HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工(Measurement and patterning of graphene using scanning helium ion microscope)大西 桂子, グオ ホングゥアン, 藤田 大介. 日本顕微鏡学会学術講演会(第67回). 2011.NIMS著者大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:37:54 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:04:43 +0900