナノマテリアル計測拠点〜. 工業材料. 63 [3] (2015) 70-72
  3. 増田 秀樹, グオ ホングゥアン, 藤田 大介. 【表彰】BNフラワーのHeイオン顕微鏡像. まてりあ. 54 [5] (2015) 204
2014
  1. 藤田 大介. 微細構造解析プラットフォームの概要. 工業材料. 62 [6] (2014) 75-77
2013
  1. 宮澤 薫一, 藤田 大介, 谷口 彰良, Enrico Traversa, 市原　学, 橘　勝. . 日本MRSニュース. 25 [1] (2013) 6
  2. 藤田 大介. イオンをプローブによるナノ顕微計測の新展開. 顕微鏡. 48 [3] (2013) 148
2012
  1. 藤田 真. 編集後記. Journal of the Vacuum Society of Japan. 55 [2] (2012) 64-72 10.3131/jvsj2.55.64
  2. 藤田 大介. 編集後記. 顕微鏡. 47 (2012) 66
  3. 藤田 大介. 走査型プローブ顕微鏡のフロンティア. 顕微鏡. 47 (2012) 2
2011
  1. 長井 寿, 原田 幸明, 藤田 大介, 井出 邦和. 第2章 分析技術　 2.6 微量・高精度化学分析. 環境・エネルギー材料ハンドブック. (2011) 747-763
  2. FUJITA, Daisuke. Guest Editorial: Advances in Scanning Probe Microscopies for Nanomaterial Analyses ―From Basic Science to Quantitative Nanofunctionality Analyses―. Analytical Sciences. 27 [2] (2011) 119 10.2116/analsci.27.119
2009
  1. Kun'ichi Miyazawa, Daisuke Fujita, Takatsugu Wakahara, Tokushi Kizuka, Kiyoto Matsuishi, Yuichi Ochiai, Masaru Tachibana, Hironori Ogata, Tadahiko Mashino, Ryotaro Kumashiro, Hidetoshi Oikawa. Fullerene Nano Materials (Symposium of IUMRS-ICA2008). Journal of Physics: Conference Series. 159 (2009) 011001 10.1088/1742-6596/159/1/011001 Open Access
  2. 藤田 大介. SPMによる半導体表面分析の最近の展開. 顕微鏡. (2009) 156
  3. 藤田 大介. ナノ構造と物性の計測. 電気評論. 94 [10] (2009) 59-63
2007
  1. 藤田 大介. ナノ創製のためのナノ計測技術. 電子材料. 46 [2] (2007) 18-23
2005
  1. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems. (2005) 79-80
  2. 藤田 大介. ナノ計測. ナノテクノロジー技術動向調査　調査報告書. (2005) 5-7
  3. 藤田 大介. 走査トンネル顕微鏡. ナノテクノロジー技術動向調査　調査報告書. (2005) 8-10
  4. Daisuke Fujita, Giyuu Kido, Masahiro Tosa, Michiko Yoshitake, Yasushi Yamauchi. Preface: Characterization of artificial nanostructures and nanomaterials. Applied Surface Science. 241 [1-2] (2005) 1 10.1016/j.apsusc.2004.12.003
  5. 藤田 大介. ナノテクノロジーの標準化. Journal of Surface Analysis. 12 [3] (2005) 363
  6. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. (2005) 19-26
  7. 藤田大介. ナノの世界でものを見る・操る・創る. 科学技術振興調整費成果発表会予稿集. (2005) 25-28
  8. YAKABE, Taro, 寺井慶和, 安塚周磨, 寺倉千恵子, TERASHIMA, Taichi, UJI, Shinya, FUJITA, Daisuke, KIDO, Giyuu. Influence for quantum corrections of electrical conductivities in percolative thin films. Proceedings of the 10th international symposium on Advanced Physical Fields. (2005) 303-307
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Studies on Sprout-like Growth of Carbon Nanowires on Carbon-Doped Ni Surfaces. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (2004) 202-203
  2. 藤田大介. アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開. 発表予稿集. (2004)
  3. D. Fujita. Preface. Journal of Electron Microscopy. 53 [2] (2004) 99 10.1093/jmicro/53.2.99
  4. Zhanwen Xiao, Mingxiang Xu, Taizo Ohgi, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. Removal of Si(111) wafer surface etch pits generated in ammonia-peroxide clean step. Applied Surface Science. 221 [1-4] (2004) 160-166 10.1016/s0169-4332(03)00876-6
  5. X.-L. Guo, Z.-C. Dong, A. S. Trifonov, K. Miki, Y. Wakayama, D. Fujita, K. Kimura, S. Yokoyama, S. Mashiko. Nanoscale organic electroluminescence from tunnel junctions. Physical Review B. 70 [23] (2004) 10.1103/physrevb.70.233204
  6. Daisuke Fujita, FUJITA, Daisuke. Preface, Active Nano-Characterization and Technology. NANOTECHNOLOGY. 15 [6] (2004) preface

公開特許出願 TSV

  1. 遠隔撮像装置のための電磁デバイスにおける量子クローキングの実現方法 (2023)
  2. 自己学習のための情報処理装置、および自己学習のための情報処理方法 (2023)
  3. 走査カンチレバー法に基づくがん細胞診断方法、被験細胞の弾性特性分布を解析する装置、及び被験細胞の弾性特性分布解析をコンピュータに実行させるプログラム (2022)
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