HOME > Presentation > Detail
走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工
(Measurement and patterning of graphene using scanning helium ion microscope)
日本顕微鏡学会学術講演会（第67回）. May 16, 2011-May 18, 2011.
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2017-01-08 04:37:54 +0900Updated at: 2017-07-10 21:04:43 +0900