HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress. 2007.NIMS著者藤田 大介大西 桂子鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:06:50 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:56:00 +0900