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AFM像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較
(Comparison of Standard Nano-Sphere Method and Blind Reconstruction Method for Restoration of Atomic Force Microscopy Topography Images Containing Tip-induced Distortions)

著者大西 桂子, 藤田 大介.
発表誌名Journal of the Vacuum Society of Japan
発表年2010
言語Japanese

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