SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介
(Helium Ion microscope: A tool for nanoscale patterning and insulator observation )

共用・計測合同シンポジウム2015. 2015.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-14 10:57:24 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:06:45 +0900

    ▲ページトップへ移動