In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope
(ヘリウムイオン顕微鏡における電位分布観察のためのin situ 電圧印加機構)
ACSIN-14. 2018年10月21日-2018年10月25日.
NIMS著者
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作成時刻: 2019-03-04 09:36:19 +0900 更新時刻: 2019-03-04 09:36:19 +0900