HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Nano-characterization of Beam-irradiation Effects on SiO2/Si Interfaces using Factor Analysis and Auger Electron Microscopy.)大西 桂子, 藤田 大介. 第6回インテリジェント材料・システム国際会議. 2005.NIMS著者大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:33:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:21:31 +0900