publication_type publication_year number author title event_name doi reported_at Presentation 2023 1 藤丸朋泰, 木本裕大, 佐藤翔一, 宮内 直弥, 大西 桂子, 艸分 倫子, 板倉 明子, 松本佳久 バナジウムを透過する水素原子の水素顕微鏡による可視化 NanospecFY2022mini 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2023 2 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 ヘリウムイオン顕微鏡の像コントラストの検討 NanospecFY2022mini 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2022 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2021 1 関 禎子, 永野 聖子, 大西 桂子, 後藤光昭, 赤池敏宏 生体適合性を有する糖鎖高分子の 液中での形状・物性のAFMによるナノスケール解析 第82回応用物理学会秋季学術講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2021 2 関 禎子, 大西 桂子, 我妻　美千留, 長岡　正人, 後藤　光昭, 小畠　英理, 赤池　敏宏 iPS細胞の未分化維持を担う細胞培養基質としてのEカドヘリンキメラ抗体の液中観察による分子構造解析 第20回日本再生医療学会総会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2020 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析 2020年日本表面真空学会学術講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2020 2 櫻井 亮, 永野 聖子, 大西 桂子, ヨアヒム クリスチャン The 13th MANA International Symposium 2020 jointly with ICYS 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2019 1 永野 聖子, 大西 桂子 ヘリウムイオン顕微鏡像の走査電子顕微鏡像との比較 2019年表面真空学会学術講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2018 1 酒井智香子, 石田暢之, 永野聖子, 大西桂子, 藤田大介 ヘリウムイオン顕微鏡における電位分布観察のためのin situ 電圧印加機構 ACSIN-14 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2018 2 板倉 明子, 矢ヶ部 太郎, 土佐 正弘, 大西 桂子, 宮内 直弥, 吉田肇, 間瀬一彦, 青柳里果, 土橋和也 先進イナート表面への挑戦：極低活性・極低反応性表面を実現する材料/処理技術の探索とその計測技術の調査 TIA-イナート・TIA-NEG合同キックオフミーティング 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 1 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラスト画像化による新しい電位観測技術 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 2 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いた任意の電圧印加を伴う積層型セラミックコンデンサの電位分布画像化 The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 3 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察 2017年真空・表面科学合同講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 4 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke 任意の電圧印加を伴った積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた電位分布 15th GREEN Symposium 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 5 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡による印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子画像化 Recent Progress on Interfacial Energy Conversion 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2017 6 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察 日本表面科学会　第2回関東支部講演大会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2016 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による構造色発現の解析 第4回メゾスコピック研究会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2016 2 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced In Situ Multi-scale Characterization of Mechanical Properties of Carbon-fiber-reinforced Plastic NIMS WEEK 2016 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2016 3 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic 日本表面科学会関東支部第4回関東支部セミナー表面・薄膜分析シリー 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2016 4 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic 第2回 内閣府SIP革新的構造材料 先端計測拠点国際会議 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2016 5 大西 桂子 走査型ヘリウム顕微鏡で何ができるか 実用顕微評価技術セミナー2016 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2015 1 藤田 大介, 石田 暢之, 増田 秀樹, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 Cを固溶させたPt(111)基板に表面析出した単層グラフェンのマルチスケール解析 2015年真空・表面科学合同講演会　第35回表面科学学術講演会　講演要 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2015 2 大西 桂子, 酒井 智香子, 永野 聖子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による加熱中その場観察 2015年真空・表面科学合同講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2015 3 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, WANG, Hongxin, MASUDA, Hideki Nanoscale Characterization of Structural Composite Materials 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議　SIP-IMASM 2015 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2015 4 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介 共用・計測合同シンポジウム2015 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2014 1 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 岩崎 多摩樹 Nanoscale Metrology and Characterization of Nano-objects by Scanning Probe Microscopy IUMRS-ICA 2014 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2014 2 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 岩崎 多摩樹 Quantitative Topography Measurement by Atomic Force Microscopy using Probe Shape Function The 4th International Symposium on SPM Standardization (SPM2014) 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2014 3 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 複合極限場走査型プローブ顕微鏡の開発 SATテクノロジー・ショーケース2014 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2013 1 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 AFM探針形状のその場評価法と画像補正法の開発 2013年真空・表面科学合同講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2013 2 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 ACSIN-12 & ICSPM21 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2013 3 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析 第22回インテリジェント材料／システム シンポジウム 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 1 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介 NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 2 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 ISO標準データ転送フォーマットに基づくSPMデータ処理プログラムの開発 第32回表面科学学術講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 3 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析 第53回真空に関する連合講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 4 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, XU, Mingsheng 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 5 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2012 6 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2011 1 大西 桂子, 藤田 大介 ナノ線幅計測のためのAFM像探針形状効果補正 第31回表面科学学術講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2011 2 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工 日本顕微鏡学会学術講演会（第67回） 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2010 1 藤田 大介, 岩崎 多摩樹, 徐 明生, 大西 桂子 International Standardization of Nanoscale Measurement and Characterization 第20回日本MRS学術シンポジウム 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2010 2 FUJITA, Daisuke, KUMAKURA, Tsuyako, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke 18th International Vacuum Congress 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2010 3 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko 13th International Conference on Non-Contract Atomic Force Micro 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2009 1 大西桂子 ＡＦＭ像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較 第50回真空に関する連合講演会 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2009 2 藤田 大介, 大西 桂子 イオン電子同時照射によるSi酸化膜/Si(001)基板のナノ切削加工 第３回バイオ・ナノテクフォーラムシンポジウム 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2009 3 藤田 大介, 徐 明生, 大西 桂子, 高建華, 鷺坂 恵介 Formation of Graphene Layers and Related Nano-Carbons on C-doped Metal Surfaces by Bulk-to-Surface Precipitation 9th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2008 1 郭 新立, 大西 桂子, 藤田 大介 STM-induced photon emission from nanoscale surfaces of GaAs and Ag film using a metal/ITO dual layer coated fiber probe 8th International