HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価(Evaluation of Electron Irradiation Damage on SiO2/Si by Factor Analysis.)大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 第24回表面科学講演大会. 2004.NIMS著者大西 桂子藤田 大介木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:28:55 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:09:35 +0900