New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy
(ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラスト画像化による新しい電位観測技術)
第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017年12月15日-2017年12月16日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-12-16 22:05:59 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:16:05 +0900