Conference on Nano-Molecular Electronics 2024-04-23 16:11:10 +0900 Presentation 2008 2 大西 桂子, 藤田 大介 Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images using Given-shape Nano-structure The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 3 郭 新立, Shimada, 大西 桂子, Kitajima, 藤田 大介 Self-assembled Au nanoparticle structures on highly ordered pyrolytic graphite wafer International Symposium on Surface Science and Nanotechnology 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 4 藤田 大介, 大西 桂子 イオン照射下における電子ビーム走査による微細加工 VACUUM2008 第30回真空展 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 5 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, XU, Mingsheng AFM画像補正アルゴリズムの開発とナノ材料への応用 第69回応用物理学会学術講演会 シンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 6 大西 桂子, 藤田 大介 直方体ナノ構造を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正 第69回応用物理学会学術講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 7 大西 桂子, 藤田 大介 球状ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正 第55回応用物理学関連連合講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2008 8 FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, MIYAZAWA, Kunichi Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy 8th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 1 大西 桂子, 藤田 大介 Novel Image Restoration Method for SPM Topography Data Containing Tip-induced Distortions using Standard Nanospheres 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 2 郭 新立, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 3 FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko Standardization of Three-dimensional Topography Imaging 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 4 大西桂子 ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果の補正 第48回真空に関する連合講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 5 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 Dopant-related photon emission induced by scanning tunneling microscope from the surface of GaAs(110) 9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 6 大西 桂子, 藤田 大介 ＡＦＭ探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測 第27回表面科学講演大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 7 大西 桂子, 藤田 大介 SiO2薄膜の電子線援用スパッタリングによる微細加工の試み 第68回応用物理学会学術講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 8 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 9 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, KUMAKURA, Tsuyako Novel Nano-carbons Synthesized by Surface Precipitation in Ultrahigh Vacuum International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 10 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 北原 昌代 Practical Image Restoration Method for Scanning Probe Microscopy International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 11 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 Photon emission induced from nanoscale surfaces of semiconductors by a scanning tunneling microscope using a conductive optical fiber probe International Conference on Nanoscience & Technology, China 2007 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 12 リヒテローヴァ イワーナ, 藤田 大介, 大西 桂子, Jiri Pavlu, Jana Safrankova, Zdenek Nemecek Modification of spherical dust grain structure: Laboratory simulation AGU Spring 2007 Joint Assembly 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 13 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 低次元カーボンナノ構造被膜の創製・評価と応用 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 14 大西 桂子, 藤田 大介 SiO2薄膜の電子線照射による微細加工技術の開発 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2007 15 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子 Characterization and Application of Novel Nano-carbons Synthesized by 7th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 1 大西 桂子, 藤田 大介 プローブ先端形状とＡＦＭ像からのノイズの影響を考慮した実表面形状の推測 第26回表面科学講演大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 2 大西桂子 SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用 第47回 真空に関する連合講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 3 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製とSPM応用 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 4 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 N-GaAs(110) ナノ表面のSTM誘起発光 The tenth ISSP International Symposium　on Nanoscience at Surfac 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 5 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko 2nd Int. Symp. Standard Materials & Metrology for Nanotechnology 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 6 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 走査型トンネル顕微鏡によるナノ構造創製と量子効果 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2006 7 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法による酸化物超薄膜の電子線誘起還元の評価 第１５回インテリジェント材料／システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 1 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 走査型オージェ顕微鏡およびファクターアナリシスによるSiO2/Si超薄膜の電子線誘起還元過程の解析 第２５回表面科学講演大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 2 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価 第４６回真空に関する連合講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 3 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析 2005年度 実用表面分析講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 4 大西 桂子, 藤田 大介 第6回インテリジェント材料・システム国際会議 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 5 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測 日本顕微鏡学会第61回学術講演会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 6 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見 日本物理学会2005年春季大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 7 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 固溶炭素の表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 8 大西 桂子, 藤田 大介 ファクターアナリシスによる酸化物／半導体表面の電子線照射効果の評価 第14回インテリジェント材料／システムシンポジウム 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2005 9 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 応力歪場印加可能な原子分解能走査トンネル顕微鏡の開発 第52回応用物理学関係連合講演会　　　　　　 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 1 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke Si(100)表面における応力誘起ナノ構造制御のSTM解析 第15回日本MRS学術シンポジウム　　　　　　 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 2 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 金属的なナノドットやナノワイヤの創製のためのSTM探針 1st International Symposium on the Functionality of Organized Na 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 3 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価 第24回表面科学講演大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 4 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 超高真空応力歪場環境原子分解能2探針走査プローブ顕微鏡の開発 第24回表面科学講演大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 5 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, NIORI, NORIKO 導電性光ファイバープローブを用いた低温走査トンネル顕微鏡によるp型GaAs(110)表面のトンネル電子誘起発光マッピング 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 6 藤田 大介, 大西 桂子, 新居 周子 p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測 日本物理学会第59回年次大会 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 7 藤田 大介, 大西 桂子, 肖 占文, 徐 明祥, 鷺坂 恵介, 大木 泰造 極限環境におけるナノ構造の創製と評価 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム（JAPAN NANO 2004） 2024-04-23 16:11:11 +0900 Presentation 2004 8 大西 桂子, 藤田 大介 The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields 2024-04-23 16:11:11 +0900