HOME > 会議録 > 書誌詳細AFM像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較(Comparison of Standard Nano-Sphere Method and Blind Reconstruction Method for Restoration of Atomic Force Microscopy Topography Images Containing Tip-induced Distortions)大西 桂子, 藤田 大介. Journal of the Vacuum Society of Japan 357-360. 2010.NIMS著者大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-27 01:47:00 +0900更新時刻: 2017-09-06 22:01:48 +0900