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研究内容
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ナノ材料 薄膜・表面界面物性
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
研究論文
- Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. In situ voltage-application system for active voltage contrast imaging in helium ion microscope. Journal of Vacuum Science & Technology B. 36 [4] (2018) 042903 10.1116/1.5031086
- Shuang Xie, Mingsheng Xu, Shuyun Huang, Tao Liang, Shengping Wang, Hongfei Li, Hideo Iwai, Keiko Onishi, Nobutaka Hanagata, Daisuke Fujita, Xiangyang Ma, Deren Yang. Inhomogeneous composition distribution in monolayer transition metal dichalcogenide alloys. Materials Research Express. 4 [4] (2017) 045004 10.1088/2053-1591/aa6859
- Hongxin Wang, Hideki Masuda, Hideaki Kitazawa, Keiko Onishi, Masamichi Kawai, Daisuke Fujita. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. Japanese Journal of Applied Physics. 55 [10] (2016) 106602 10.7567/jjap.55.106602
会議録
- FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko. New Local Density of States Mapping Techniquee for Low Dimensional System in Ultra High Vacuum. Proceedings of the 6th International Symposium on Advanced Physical Field. 2001, 290-294
- XIAO, Zhanwen, OHGI, Taizo, Xu, Mingxiang, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Influence of Substrate Surface Structures on Alignment of λ-DNA Molecules. APANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. , -
- FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. 2005, 19-26
口頭発表
- 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介. 共用・計測合同シンポジウム2015. 2015
- GUO, XINLI, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07. 2007
- SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope. ACSIN-14. 2018
特許
- 特許第5626948号 グラフェン被覆部材の製造方法 (2014)
- 特許第2958442号 半導体量子箱の形成方法 (1999)
- 特許第3520332号 走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 (2004)
所属学会
応用物理学会 日本表面科学会
第二期開発予定
第二期開発予定