HOME > 論文 > 書誌詳細Electron Beam Effects on AES Depth Profiling of SiO2 Thin Film on Si(001): a Factor Analysis StudyFUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, YAKABE, Taro, Kazuhiro Yoshihara. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 13 [2] 190-199. 2006.NIMS著者藤田 大介大西 桂子矢ヶ部 太郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 15:03:45 +0900 更新時刻 :2018-12-15 00:02:29 +0900