HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介(Helium Ion microscope: A tool for nanoscale patterning and insulator observation )永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介. 共用・計測合同シンポジウム2015. 2015.NIMS著者永野 聖子大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 10:57:24 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:06:45 +0900