HOME > 論文 > 書誌詳細走査型トンネル顕微鏡によるナノ創製とナノ計測の融合:アクティブ・ナノ計測(Fusion of Nanofabrication and Nanocharacterization Using Scanning Tunneling Microscopy: Active Nano-Characterization)藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 11 [3] 188-195. 2004.NIMS著者藤田 大介大西 桂子鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 14:36:08 +0900更新時刻: 2018-12-15 00:02:39 +0900