HOME > 論文 > 書誌詳細In situ voltage-application system for active voltage contrast imaging in helium ion microscope(ヘリウムイオン顕微鏡におけるアクティブ電圧コントラスト画像化のためのin situ電圧印加機構)Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. Journal of Vacuum Science & Technology B 36 [4] 042903. 2018.https://doi.org/10.1116/1.5031086 NIMS著者石田 暢之永野 聖子大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-07-28 15:12:26 +0900更新時刻: 2024-03-29 23:14:52 +0900