Reconstruction of atomic force microscopy image by using nanofabricated tip characterizer toward the actual sample surface topography

著者	Mingsheng Xu, Daisuke Fujita, Keiko Onishi.
掲載誌名	Review of Scientific Instruments 80 [4] 043703 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY
出版社
発表年	2009
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.3115182
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