走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工
(Measurement and patterning of graphene using scanning helium ion microscope)
日本顕微鏡学会学術講演会（第67回）. 2011.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:37:54 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:04:43 +0900