HOME > 口頭発表 > 書誌詳細多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 2005年度 実用表面分析講演会. 2005.NIMS著者大西 桂子藤田 大介木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 03:28:05 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:27:51 +0900