HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005年06月01日-2005年06月03日. 招待講演NIMS著者大西 桂子鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:30:46 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:40:39 +0900
