HOME > Presentation > Detail走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. June 01, 2005-June 03, 2005. InvitedNIMS author(s)ONISHI, KeikoSAGISAKA, KeisukeFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:30:46 +0900 Updated at: 2024-03-05 11:40:39 +0900