SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 会議録 > 書誌詳細

AFM像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較
(Comparison of Standard Nano-Sphere Method and Blind Reconstruction Method for Restoration of Atomic Force Microscopy Topography Images Containing Tip-induced Distortions)


NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-27 01:47:00 +0900更新時刻: 2017-09-06 22:01:48 +0900

    ▲ページトップへ移動