SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

High temperature in situ AFM/STM observation of decomposition and cleaning process of ultrathin SiO2 films on Si(111) surfaces i

18th International Vacuum Congress. 2010.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-01-08 04:31:29 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:52:56 +0900

    ▲ページトップへ移動