HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 第４６回真空に関する連合講演会. 2005年11月09日-2005年11月11日.NIMS著者大西 桂子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:18:24 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:30:14 +0900
